Temperature dependent evolution of the local electronic structure of atmospheric plasma treated carbon nanotubes: Near edge x-ray absorption fine structure study

Journal of Applied Physics

Volumn 100, Issue 5, 2006, Pages

  Roy, S S ^a   Papakonstantinou, P ^a   Okpalugo, T I T ^a   Murphy, H ^a  

^a UNIVERSITY OF ULSTER   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AMMONIA; DIELECTRIC PROPERTIES; ELECTRIC DISCHARGES; PLASMA THEORY; THERMAL EFFECTS; X RAY ANALYSIS;

DIELECTRIC BARRIER DISCHARGE PLASMA; FUNCTIONAL GROUPS; NEAR EDGE X-RAY ABSORPTION FINE STRUCTURE (NEXAFS); TABULAR STRUCTURE;

CARBON NANOTUBES;

EID: 33748848086     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2260821     Document Type: Article

References (43)

1. U. Dettlaff-Weglikowska, J. M. Benoit, P. W. Chiu, R. Graupner, S. Lebedkin, and S. Roth, Curr. Appl. Phys. 2, 497 (2002).
2. J. L. Bahr, J. P. Yang, D. V. Kosynkin, M. J. Bronikowski, R. E. Smalley, and J. M. Tour, J. Am. Chem. Soc. 123, 6536 (2001).
3. M. J. O'Connell et al. Chem. Phys. Lett. 342 265 (2001).
4. Q. D. Chen, L. M. Dai, M. Gao, S. M. Huang, and A. Mau, J. Phys. Chem. B 105, 618 (2001).
5. B. N. Khare et al., J. Phys. Chem. B 108, 8166 (2004).
6. B. N. Khare, P. Wilhite, and M. Meyyappan, Nanotechnology 15, 1650 (2004).
7. T. I. T. Okpalugo, P. Papakonstantinou, H. Murphy, J. McLaughlin, and N. M. D. Brown, Carbon 43, 2951 (2005).
8. R. Czerw et al., Nano Lett. 1, 457 (2001).
9. B. Khane, P. Wilhite, B. Tran, E. Teixeira, K. Fresquez, D. N. Mvondo, C. Bauschlicher, and M. Meyyappan, J. Phys. Chem. B 109, 23466 (2004);
10. T. I. T. Okpalugo, P. Papakonstantinou, H. Murphy, J. McLaughlin, and N. M. D. Brown, Carbon 43, 153 (2005).
11. L. H. Chan, K. H. Hong, D. Q. Xiao, T. C. Lin, S. H. Lai, W. J. Hsieh, and H. C. Shih, Phys. Rev. B 70, 125408 (2004).
12. S. Point, T. Minea, B. B. Fabre, A. Granier, and G. Turban, Diamond Relat. Mater. 14, 891 (2005).
13. W Q. Han et al., Appl. Phys. Lett. 77, 1807 (2000).
14. S. H. Lim, H. I. Elim, X. Y. Gao, A. T. S. Wee, W. Ji, J. Y. Lee, and J. Lin, Phys. Rev. B 73 045402 (2006).
15. M. Terrones, R. Kamalakaran, T. Seeger, and M. Rühle, Chem. Commun. (Cambridge) 23 2335 (2000).
16. S. S. Roy, R. McCann, P. Papakonstantinou, J. A. McLaughlin, I. W. Kirkman, S. Bhattacharyya, and S. P. R. Silva, J. Appl. Phys. 99, 043511 (2006);
17. R. McCann et al., Diamond Relat. Mater. 14, 1057 (2005).
18. R. McCann, S. S. Roy, P. Papakonstantinou, M. F. Bain, H. S. Gamble, and J. A. McLaughlin, Thin Solid Films 482, 34 (2005).
19. S. Bhattacharyya, M. Lubbe, P. R. Bressler, D. R. T. Zahn, and F. Richter, Diamond Relat. Mater. 11, 8 (2002).
20. N. Mubumbila, B. Bouchet-Fabre, C. Godon, C. Marhic, B. Angleraud, P. Y. Tessier, T. Minea, and F. Richter, Diamond Relat. Mater. 13, 1433 (2004).
21. I. Shimoyama, G. H. Wu, T. Sekiguchi, and Y. Baba, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 114, 841 (2001).
22. J. Casanovas, J. M. Ricart, J. Rubio, F. Illas, and J. M. Jimenez-Mateos, J. Am. Chem. Soc. 118, 8071 (1996).
23. S. P. R. Silva, and V. Stolojan, Thin Solid Films 488, 283 (2005).
24. M. Knupfer, Surf. Sci. Rep. 42, 1 (2001).
25. A. Braun, F. E. Huggins, N. Shah, Y. Chen, S. Wirick, S. B. Mun, C. Jacobsen, and G. P. Huffman, Carbon 43, 117 (2005).
26. E. G. Rightor et al., J. Phys. Chem. B 101, 1950 (1997).
27. H. Murphy, P. Papakonstantinou, and T. I. T. Okpalugo, J. Vac. Sci. Technol. B 24 715 (2006).
28. T. I. T. Okpalugo, P. Papakonstantinou, H. Murphy, J. A. McLaughlin, and N. M. D. Brown (unpublished).
29. S. E. Baker, W. Cai, T. L. Lasseter, K. P. Weidkamp, and R. J. Hamers, Nano Lett. 2, 1413 (2002);
30. S. E. Baker, K. Y. Tse, E. Hindin, B. M. Nichols, T. L. Clare, and R. J. Hamers, Chem. Mater. 17, 4971 (2005).
31. W. W. Chen, C. H. Tzang, J. X. Tang, M. S. Yang, and S. T. Lee, Appl. Phys. Lett. 86, 103114 (2005).
32. D. A. Outka and J. Stohr, J. Chem. Phys. 88, 3539 (1988).
33. G. A. Abbas, S. S. Roy, P. Papakonstantinou, and J. McLaughlin, Carbon 43, 303 (2005).
34. S. Banerjee, T. H. Benny, M. Balasubramanian, D. A. Fischer, J. A. Misewich, and S. S. Wong, Chem. Commun. (Cambridge) 7, 772 (2004);
35. T. Hemraj-Benny et al., Small 2, 26 (2006).
36. A. Kuznetsova et al., J. Am. Chem. Soc. 123, 10699 (2001).
37. A. Felten, C. Bittencourt, J. J. Pireaux, G. Van Lier, and J. C. Charlier, J. Appl. Phys. 98, 074308 (2005).
38. J. H. Yang et al., J. Vac. Sci. Technol. B 23, 930 (2005).
39. R. Gago, I. Jimenez, J. Neidhardt, B. Abendroth, I. Caretti, L. Hultman, and W. Moller, Phys. Rev. B 71, 125414 (2004).
40. H. C. Choi, S. Y. Bae, J. Park, K. Seo, C. Kim, B. Kim, H. J. Song, and H. J. Shin, Appl. Phys. Lett. 85, 5742 (2004);
41. H. C. Choi, S. Y. Bae, W. S. Jang, J. Park, H. J. Song, H. J. Shin, H. Jung, and J. P. Ahn, J. Phys. Chem. B 109, 1683 (2005);
42. H. C. Choi, J. Park, and B. Kim, J. Phys. Chem. B ibid. 109, 4333 (2005).
43. R. Revel, D. Bazin, P. Parent, and C. Laffon, Catal. Lett. 74, 189 (2001).