A force sensor for atomic point contacts

Review of Scientific Instruments

Volumn 76, Issue 10, 2005, Pages 1-5

  Valkering, A M C ^a   Mares, A I ^a   Untiedt, C ^a,b   Gavan, K Babaei ^a,c   Oosterkamp, T H ^a   Van Ruitenbeek, J M ^a  

^a LEIDEN UNIVERSITY   (Netherlands)

^b UNIVERSITY OF ALICANTE   (Spain)

^c DELFT UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMS; GOLD; MEASUREMENT THEORY; METALS; PLATINUM; STIFFNESS;

ATOMIC-SIZE CONTACTS; FORCE SENSOR; QUARTZ TUNING FORK RESONATOR;

POINT CONTACTS;

EID: 27544451287     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2084347     Document Type: Review

References (30)

1. For a review, see N. Agraït, A. Levy Yeyati, and J. M. van Ruitenbeek, Phys. Rep. 377, 81 (2003).
2. E. Scheer, P. Joyez, D. Esteve, C. Urbina, and M. H. Devoret, Phys. Rev. Lett. 78, 3535 (1997).
3. E. Scheer, N. Agraït, J. C. Cuevas, A. Levy Yeyati, B. Ludoph, A. Martín-Rodero, G. Rubio Bollinger, J. M. van Ruitenbeek, and C. Urbina, Nature (London) 394, 154 (1998).
4. J. K. Gimzewski and R. Möller, Physica B 36, 1284 (1987).
5. C. J. Muller, J. M. van Ruitenbeek, and L. J. de Jongh, Physica C 191, 485 (1992).
6. A. I. Yanson, G. Rubio-Bollinger, H. E. van den Brom, N. Agraït, and J. M. van Ruitenbeek, Nature (London) 395, 783 (1998).
7. A. I. Yanson, I. K. Yanson, and J. M. van Ruitenbeek Nature (London) 400, 144 1999.
8. U. Dürig, J. K. Gimzewski, and D. W. Pohl Phys. Rev. Lett. 57, 2403 (1986).
9. G. Rubio, N. Agraït, and S. Vieira, Phys. Rev. Lett. 76, 2302 (1996).
10. S. P. Jarvis, M. A. Lantz, H. Ogiso, H. Tokumoto, and U. Dürig, Appl. Phys. Lett. 75, 3132 (1999).
11. A. Stalder and U. Dürig, Appl. Phys. Lett. 68, 637 (1996).
12. G. Rubio-Bollinger, P. Joyez, and N. Agraït, Phys. Rev. Lett. 93, 116803 (2004).
13. G. Rubio-Bollinger, S. R. Bahn, N. Agraït, K. W. Jacobsen, and S. Vieira, Phys. Rev. Lett. 87, 026101 (2001).
14. M. R. Sorensen, M. Brandbyge, and K. W. Jacobsen, Phys. Rev. B 57, 3283 (1998).
15. F. J. Giessibl, Appl. Phys. Lett. 73, 3956 (1998).
16. F. J. Giessibl, Appl. Phys. Lett. 76, 1470 (2000).
17. W. H. J. Rensen, N. F. van Hulst, A. G. T. Ruiter, and P. E. West, Appl. Phys. Lett. 75, 1640 (1999).
18. J. Rychen, T. Ihn, P. Studerus, A. Herrmann, and K. Ensslin, Rev. Sci. Instrum. 70, 2767 (1999).
19. H. Edwards, L. Taylor, W. Duncan, and A. J. Melmed J. Appl. Phys. 82, 980 (1997).
20. K. Karrai and R. D. Grober, Proc. SPIE 2535, 69 (1995).
21. W. A. Atia and C. C. Davis, Appl. Phys. Lett. 70, 405 (1997).
22. F. J. Giessibl, S. Hembacher, H. Bielefeldt, and J. Mannhart, Science 289, 422 (2000).
23. Supplier: Farnell InOne, Nautilusweg 39, 3542 AT Utrecht, the Netherlands. Manufacturer: AEL CRYSTALS nr:4811-32 K768.
24. R. D. Grober, J. Acimovic, J. Schuck, D. Hessman, P. J. Kindlemann, J. Hespanha, A. S. Morse, K. Karrai, I. Tiemann, and S. Manus, Rev. Sci. Instrum. 71, 2776 (2000).
25. LABVIEW 6i, National Instruments, Austin, TX.
26. C. Schönenberger and S. F. Alvarado, Rev. Sci. Instrum. 60, 3131 (1989).
27. C. Untiedt, A. I. Yanson, R. Grande, G. Rubio-Bollinger, N. Agraït, S. Vieira, and J. M. van Ruitenbeek, Phys. Rev. B 66, 235416 (2002).
28. B. Ludoph, M. H. Devoret, D. Esteve, C. Urbina, and J. M. van Ruitenbeek, Phys. Rev. Lett. 82, 1530 (1999).
29. B. Ludoph and J. M. van Ruitenbeek, Phys. Rev. B 59, 12290 (1999).
30. A. M. C. Valkering, A. Mares, and J. M. van Ruitenbeek (unpublished).