Distribution and structure of N atoms in multiwalled carbon nanotubes using variable-energy X-ray photoelectron spectroscopy

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 109, Issue 10, 2005, Pages 4333-4340

  Choi, Hyun Chul ^a   Park, Jeunghee ^a   Kim, Bongsoo ^b  

^a Korea University   (South Korea)

^b Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AGGLOMERATION; CARBON NANOTUBES; CRYSTAL GROWTH; DIFFUSION; DOPING (ADDITIVES); ELECTRON ENERGY LOSS SPECTROSCOPY; ELECTRONIC STRUCTURE; INTERCALATION COMPOUNDS; MOLECULAR STRUCTURE; NICKEL COMPOUNDS; NITROGEN COMPOUNDS; PHOTONS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

NICKEL PHTHALOCYANINE (NIPC); PHOTON ENERGY; VARIABLE-ENERGY X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; X-RAY ABSORPTION NEAR-EDGE STRUCTURES (XANES);

ATOMIC PHYSICS;

EID: 15944379283     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0453109     Document Type: Article

References (55)

1. Treacy. M. M. J.; Ebbesen. T. W.; Gibson. J. M. Nature 1996, 381, 678.
2. Odom, T. W.; Huang, J.-L.; Kim, P.; Lieber, C. M. Nature 1998, 391, 62.
3. Saito, Y.; Hamaguchi, K.; Hata, K.: Uchida, K.; Tasaka, Y.; Ikazaki, R; Yumura, M.; Kasuya, A.; Nishina, Y. Nature 1997, 389, 554.
4. Fan, S.; Chapline, M. G.; Franklin, N. R.; Tombler, T. W.; Cassell, A. M.; Dai, H. Science 1999, 283, 512.
5. Tans, S. J.: Alwin, R. M.; Verschueren, A. R. M.; Dekker, C. Nature 1998, 393, 49.
6. Rueckes, T.; Kim, K.; Joselevich, E: Tseng, G. Y.; Cheung, C.-L.; Lieber, C. M. Science 2000, 289, 94.
7. Bachtold, A.; Hadley, P.; Nakanishi, T.; Dekker, C. Science 2001, 294, 1317.
8. Liang, W.; Bockrath, M.; Bozovic, D.; Hafner, J. H.; Tinkham, M.; Park, H. Nature 2001, 411, 665.
9. Hamada, S.; Sawada, S.; Oshiyama, A. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 1579.
10. (a) Czerw, R.; Terrenes, M.; Charlier, J.-C.; Blase, X.; Foley, B.; Kamalakaran, R.; Grobert, N.; Terrenes, H.: Tekleab, D.; Ajayan, P. M.; Blau, W.; Ruble, M.; Carroll, D. L. Nona Lett. 2001, 1, 457.
11. (b) Terrones, M.; Ajayan, P. M.; Banhart, F.; Blase, X.; Carroll, D. L; Charlier, J. C.; Czerw, R.; Foley, B.; Grobert, N.; Kamalakaran, R.; Kohler-Redlich, Ph.; Ruble, M.; Seeger, T.; Terrenes, H. Appl. Phys. A 2002, 74, 355.
12. Casanovas, J.; Ricart, J. M.; Rubio, J.; Illas, F.; Jiménez- Mateos, J. M. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 8071.
13. Ripalda, J. M.; Román, E.; Díaz, N.; Galán, L.; Montera, I.; Comelli, G.; Baraldi, A.; Lizzit, S.; Goldoni, A.; Paolucci, G. Phys. Rev. B 1999, 60, R3705.
14. Shimoyaraa, I.; Wu, G.; Sekiguchi, T.; Baba. Y. Phys. Rev. B 2000, 62, R6053.
15. Shimoyama, I.; Wu, G.; Sekiguchi, T.; Baba, Y. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2001, 114-116, 841.
16. dos Santos, M. C.; Alvarez, F. Phys. Rev. B 1998, 55, 13918.
17. Miyamoto, Y.; Cohen, M. L.; Louie, S. G. Solid State Commun. 1997, 102, 605.
18. Terrones, M.; Kamalakaran, R.; Seeger, T.; Ruble, M. Chem. Commun. 2000, 2335.
19. Trasobares, S.: Stéphan. O.; Colliex, C.; Hug, G.; Hsu, W. K.; Kroto, H. W.; Walton, D. R. M. Eur. Phys. J. B. 2001, 22, 117.
20. Sen, R.; Satishkumar, B. C.; Govindaraj, A.: Harikumar, K. R.; Renganathan, M. K.; Rao, C. N. R. J. Mater. Chem. 1997, 7, 2335.
21. Terrones, M.; Redlich, P.; Grobert, N.; Trasobares, S.; Hsu, W. K.; Terrones, H.; Zhu, Y. Q.; Hare, J. P.; Reeves, C. L.; Cheetham, A. K.; Ruble, M.; Kroto, H. W.; Walton, D. R. M. Adv. Mater. 1999, 11, 655.
22. Wang, X.; Liu, Y.; Zhu, D.; Zhang, L.; Ma, H.; Yao, N.; Zhang, B. J. Phys. Chem. B 2002, 700, 2186.
23. Kudashov, A. G.; Okotrub, A. V.; Bulusheva, L. G.; Asanov, I. P.; Shubin, Yu. V.; Yudanov, N. F.; Yudanova, L. I.; Danilovich, V. S.; Abrosimov, O. G. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 9048.
