-
1
-
-
36449004488
-
-
M. Uematsu, P. Werner, M. Schultz, T. Y. Tan, and U. Gösele, Appl. Phys. Lett. 67, 2863 (1995).
-
(1995)
Appl. Phys. Lett.
, vol.67
, pp. 2863
-
-
Uematsu, M.1
Werner, P.2
Schultz, M.3
Tan, T.Y.4
Gösele, U.5
-
2
-
-
0041689871
-
-
U. Egger, M. Schultz, P. Werner, O. Breitenstein, T. Y. Tan, and U. Gösele, J. Appl. Phys. 81, 6056 (1997).
-
(1997)
J. Appl. Phys.
, vol.81
, pp. 6056
-
-
Egger, U.1
Schultz, M.2
Werner, P.3
Breitenstein, O.4
Tan, T.Y.5
Gösele, U.6
-
3
-
-
0000174334
-
-
M. Schultz, U. Egger, R. Scholz, O. Breitenstein, T. Y. Tan, and U. Gösele, J. Appl. Phys. 83, 5295 (1998).
-
(1998)
J. Appl. Phys.
, vol.83
, pp. 5295
-
-
Schultz, M.1
Egger, U.2
Scholz, R.3
Breitenstein, O.4
Tan, T.Y.5
Gösele, U.6
-
4
-
-
3342903767
-
-
R. F. Scholz, U. Gösele, O. Breitenstein, U. Egger, and T. Y. Tan, Solid State Phenom. 63-64, 183 (1998).
-
(1998)
Solid State Phenom.
, vol.63-64
, pp. 183
-
-
Scholz, R.F.1
Gösele, U.2
Breitenstein, O.3
Egger, U.4
Tan, T.Y.5
-
5
-
-
0000398729
-
-
G. Bösker, N. A. Stolwijk, H. Mehrer, U. Södervall, J. V. Thordson, T. G. Anderson, and A. Burchard, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 527, 347 (1998).
-
(1998)
Mater. Res. Soc. Symp. Proc.
, vol.527
, pp. 347
-
-
Bösker, G.1
Stolwijk, N.A.2
Mehrer, H.3
Södervall, U.4
Thordson, J.V.5
Anderson, T.G.6
Burchard, A.7
-
6
-
-
0040568800
-
-
G. Bösker, N. A. Stolwijk, J. V. Thordson, U. Södervall, and T. G. Anderson, Phys. Rev. Lett. 81, 3443 (1998).
-
(1998)
Phys. Rev. Lett.
, vol.81
, pp. 3443
-
-
Bösker, G.1
Stolwijk, N.A.2
Thordson, J.V.3
Södervall, U.4
Anderson, T.G.5
-
10
-
-
0013226151
-
-
S. Nozaki, K. Takahashi, M. Shirahama, K. Nagao, J. Shirakashi, E. Tokumitsu, and M. Konagai, Appl. Phys. Lett. 62, 1913 (1993).
-
(1993)
Appl. Phys. Lett.
, vol.62
, pp. 1913
-
-
Nozaki, S.1
Takahashi, K.2
Shirahama, M.3
Nagao, K.4
Shirakashi, J.5
Tokumitsu, E.6
Konagai, M.7
-
12
-
-
85037510553
-
-
Ph.D. thesis. Technische Fakultät der Universität Erlangen-Nürnberg
-
B. Hoffmann, Ph.D. thesis. Technische Fakultät der Universität Erlangen-Nürnberg, 1996.
-
(1996)
-
-
Hoffmann, B.1
-
28
-
-
85037504678
-
-
note
-
The measurements were performed by the company "RTG-Mikroananlyse" in Berlin, Germany.
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-
-
-
30
-
-
0011809880
-
-
G. Bösker, H.-G. Hettwer, A. Rucki, N. A. Stolwijk, H. Mehrer, W. Jäger, and K. Urban, Mater. Chem. Phys. 42, 68 (1995).
-
(1995)
Mater. Chem. Phys.
, vol.42
, pp. 68
-
-
Bösker, G.1
Hettwer, H.-G.2
Rucki, A.3
Stolwijk, N.A.4
Mehrer, H.5
Jäger, W.6
Urban, K.7
-
32
-
-
0043192797
-
-
Ph.D. thesis, Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Germany
-
F. Scholz, Ph.D. thesis, Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg, Germany, 1999.
-
(1999)
-
-
Scholz, F.1
-
33
-
-
0041162966
-
-
G. Bösker, N. A. Stolwijk, H. Mehrer, U. Södervall, and W. Jäger, J. Appl. Phys. 86, 791 (1999).
-
(1999)
J. Appl. Phys.
, vol.86
, pp. 791
-
-
Bösker, G.1
Stolwijk, N.A.2
Mehrer, H.3
Södervall, U.4
Jäger, W.5
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