Site affinity effects upon charge injection into siloxane-based monolayers

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 110, Issue 4, 2006, Pages 1506-1508

  Cohen, Hagai ^a   Zenkina, Olena V ^a   Shukla, Atindra D ^a   Van Der Boom, Milko E ^a  

^a WEIZMANN INSTITUTE OF SCIENCE   (Israel)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRIC VARIABLES MEASUREMENT; MOLECULAR DYNAMICS; MONOLAYERS; POLARIZATION;

ATOMIC SITES; INTRAMOLECULAR POLARIZATION; SILICON SUBSTRATE; SUBMOLECULAR ELECTRICAL UNITS;

SILICON COMPOUNDS;

EID: 32544436613     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0567164     Document Type: Article

References (30)

1. Aviram, A.; Ratner, M. A. Chem. Phys. Lett. 1974, 29, 211.
2. Salomon, A.; Cahen, D.; Lindsay, S.; Tomfohr, J.; Engelkes, V. B.; Frisbie, C. D. Adv. Mater. 2003, 15, 1881.
3. Cahen, D.; Hodes, G. Adv. Mater. 2002, 14, 789.
4. Fan, F.-R. F.; Yao, Y.; Cai, L.; Cheng, L.; Tour, J. M.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 4035.
5. Metzger, R. M. Chem. Rev. 2003, 103, 3803.
6. Tran, E.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43, 3835.
7. Zaslavsky, D.; Pakoulev, A.; Burtman, V. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 15815.
8. Zangmeister, C. D.; Robey, S. W.; van Zee, R. D.; Yao, Y.; Tour, J. M. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 16187.
9. Gershewitz, O.; Grinstein, M.; Sukenik, C. N.; Regev, K.; Ghabboun, J.; Cahen, D. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 664.
10. Cohen, H. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 1271.
11. Abbou, J.; Anne, A.; Demaille, C. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 10095.
12. Schreiber, F. J. Phys.: Condens. Matter 2004, 16, R881.
13. Holmlin, R. E.; Ismagilov, R. F.; Haag, R.; Mujica, V.; Ratner, M. A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. 2001, 40, 2316.
14. Onipko, A. I.; Berggren, K.-F.; Klymenko, Y. O.; Malysheva, L. I.; Rosink, J. J. W. M.; Geerlings, L. J.; van der Drift, E.; Radelaar, S. Phys. Rev. B 2000, 67, 11118.
15. Seminario, J. M.; Zacarias, A. G.; Tour, J. M. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 3970.
16. Ghosh, A. W.; Damle, P. S.; Datta, S.; Nitzan, A. MRS Bull. 2004, 29, 391.
17. Lau, W. M. Appl. Phys. Lett. 1989, 54, 338.
18. Miller, J. D.; Harris, W. C.; Zajac, G. W. Surf. Interface Anal. 1993, 20, 977.
19. Barr, T. L. J. Vac. Sci. Technol. 1989, A 7, 1677.
20. Cazaux, J. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1999, 105, 155.
21. Hofmann, S. Practical Surface Analysis, 2 ed.; Briggs, D., Seah, M. P., Eds.; Wiley: New York, 1990; Vol. 1, p 143.
22. Shabtai, K.; Rubinstein, I.; Cohen, S. R.; Cohen, H. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 4959.
23. Doron-Mor, I.; Hatzor, A.; Vaskevich, A.; van der Boom-Moav, T.; Shanzer, A.; Rubinstein, I.; Cohen, H. Nature 2000, 406, 382.
24. Cohen, H.; Nogues, C.; Zon, I.; Lubomirsky, I. J. Appl. Phys. 2005, 97, 113701.
25. Yoon, M.-H.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102, 4678.
26. Zhao, Y.-G.; Wu, A.; Lu, H.-L.; Chang, S.; Lu, W.-K.; Ho, S. T.; van der Boom, M. E.; Marks, T. J. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 587.
27. Chow, B. Y.; Mosley, D. W.; Jacobson, J. M. Langmuir 2005, 21, 4782.
28. Shukla, A. D.; Strawser, D.; Lucassen, A. C. B.; Freeman, D.; Cohen, H.; Jose, A. D.; Das, A.; Evmenenko, G.; Dutta, P.; van der Boom, M. E. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 17505.
29. Frydman, E.; Cohen, H.; Maoz, R.; Sagiv, J. Langmuir 1997, 13, 5089.
30. Yerushalmi, R.; Scherz, A.; van der Boom, M. E. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 2700.