Calculation of surface optical properties: From qualitative understanding to quantitative predictions

Thin Solid Films

Volumn 455-456, Issue , 2004, Pages 764-771

  Schmidt, W G ^a   Seino, K ^a   Hahn, P H ^a   Bechstedt, F ^a   Lu, W ^b   Wang, S ^b   Bernholc, J ^b  

^a FRIEDRICH SCHILLER UNIVERSITY JENA   (Germany)

^b NORTH CAROLINA STATE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

Density functional calculations; Reflectance anisotropy spectroscopy; Second harmonic generation; Semiconductor surfaces

Indexed keywords

ANISOTROPY; COMPUTATION THEORY; PROBABILITY DENSITY FUNCTION; REAL TIME SYSTEMS; REFLECTION HIGH ENERGY ELECTRON DIFFRACTION; SECOND HARMONIC GENERATION; SEMICONDUCTING GALLIUM ARSENIDE; SEMICONDUCTOR MATERIALS; SPECTRUM ANALYSIS;

REAL TIME SURFACE MONITORING; REFLECTANCE ANISOTROPY SPECTROSCOPY; SEMICONDUCTOR SURFACES;

OPTICAL FILMS;

EID: 2142715338     PISSN: 00406090     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.tsf.2003.11.263     Document Type: Conference Paper

References (74)