24. Jang, J. W.; Lee, C. E.; Lyu, S. C.; Lee, T. J., Lee, C. J. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 2877.
25. Tang, C.; Bando, Y.; Golberg, D.; Fu, F. Carbon 2004, 42, 2625.
26. Ban, W. Q.; Redlich, P.; Seeger, T.; Ernst, F.; Rühle, M.; Grobert, N.; Hsu, W. K.: Chang, B. H.; Zhu, Y. Q.: Kroto, H. W.; Walton, D. R. M.; Terrones, M.; Terrones, H. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 1807.
27. Suenaga, K.; Yudasaka, N.; Colliex, C.; Iijima, S. Chem. Phys. Lett. 2000, 316, 365.
28. Lee, Y. T.; Kim, N. S.; Bae, S. Y.; Park, J.; Yu, S.-C.; Ryu, H.; Lee, H. J. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 12958.
29. Teo, B. K. EXAFS: Basic Principles and Data Analysis; Springer-Verlag: Berlin. 1986; p 92.
30. Kim, N. S.; Lee, Y. T.; Park, J.; Han, J. B.; Choi, Y. S.; Choi, S. Y.; Choo, J.; Lee, G. H. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 9249.
31. Lee, M. K.; Shin, H.-J. Nucl. Instrum. Methods Phys. Rev. A 2001, 467-468, 508.
32. Shirley, D. A. Phys. Rev. B 1972, 5, 4709.
33. Tuinstra. F.; Koenig, J. L. J. Chem. Phys. 1970, 53, 1126.
34. Beshkov, G.; Dimitrov, D. B.: Georgiev, St.: Juan-Cheng, D.; Petrov, P.; Velchev, N.; Krastev, V. Diamond Relat. Mater. 1999, 8, 591.
35. Marton, D.; Boyd, K. J.; Al-Bayati, A. H.; Todorov, S. S.; Rabalais, J. W. Phys. Rev. Lett. 1994, 73, 118.
36. Souto, S.; Pickholz, M.; dos Santos, M. C.; Alvarez, F. Phys. Rev. B. 1998, 57, 2536.
37. Hellgren, N.; Johansson, M. P.; Broitman, E.; Hultman, L.; Sundgren, J.-E. Phys. Rev. B. 1999, 59, 5162.
38. Johansson, Å.; Stafström, S. J. Chem. Phys. 1999, 111, 3203.
39. Ohta, R.; Lee, K. H.; Saito, N.; Inoue, Y.; Sugimura. H.; Takai, O. Thin Solid Films 2003, 434, 296.
40. Brandle, C. R. J. Vac. Sci. Technol. 1976, 13 301.
41. Grunze, M. J.; Fuhler, J.; Neumann, M.; Brandle, C. R.; Auerbach, D. J.; Behm, J. Surf. Sci. 1984, 139, 109.
42. Björneholm, O.; Nilsson, A.; Sandell, A.: Hernnäs. B.; Mårtensson, N. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 1892.
43. Esaka, F.: Shimada, H.; Imamura, M.; Matsubayashi, N.; Kikuchi, T.; Furuya, K. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1999, 88-91, 817.
44. Chen, Z. Y.: Zhao, J. P.: Yano, T.; Ooie, T. J. Appl. Phys. 2002, 92, 281.
45. Suzuki, S.; Watanabe, Y.; Kiyokura, T.; Nath, K. G.; Ogino, T.; Heun, S.; Zhu, W.; Bower, C.: Zhou, O. Phys. Rev. B 2001, 63, 245418.
46. Suzuki, S.; Watanabe, Y.; Ogino, T.; Heun, S.; Gregoratti, L.; Barinov, A.; Kaulich, B.; Kiskinova. M.; Zhu, W.; Bower, C.; Zhou, O. Phys. Rev. B 2002, 66, 35415.
47. Lee, Y. T.; Kim, N. S.; Park, J.; Han, J. B.; Choi, Y. S.; Ryu, H.; Lee, H. J. Chem. Phys. Lett. 2003, 372, 853.
48. Schroeder, S. L. M.; Moggridge, G. D.; Ormerod, R. M.; Rayment, T.; Lambert, R. M. Surf. Sci. 1995, 324, L37I.
49. Choi, H. C.; Lee. M. K.; Shin, H. J.; Kim, S. B J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2003, 130, 85.
50. Owens, T. M.; Süzer, S.; Banaszak Holl, M. M. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 3177.
51. Nishizaki, K.; Nohira, H.; Takahashi, K.; Kamakura, N.; Takata, Y.; Shin, S.; Kobayashi, K.; Tamura, N.; Hikazutani, K.; Hattori, T. Appl. Surf. Sci. 2003, 216, 287.
52. Terrenes, M.; Terrones, H.; Grobert, N.; Hsu, W. K.; Zhu, Y. Q.; Hare, J. P.; Kroto, H. W.; Walton, D. R. M.; Kohler-Redlich. Ph.; Rühle. M.; Zhang, J. P.; Cheetham, A. K. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 3932.
53. Katayama, T.; Araki, H.; Yoshino, K. J. Appl. Phys. 2002, 91, 6675.
54. Wang, X.; Hu, W.; Liu, Y.; Long, C.; Xu, Y.; Zhou. S.; Zhu, D.; Dai, L. Carbon 2001, 39, 1533.
55. Massalski, T. B. Binary Alloy Phase Diagrams; American Society for Metals: Ohio, 1986.