Elastic modulus of amorphous SiO 2 nanowires

Applied Physics Letters

Volumn 88, Issue 4, 2006, Pages 1-3

  Ni, Hai ^a   Li, Xiaodong ^a   Gao, Hongsheng ^a  

^a The Department of Mechanical Engineering   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AMORPHOUS SIO2 NANOWIRES; THREE-POINT BENDING TEST;

ARGON; ATMOSPHERIC PRESSURE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; BRITTLE FRACTURE; NANOSTRUCTURED MATERIALS; PLASMA ENHANCED CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; SILICA; SYNTHESIS (CHEMICAL);

ELASTIC MODULI;

EID: 31544446090     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2165275     Document Type: Article

References (42)

1. P. M. Ajayan, Chem. Rev. (Washington, D.C.) 99, 1787 (1999).
2. Y-T Cheng, A. M. Weiner, C. A. Wong, M. P. Balogh, and M. J. Lukitsch, Appl. Phys. Lett. 81, 3248 (2002).
3. S. B. Sinnott and A. Andrews, Crit. Rev. Solid State Mater. Sci. 26, 145 (2001).
4. S. Iijima, Nature (London) 354, 56 (1991).
5. U. Landman, W. D. Luedtke, N. A. Burnham, and R. J. Colton, Science 248, 454 (1990).
6. M. F. Yu, O. Lourie, M. J. Dyer, K. Moloni, T. F. Kelly, and R. S. Rouff, Science 287, 637 (2000).
7. W. Z. Li, S. S. Xie, L. X. Qian, B. H. Chang, B. S. Zou, W. Y. Zhou, R. A. Zhao, and G. Wang, Science 274, 1701 (1996).
8. A. A. Puretzky, D. B. Geohegan, X. Fan, and S. J. Pennycook, Appl. Phys. Lett. 76, 182 (2000).
9. C. R. Martin, Science 266, 1961 (1994).
10. H. W. Zhu, C. L. Xu, D. H. Wu, B. Q. Wei, R. Vajtai, and P. M. Ajayan, Science 296, 884 (2002).
11. C. J. Otten, O. R. Lourie, M. F. Yu, J. M. Cowley, M. J. Dyer, R. S. Rouff, and W. E. Buhro, J. Am. Chem. Soc. 124, 4564 (2002).
12. S. H. Yun, A. Dibos, J. Z. Wu, and D. K. Kim, Appl. Phys. Lett. 84, 2892 (2004).
13. J. Niu, J. Sha, X. Y. Ma, J. Xu, and D. Yang, Chem. Phys. Lett. 367, 528 (2003).
14. W. S. Shi, H. Y. Peng, Y. F. Zheng, N. Wang, N. G. Shang, Z. W. Pan, C. S. Lee, and S. T. Lee, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 12, 1343 (2000).
15. Y. Yao, F. H. Li, and S. T. Lee, Chem. Phys. Lett. 406, 381 (2005).
16. J. D. Holmes, K. P. Johnston, R. C. Doty, and B. A. Korgel, Science 287, 1471 (2000).
17. B. Zheng, Y. Wu, P. Yang, and J. Liu, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 14, 122 (2002).
18. J. Q. Hu, Y. Jiang, X. M. Meng, C. S. Lee, and S. T. Lee, Chem. Phys. Lett. 367, 339 (2003).
19. Y. Q. Zhu, W. K. Hsu, M. Terrones, N. Grobert, H. Terrones, J. P. Hare, H. W. Kroto, and D. R. M. Walton, J. Mater. Chem. 8, 1859 (1998).
20. G. S. Cheng, L. D. Zhang, X. G. Zhu, S. H. Chen, Y. Li, Y. Zhu, and G. T. Fei, Nanostruct. Mater. 11, 421 (1999).
21. G. S. Cheng, L. D. Zhang, Y. Zhu, G. T. Fei, L. Li, C. M. Mo, and Y. Q. Mao, Appl. Phys. Lett. 75, 2455 (1999).
22. G. Fasol, Science 272, 1751 (1996).
23. Z. Q. Liu, S. S. Xie, L. F. Sun, D. S. Tang, W. Y. Zhou, C. Y. Wang, W. Liu, Y. B. Li, X. P. Zou, and G. Wang, J. Mater. Res. 16, 683 (2001).
24. X. C. Wu, W. H. Song, K. Y. Wang, T. Hu, B. Zhao, Y. P. Sun, and J. J. Du, Chem. Phys. Lett. 336, 53 (2001).
25. J. Niu, J. Sha, N. Zhang, Y. Ji, X. Ma, and D. Yang, Physica E (Amsterdam) 23, 1 (2004).
26. D. P. Yu, Q. L. Hang, Y. Ding, H. Z. Zhang, Z. G. Bai, J. J. Wang, Y. H. Zou, W. Qian, G. C. Xiong, and S. Q. Feng, Appl. Phys. Lett. 73, 3076 (1998).
27. M. Zhang, Y. Bando, L. Wada, and K. Kurashima, J. Mater. Sci. Lett. 18, 1911 (1999).
28. C. H. Liang, L. D. Zhang, G. W. Meng, Y. W. Wang, and Z. Q. Chu, J. Non-Cryst. Solids 277, 63 (2000).
29. X. Li, H. Gao, C. J. Murphy, and K. K. Caswell, Nano Lett. 3, 1495 (2003).
30. X. Li, X. Wang, Q. Xiong, and P. C. Eklund, Nano Lett. 5, 1982 (2005).
31. X. Li, H. Gao, C. J. Murphy, and L. Gou, Nano Lett. 4, 1903 (2004).
32. J. Salvetat, A. Kulik, J. Bonard, G. Briggs, T. Stöckli, K. Ḿt́nier, S. Bonnamy, and F. B́guin, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 11, 161 (1999).
33. B. Lukic, J. Seo, R. Bacsa, S. Delpeux, F. B́guin, G. Bister, A. Fonseca, J. Nagy, A. Kis, S. Jeney, A. Kulik, and L. Forró, Nano Lett. 5, 2074 (2005).
34. A. San Paulo, J. Bokor, R. Howe, R. He, P. Yang, D. Gao, C. Carraro, and R. Maboudian, Appl. Phys. Lett. 87, 053111 (2005).
35. B. Wu, A. Heidelberg, and J. J. Boland, Nat. Mater. 4, 525 (2005).
36. W. Ding, D. A. Dikin, X. Chen, R. D. Piner, R. S. Ruoff, E. Zussman, X. Wang, and X. Li, J. Appl. Phys. 98, 014905 (2005).
37. T. Namazu, Y. Isono, and T. Tanka, J. Microelectromech. Syst. 9, 450 (2000).
38. C. Tsou, Y. S. Huang, and H. C. Chang, NSTI-Nanotech. 3, 339 (2005).
39. B. Bhushan, Handbook of Nanotechnology (Springer, Berlin, 2004), p. 773.
40. X. Li, B. Bhushan, K. Takashima, C.-W. Baek, and Y.-Y Kim, Ultramicroscopy 97, 481 (2003).
41. I. Idris and O. Sugiura, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 37, 6562 (1998).
42. IEEE Trans. Electron Devices 25, 1249 (1978).