1. Cardona M., Pollak F.H., Shaklee K.L. J. Phys. Soc. Jpn. 21:(Suppl.):1966;89.
2. Chiaradia P., Cricenti A., Selci S., Chiarotti G. Phys. Rev. Lett. 52:1984;1145.
3. Olmstead M.A., Amer N.M. Phys. Rev. Lett. 52:1984;1148.
4. Aspnes D.E., Studna A.A. Phys. Rev. Lett. 54:1985;1956.
5. Berkovits V.L., Makarenko I.V., Minashvili T.A., Safarov V.I. Solid State Commun. 56:1985;449.
6. Kamiya I., Aspnes D.E., Tanaka H., Florez L.T., Harbison J.P., Bhat R. Phys. Rev. Lett. 68:1992;627.
7. Kamiya I., Aspnes D.E., Florez L.T., Harbison J.P. Phys. Rev. B. 46:1992;15894.
8. Dietz N., Rossow U., Aspnes D.E., Bachmann K.J. J. Electr. Mat. 24:1995;1571.
9. Zettler J., Haberland K., Zorn M., Pristovsek M., Richter W., Kurpas P., Weyers M. J. Cryst. Growth. 195:1998;151.
10. Kress C., Shkrebtii A.I., Del Sole R. Surf. Sci. 377:1997;398.
11. McIntyre J.D.E., Aspnes D.E. Surf. Sci. 24:1971;417.
12. Hingerl K., Aspnes D.E., Kamiya I., Florez L.T. Appl. Phys. Lett. 63:1993;885.
13. Bagchi A., Barrera R.G., Rajagopal A.K. Phys. Rev. B. 20:1979;4824.
14. Del Sole R. Solid State Commun. 37:1981;537.
15. Del Sole R., Fiorino E. Phys. Rev. B. 29:1984;4631.
16. Manghi F., Del Sole R., Selloni A., Molinari E. Phys. Rev. B. 41:1990;9935.
17. Shkrebtii A.I., Esser N., Richter W., Schmidt W.G., Bechstedt F., Fimland B.O., Kley A., Del Sole R. Phys. Rev. Lett. 81:1998;721.
18. Esser N., Shkrebtii A.I., Resch-Esser U., Springer C., Richter W., Schmidt W.G., Bechstedt F., Sole R.D. Phys. Rev. Lett. 77:1996;4402.
19. Santos P.V., Koopmans B., Esser N., Schmidt W.G., Bechstedt F. Phys. Rev. Lett. 77:1996;759.
20. Del Sole R., Girlanda R. Phys. Rev. B. 48:1993;11789.
21. Palummo M., Onida G., Del Sole R., Mendoza B.S. Phys. Rev. B. 60:1999;2522.
22. Kipp L., Biegelsen D.K., Northrup J.E., Swartz L.-E., Bringans R.D. Phys. Rev. Lett. 76:1996;2810.
23. Pulci O., Onida G., Del Sole R., Reining L. Phys. Rev. Lett. 81:1998;5374.
24. Wu C.H., Hanke W. Solid State Commun. 23:1977;829.
25. Mochán W.L., Barrera R.G. Phys. Rev. Lett. 55:1985;1192.
26. Mendoza B.S., Mochán W.L. Phys. Rev. B. 55:1997;2489.
27. Mendoza B.S., Del Sole R., Shkrebtii A.I. Phys. Rev. B. 57:1998;R12709.
28. Mantese L., Rossow U., Aspnes D.E. Appl. Surf. Sci. 107:1996;35.
29. Mantese L., Bell K.A., Rossow U., Aspnes D.E. J. Vac. Sci. Technol. B. 15:1997;1196.
30. Rossow U., Mantese L., Aspnes D.E. J. Vac. Sci. Technol. B. 14:1996;3070.
31. Mantese L., Bell K.A., Aspnes D.E., Rossow U. Phys. Lett. A. 253:1999;93.
32. Aspnes D.E., Mantese L., Bell K.A., Rossow U. Phys. Stat. Sol. (B). 220:2000;709.
33. Uwai K., Kobayashi N. Phys. Rev. Lett. 78:1997;959.
34. Lastras-Martinez L.F., Lastras-Martinez A. Phys. Rev. B. 54:1996;10726.
35. Lastras-Martinez A., Balderas-Navarro R.E., Lastras-Martinez L.F., Vidal M.A. Phys. Rev. B. 59:1999;10234.
36. Hingerl K., Balderas-Navarro R.E., Hilber W., Bonanni A., Stifter D. Phys. Rev. B. 62:2000;13048.
37. Hingerl K., Balderas-Navarro R.E., Bonanni A., Tichopadek P., Schmidt W.G. Appl. Surf. Sci. 175-176:2001;769.
38. Del Sole R., Onida G. Phys. Rev. B. 60:1999;5523.
39. Schmidt W.G., Bechstedt F., Bernholc J. Phys. Rev. B. 63:2001;045322.
40. Yasuda T., Mantese L., Rossow U., Aspnes D.E. Phys. Rev. Lett. 74:1995;3431.
41. Jaloviar S.G., Lin J.-L., Liu F., Zielasek V., McCaughan L., Lagally M.G. Phys. Rev. Lett. 82:1999;791.
42. Shioda R., van der Weide J. Phys. Rev. B. 57:1998;R6823.
43. Shioda R., van der Weide J. Appl. Surf. Sci. 130-132:1998;266.
44. Rossow U., Mantese L., Aspnes D.E., Bell K.A., Ebert M. Phys. Stat. Sol. B. 215:1999;725.
45. Shkrebtii A.I., Del Sole R. Phys. Rev. Lett. 70:1993;2645.
46. Gavrilenko V.I., Pollak F.H. Phys. Rev. B. 58:1998;12964.
47. Arzate N., Mendoza B.S. Phys. Rev. B. 63:2001;3303.
48. Briggs E.L., Sullivan D.J., Bernholc J. Phys. Rev. B. 54:1996;14362.
49. Schmidt W.G., Esser N., Frisch A.M., Vogt P., Bernholc J., Bechstedt F., Zorn M., Hannappel T., Visbeck S., Willig F., Richter W. Phys. Rev. B. 61:2000;R16335.
50. Schmidt W.G., Briggs E.L., Bernholc J., Bechstedt F. Phys. Rev. B. 59:1999;2234.
51. Schmidt W.G., Bernholc J., Bechstedt F. Appl. Surf. Sci. 166:2000;179.
52. P.H. Hahn, W.G. Schmidt, F. Bechstedt, O. Pulci, R. Del Sole, Phys. Rev. B (accepted).
53. Lu W., Schmidt W.G., Briggs E.L., Bernholc J. Phys. Rev. Lett. 85:2000;4381.
54. Dabrowski J., Müssig H.-J. Silicon Surfaces and Formation of Interfaces. 2000;World Scientific, Singapore.
55. Schmidt W.G., Bechstedt F., Lu W., Bernholc J. Phys. Rev. B. 66:2002;085334.
56. Chadi D.J. Phys. Rev. Lett. 59:1987;1691.
57. Schmidt W.G., Fattebert J.L., Bernholc J., Bechstedt F. Surf. Rev. Lett. 6:1999;1159.
58. Rohlfing M., Louie S.G. Phys. Rev. Lett. 83:1999;856.
59. Rohlfing M., Palummo M., Onida G., Del Sole R. Phys. Rev. Lett. 85:2000;5440.
60. Hahn P.H., Schmidt W.G., Bechstedt F. Phys. Rev. Lett. 88:2002;016402.
61. Schmidt W.G., Glutsch S., Hahn P.H., Bechstedt F. Phys. Rev. B. 67:2003;085307.
62. Wang S., Lu W., Schmidt W.G., Bernholc J. Phys. Rev. B. 68:2003;035329.
63. Sassella A., Borghesi A., Meinardi F., Tubono R., Gurioli M., Botta C., Porzio W., Barbarella G. Phys. Rev. B. 62:2000;11170.
64. Paraian A.M., Rossow U., Park S., Salvan G., Friedrich M., Kampen T.U., Zahn D.R.T. J. Vac. Sci. Technol. B. 19:2001;1658.
65. Lu W., Schmidt W.G., Bernholc J. Phys. Rev. B. 68:2003;115327.
66. Lopez A., Chen Q., Richardson N.V. Surf. Interface Anal. 33:2002;441.
67. Seino K., Schmidt W.G., Preuss M., Bechstedt F. J. Phys. Chem. B. 107:2003;5031.
68. Bergfeld S., Daum W. Phys. Rev. Lett. 90:2003;036801.
69. Adolph B., Bechstedt F. Phys. Rev. B. 57:1998;6519.
70. Hughes J.L.P., Sipe J.E. Phys. Rev. B. 53:1996;10751.
71. Downer M.C., Mendoza B.S., Gavrilenko V.I. Surf. Interface Anal. 31:2001;966.
72. Chang E.K., Shirley E.L., Levine Z.H. Phys. Rev. B. 65:2002;035205.
73. Mejia J.E., Mendoza B.S., Palummo M., Onida G., Del Sole R., Bergfeld S., Daum W. Phys. Rev. B. 66:2002;195329.
74. Powell G.D., Wang J.-F., Aspnes D.E. Phys. Rev. B. 65:2002;205320.