Probing organic layers on the TiO2(110) surface

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 109, Issue 10, 2005, Pages 4554-4560

  Foster, A S ^a   Gal, A Y ^b   Nieminen, R M ^a   Shluger, A L ^b  

^a AALTO UNIVERSITY   (Finland)

^b UNIVERSITY COLLEGE LONDON   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ACETIC ACID; CATALYSIS; CHEMICAL BONDS; DEFORMATION; DISSOCIATION; FLUORINE; HAMILTONIANS; MONOLAYERS; POLARIZATION; PROTONS; REACTION KINETICS;

CARBOXYLATE IONS; ORGANIC LAYERS; SCANNING FORCE MICROSCOPY; TRIFLUOROACETIC ACIDS;

TITANIUM DIOXIDE;

EID: 15944364362     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp045562     Document Type: Article

References (48)

1. Monta, S., Wiesendanger, R., Meyer, E., Eds. Noncontact Atomic Force Microscopy: Springer: Berlin, 2002.
2. Giessibl, F. J. Rev. Mod. Phys. 2003, 75, 949.
3. Hofer, W.; Foster, A. S.; Shluger, A. L. Rev. Mod. Phys. 2003, 75, 1287.
4. Barth, C.; Reichling, M. Nature 2001, 414, 54.
5. Barth, C.; Henry, C. R. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 196102.
6. Loppacher, C.; Guggisbcrg, M.; Pfeiffer, O.; Meyer, E.; Bammerlin, M.; Lüthi, R.; Schlittler, R.; Gimzewski, J. K.; Tang, H.; Joachim, C. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 066107.
7. Fujii, S.; Akiba, U.; Fujihira, M. Nanotechnology 2004, 15, S19.
8. Fukuma, T.; Ichii, T.; Kobayashi, K.; Yamada, H.; Matsushige, K. J. Appl. Phys. 2004, 95, 1222.
9. Fukui, K. I.; Onishi, H.; Iwasawa, Y. Chem. Phys. Lett. 1997, 280, 296.
10. Sasahara, A.; Uetsuka, H.; Onishi, H. Phys. Rev. B 2001, 64, 121406.
11. Sasahara, A.; Uetsuka, H.; Onishi, H. Surf. Sci. Lett. 2001, 481, L437.
12. Sasahara, A.; Uetsuka, H.; Onishi, H. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 1.
13. Onishi, H.; Sasahara, A.; Uetsuka, H.; Ishibashi, T. Appl. Surf. Sci. 2002, 188, 257.
14. Sasahara, A.; Uetsuka, H.; Ishibashi, T.; Onishi, H. Appl. Surf. Sci. 2002, 188, 265.
15. Sasahara, A.; Uetsuka, H.; Onishi, H. Langmuir 2003, 19, 7474.
16. Diebold, U. Surf. Sci. Rep. 2003, 48, 53.
17. Paxton, A. T.; Thiên-Nga, L. Phys. Rev. B 1998, 57, 1579.
18. Schaub, R.; Wahlström, E.; Rønnau, A.; Lægsgaard, E.; Stensgaard, E.; Besenbacher, F. Science 2003, 299, 377.
19. Foster, A. S.; Pakarinen, O. H.; Airaksinen, J. M.; Gale, J. D.; Nieminen, R. M. Phys. Rev. B 2003, 68, 195410.
20. Bates, S. P.; Kresse, G.; Gillan, M. J. Surf. Sci. 1998, 409, 336.
21. Lindan, P. J. D.; Harrison, N. M.; Gillan, M. J. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 762.
22. Muscat, J.; Harrison, N. M.; Thornton, G. Phys. Rev. B 1999, 59, 2320.
23. Brookes, I. M.; Muryn, C. A.; Thornton, G. Phys. Rev. Lett. 2001, 87, 266103.
24. Liu, G.; Rodriguez, J. A.; Chang, Z.; Hrbek, J.; González, L. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 9883.
25. Wahlström, E.; Lopez, N.; Schaub, R.; Thostrup, P.; Rønnau, A.; Africh, C.; Lægsgaard, E.; Nørskov, J. K.; Besenbacher, F. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 026101.
26. Rasmussen, M. D.; Molina, L. M.; Hammer, B. J. Chem. Phys. 2004, 120, 988.
27. Onishi, H.; Iwasawa, Y. Chem. Phys. Lett. 1994, 226, 111.
28. Chambers, S. A.; Thevuthasan, S.; Kim, Y. J.; Hermann, G. S.; Wang, Z.; Tober, E.; Ynzunza, R.; Morais, J. Chem. Phys. Lett. 1997, 267, 51.
29. Bates, S. P.; Kresse, G.; Gillan, M. J. Surf. Sci. 1998, 409, 336.
30. Käckell, P.; Terakura, K. Surf. Sci. 2000, 461, 191.
31. Guo, Q.; Cocks, I.; Williams, E. M. J. Chem. Phys. 1997, 106, 2924.
32. Gutiérrez-Sosa, A.; Martínez-Escolano, P.; Raza, H.; Lindsay, R.; Wincott, P. L.; Thornton, G. Surf. Sci. 2001, 471, 163.
33. Foster, A. S.; Nieminen, R. M. J. Chem. Phys. 2004, 121, 9039.
34. Junquera, J.; Paz, O.; Sánchez-Portal, D.; Artacho, E. Phys. Rev. B 2001, 64, 235111.
35. Soler, J. M.; Artacho, E.; Gale, J. D.; García, A.; Junquera, J.; Ordeón, P.; Sánchez-Portal, D. J. Phys.: Condens. Matter 2002, 14, 2745.
36. Perdew, J. P.; Burke, K.; Ernzerhof, M. Phys. Rev. Lett. 1996, 77, 3865.
37. Hammer, B.; Jacobsen, K. W.; Norskov, J. K. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 3971.
38. White, J. A.; Bird, D. M.; Payne, M. C.; Stich, I. Phys. Rev. Lett. 1994, 73, 1404.
39. Louie, S. G.; Froyen, S.; Cohen, M. L. Phys. Rev. B 1982, 26, 1738.
40. Giessibl, F. J.; Hembacher, S.; Bielefeldt, H.; Mannhart, J. Appl. Phys. A 2001, 72, 15.
41. Eguchi, T.; Hasegawa, Y. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 266105.
42. Foster, A. S.; Gal, A. Y.; Airaksinen, J. M.; Pakarinen, O. H.; Lee, Y. J.; Gale, J. D.; Shluger, A. L.; Nieminen, R. M. Phys. Rev. B 2003, 68, 195420.
43. Foster, A. S.; Gal, A. Y.; Gale, J. D.; Lee, Y. J.; Nieminen, R. M.; Shluger, A. L. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 036101.
44. Pérez, R.; Payne, M. C.; Stich, I.; Terakura, K. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 678.
45. Lantz, M. A.; Hug, H. J.; van Schendel, P. J. A.; Hoffmann, R.; Martin, S.; Baratoff, A.; Abdurixit, A.; Güntherodt, H. J.; Gerber, C. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 2642.
46. Ke, S. H.; Uda, T.; Pérez, R.; Stich, I.; Terakura, K. Phys. Rev. B 1999, 60, 11631.
47. Hoffmann, R.; Barth, C.; Foster, A. S.; Shluger, A. L.; Hug, H. J.; Güntherodt, H. J.; Nieminen, R. M.; Reichling, M. 2004, to be submitted for publication.
48. Humphrey, W.; Dalke, A.; Schulten, K. J. Mol. Graphics 1996, 14, 33.