Initial growth characterization of Au thin films on SnOx substrate by in situ conductivity measurement

Journal of the Electrochemical Society

Volumn 151, Issue 12, 2004, Pages

  Lee, Deuk Yeon ^a   Song, Seok Kyun ^b   Koh, Seok Keun ^c   Baik, Hong Koo ^a   Song, Kie Moon ^d  

^a Yonsei University   (South Korea)

^b UION Corporation   (South Korea)

^c Korea Institute of Science and Technology   (South Korea)

^d Konkuk University   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRYSTALLINE MATERIALS; ELECTRIC CONDUCTIVITY; FILM GROWTH; GOLD; IRRADIATION; SUBSTRATES; SURFACE PROPERTIES; TIN COMPOUNDS;

ADATOMS; GROWTH CHARACTERIZATION; ION BEAM ENERGY; SURFACE MOBILITY;

THIN FILMS;

EID: 10944253161     PISSN: 00134651     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1149/1.1813672     Document Type: Article

References (34)

1. D. Y. Lee, Y. H. Kim, I. K. Kim, and H. K. Baik, Thin Solid Films, 355-356, 239 (1999).
2. A. M. Chaparro, M. A. Martinez, C. Guillen, R. Baon, M. T. Gutierrez, and J. Herrero, Thin Solid Films, 361-362, 177 (2000).
3. M. Kondo, Y. Toyoshima, and A. Matsuda, J. Appl. Phys., 80, 6061 (1996).
4. P. B. Mirkarimi, K. F. McCarty, G. F. Cardinale, D. L. Medlin, D. K. Ottesen, and H. A. Johnsen, J. Vac. Sci. Technol. A, 14, 251 (1996).
5. U. Diebold, J. M. Pan, and T. E. Madey, Surf. Sci., 331-333, 845 (1995).
6. T. Wagner, J. Marien, and G. Duscher, Thin Solid Films, 398-399, 419 (2001).
7. G. Cheng, S. Xu, and D. Ye, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B, 135, 545 (1998).
8. B. Ealet and E. Gillet, Surf. Sci., 367, 221 (1996).
9. I. Hodgkinson, J. Hazel, and Q. H. Wu, Thin Solid Films, 313, 368 (1998).
10. E. Steinsland, T. Finstad, and A. Hannebor, J. Electrochem. Soc., 146, 3890 (1999).
11. C. Faure, A. Derre, and W. Neri, J. Phys. Chem. B, 107, 4738 (2003).
12. S. K. Song, H. J. Jung, S. K. Koh, and H. K. Baik, Appl. Phys. Lett., 71, 850 (1997).
13. S. K. Song, S. K. Koh, D. Y. Lee, and H. K. Baik, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2, 43, L15 (2004).
14. E. S. Byon, T. W. H. Oates, and A. Anders, Appl. Phys. Lett., 82, 1634 (2003).
15. E. V. Barnat, D. Nagakura, P.-I. Wang, and T.-M. Lu, J. Appl. Phys., 91, 1667 (2002).
16. B. L. Low, F. R. Zhu, K. R. Zhang, and S. J. Chua, Thin Solid Films, 417, 116 (2002).
17. B. Janczuk, A. Zdziennicka, and W. Wojcik, Eur. Polym. J., 33, 1093 (1997).
18. J. E. Gray, P. R. Norton, and K. Griffiths, Appl. Surf. Sci., 217, 210 (2003).
19. P. Nowak, N. S. McIntyre, D. H. Hunter, I. Bello, and W. M. Lau, Surf. Interface Anal., 23, 873 (1995).
20. S. K. Song, W. K. Choi, J. S. Cho, H. J. Jung, D. S. Choi, J. Y. Lee, H. K. Baik, and S. K. Koh, Jpn. J. Appl. Phys., Part I, 36, 2281 (1997).
21. S. K. Song, D. I. Kim, S. Kim, S. K. Koh, H. J. Jung, J. Y. Lee, and H. K. Baik, J. Mater. Res., 15, 1911 (2000).
22. S. K. Song, J. S. Cho, W. K. Choi, H. J. Jung, D. S. Choi, J. Y. Lee, H. K. Baik, and S. K. Koh, Sens. Actuators B, 46, 42 (1998).
23. S. K. Song, Phys. Rev. B, 60, 11137 (1999).
24. G. V. Samsonov, The Oxide Handbook, p. 402, IFI/PLENUM, New York (1982).
25. J. J. Cuomo, S. M. Rossnagel, and H. R. Kaufman, Handbook of Ion Beam Processing Technology, p. 176, Noyes Publications, Park Ridge, NJ (1989).
26. S. K. Koh, Y.-B. Son, J.-S. Gam, C.-J. Kim, W. K. Choi, and H.-J. Jung, Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 396, 261 (1996).
27. S. K. Koh, S. K. Song, W. K. Choi, H.-J. Han, and S. N. Han, J. Mater. Res., 10, 2390 (1995).
28. B. Zhu, H. Iwata, I. Hirata, and Y. Ikada, J. Adhes. Sci. Technol. 14, 351 (2000).
29. J. S. Cho, Y. W. Beag, S. Han, K. H. Kim, J. Cho, and S. K. Koh, Surf. Coat. Technol., 128-129. 66 (2000).
30. O. Kitakami, S. Okamoto, and Y. Shimada, J. Appl. Phys., 79, 6880 (1996).
31. C. L. Lin, P. S. Chen, and M. C. Chen. J. Electrochem. Soc., 149, C237 (2002).
32. E. Byon, T. W. H. Oates, and A. Anders, Appl. Phys. Lett., 82, 1634 (2003).
33. J. Oviedo and M. J. Gillan, Surf. Sci., 463, 93 (2000).
34. B. Slater, C. R. Catlow, D. H. Gay, D. E. Williams, and V. Dusastre, J. Phys. Chem. B, 103, 10644 (1999).