-
1
-
-
0002174663
-
-
U. Gösele, T. Y. Tan, M. Schultz, U. Egger, P. Werner, R. Scholz, and O. Breitenstein, Defect Diffus. Forum 143-147, 1079 (1997).
-
(1997)
Defect Diffus. Forum
, vol.143-147
, pp. 1079
-
-
Gösele, U.1
Tan, T.Y.2
Schultz, M.3
Egger, U.4
Werner, P.5
Scholz, R.6
Breitenstein, O.7
-
2
-
-
0041689871
-
-
U. Egger, M. Schultz, P. Werner, O. Breitenstein, T. Y. Tan, and U. Gösele, J. Appl. Phys. 81, 6056 (1997).
-
(1997)
J. Appl. Phys.
, vol.81
, pp. 6056
-
-
Egger, U.1
Schultz, M.2
Werner, P.3
Breitenstein, O.4
Tan, T.Y.5
Gösele, U.6
-
3
-
-
0000174334
-
-
M. Schultz, U. Egger, R. Scholz, O. Breitenstein, T. Y. Tan, and U. Gösele, J. Appl. Phys. 83, 5295 (1998).
-
(1998)
J. Appl. Phys.
, vol.83
, pp. 5295
-
-
Schultz, M.1
Egger, U.2
Scholz, R.3
Breitenstein, O.4
Tan, T.Y.5
Gösele, U.6
-
4
-
-
3342903767
-
-
R. F. Scholz, U. Gösele, O. Breitenstein, U. Egger, and T. Y. Tan, Solid State Phenom. 63-64, 183 (1998).
-
(1998)
Solid State Phenom.
, vol.63-64
, pp. 183
-
-
Scholz, R.F.1
Gösele, U.2
Breitenstein, O.3
Egger, U.4
Tan, T.Y.5
-
5
-
-
0000398729
-
-
G. Bösker, N. A. Stolwijk, H. Mehrer, U. Södervall, J. V. Thordson, T. G. Anderson, and A. Burchard, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 527, 347 (1998).
-
(1998)
Mater. Res. Soc. Symp. Proc.
, vol.527
, pp. 347
-
-
Bösker, G.1
Stolwijk, N.A.2
Mehrer, H.3
Södervall, U.4
Thordson, J.V.5
Anderson, T.G.6
Burchard, A.7
-
7
-
-
0026634584
-
-
O. Oda, H. Yamamoto, M. Seiwa, G. Kano, T. Inoue, M. Mori, H. Shimakura, and M. Oyake, Semicond. Sci. Technol. A 7, 215 (1992).
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(1992)
Semicond. Sci. Technol. A
, vol.7
, pp. 215
-
-
Oda, O.1
Yamamoto, H.2
Seiwa, M.3
Kano, G.4
Inoue, T.5
Mori, M.6
Shimakura, H.7
Oyake, M.8
-
12
-
-
36449004488
-
-
M. Uematsu, P. Werner, M. Schultz, T. Y. Tan, and U. Gösele, Appl. Phys. Lett. 67, 2863 (1995).
-
(1995)
Appl. Phys. Lett.
, vol.67
, pp. 2863
-
-
Uematsu, M.1
Werner, P.2
Schultz, M.3
Tan, T.Y.4
Gösele, U.5
-
13
-
-
0040568800
-
-
G. Bösker, N. A. Stolwijk, J. V. Thordson, U. Södervall, and T. G. Anderson, Phys. Rev. Lett. 81, 3443 (1998).
-
(1998)
Phys. Rev. Lett.
, vol.81
, pp. 3443
-
-
Bösker, G.1
Stolwijk, N.A.2
Thordson, J.V.3
Södervall, U.4
Anderson, T.G.5
-
14
-
-
85037448540
-
-
note
-
The measurements were carried out by the "RTG-Mikroanalyse" Co. Berlin.
-
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15
-
-
0000937157
-
-
U. Gösele, F. Morehead, W. Frank, and A. Seeger, Appl. Phys. Lett. 38, 157 (1981).
-
(1981)
Appl. Phys. Lett.
, vol.38
, pp. 157
-
-
Gösele, U.1
Morehead, F.2
Frank, W.3
Seeger, A.4
-
19
-
-
0031121916
-
-
J. Gebauer, R. Krause-Rehberg, C. Domke, P. Ebert, and K. Urban, Phys. Rev. Lett. 78, 3334 (1997).
-
(1997)
Phys. Rev. Lett.
, vol.78
, pp. 3334
-
-
Gebauer, J.1
Krause-Rehberg, R.2
Domke, C.3
Ebert, P.4
Urban, K.5
-
20
-
-
0032684550
-
-
N. Engler, H. S. Leipner, R. F. Scholz, P. Werner, and U. Gösele, Solid State Phenom. 69-70, 443 (1999).
-
(1999)
Solid State Phenom.
, vol.69-70
, pp. 443
-
-
Engler, N.1
Leipner, H.S.2
Scholz, R.F.3
Werner, P.4
Gösele, U.5
-
21
-
-
0033323454
-
-
H. S. Leipner, N. Engler, R. F. Scholz, F. Börner, and U. Gösele, Physica B 273-274, 697 (1999).
-
(1999)
Physica B
, vol.273-274
, pp. 697
-
-
Leipner, H.S.1
Engler, N.2
Scholz, R.F.3
Börner, F.4
Gösele, U.5
-
26
-
-
85037491191
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-
Ph.D. thesis, Universität Erlangen-Nürnberg
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B. Hoffmann, Ph.D. thesis, Universität Erlangen-Nürnberg, 1996.
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(1996)
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Hoffmann, B.1
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