Contactless electroreflectance, in the range of 20 K (5) Huang, Y S a,d Pollak, Fred H a,e Park, S S b Lee, K Y b Morkoc H c a CITY UNIVERSITY OF NEW YORK (United States) b Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT) (South Korea) c Virginia Commonwealth University (United States) d NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY (Taiwan) e CITY UNIVERSITY OF NEW YORK (United States)

Journal of Applied Physics

Volumn 94, Issue 2, 2003, Pages 899-903

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

LEAST SQUARES APPROXIMATIONS; PARAMETER ESTIMATION; THERMAL EFFECTS; VAPOR PHASE EPITAXY;

ELECTROREFLECTANCE;

GALLIUM NITRIDE;

EID: 0042267311     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1582230     Document Type: Article

References (30)

1. H. Morkoç, Nitride Semiconductors and Devices (Springer, Heidelberg, 1999).
2. R. J. Molnar, R. Singh, and T. D. Moustakas, Appl. Phys. Lett. 66, 268 (1995).
3. M. A. Kahn, Microwave J. 36, 67 (1993).
4. S. C. Binari, K. Ikossi, J. A. Roussos, W. Kruppa, D. Park, H. B. Dietrich, D. D. Koleske, A. E. Wickenden, and R. L. Henry, IEEE Trans. Electron Devices 48, 465 (2001).
5. R. J. Molnar, W. Goetz, L. T. Romano, and N. M. Johnson, J. Cryst. Growth 178, 147 (1997).
6. A. J. Fischer, W. Shan, J. J. Song, Y. C. Chang, R. Horning, and B. Goldenberg, Appl. Phys. Lett. 71, 1981 (1997).
7. S. F. Chichibu, K. Torii, T. Deguchi, T. Sota, A. Setoguchi, H. Nakanishi, T. Azuhata, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 76, 1576 (2000).
8. J. F. Muth, J. H. Lee, I. K. Shmagin, R, M. Kolbas, H. C. Casey, Jr., B. P. Keller, U. K. Mishra, and S. P. DenBaars, Appl. Phys. Lett. 71, 2572 (1997).
9. K. Torii, T, Deguchi, T. Sota, K. Suzuki, S. Chichibu, and S. Nakamura, Phys. Rev. B 60, 4723 (1999).
10. R. Stepniewski, K. P. Korona, A. Wysmolek, J. M. Baranowski, K. Pakula, M. Potemski, G. Martinez, I. Grzegory, and S. Porowski, Phys. Rev. B 56, 15151 (1997).
11. W. Shan, B. D. Little, A. J. Fischer, J. J. Song, B. Goldenberg, W. G. Perry, M. D. Bremser, and R. F. Davis, Phys. Rev. B 54, 16369 (1996).
12. W. Shan, A. J. Fischer, S. J. Hwang, B. D. Little, R. J. Hauenstein, X. C. Xie, J. J. Song, D. S. Kim, B. Goldenberg, R. Horning, S. Krishnankutty, W. G. Perry, M. D. Bremser, and R. F. Davis. J. Appl. Phys. 83, 455 (1998).
13. C. F. Li, Y. S. Huang, L. Malikova, and F. H. Pollak, Phys. Rev. B 55, 9251 (1997).
14. Y. P. Varshni, Physica (Amsterdam) 34, 49 (1967).
15. P. Lantenschlager, M. Garriga, S. Logothetidis, and M. Cardona, Phys. Rev. B 34, 2458 (1986).
16. J. Lee, E. Koteles, and M. O. Vassell, Phys. Rev. B 33, 5512 (1986).
17. M. K. Kelly, R. P. Vaudo, V. M. Phanse, L. Gorgens, O. Ambacher, and M. Stulzmann, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 38, L217 (1999).
18. P. Visconti, K. M. Hones, M. A. Reshchikov, R Yun, R. Cingolani, H. Morkoç, S. S. Park, and K. Y. Lee, Appl. Phys. Lett. 77, 3743 (2000).
19. F. H. Pollak and H. Shen, Mater. Sci. Eng., R. 10, 275 (1999).
20. D. C. Reynolds, D. C. Look, W. Kim, O. Aktas, A. Botchkarev, A. Salvador, H. Morkoç, and D. N. Talwar, J. Appl. Phys. 80, 594 (1996).
21. See, for example, F. H. Pollak, in Group III Nitride Semiconductor Compounds: Physics and Applications, edited by B. Gil (Clarendon, Oxford, 1998), p. 158 and references therein.
22. S. F. Chichibu, A. Setoguchi, A. Uedono, K. Yoshimura, and M. Sumiya, Appl. Phys. Lett. 78, 28 (2000).
23. R. J. Elliott, Phys. Rev. 108, 1384 (1957).
24. W. Krystek, F. H. Pollak, Z. C. Feng, M. Schurman, and R. A. Stall, Appl. Phys. Lett. 72, 1353 (1998).
25. L. Malikova, Y. S. Huang, F. H. Pollak, Z. C. Feng, M. Schurman, and R. A. Stall, Solid State Commun. 103, 273 (1997).
26. P. Lantenschlager, M. Garriga, S. Logothetidis, and M. Cardona, Phys. Rev. B 35, 9174 (1987).
27. A. J. Fischer, W. Shan, G. H. Park, J. J. Song, D. S. Kim, D. S. Yee, R. Horning, and B. Goldenberg, Phys. Rev. B 56, 1077 (1997).
28. J. Petalas, S. Logothetidis, S. Boultadakis, M. Alouani, and J. M. Wills, Phys. Rev. B 52, 8082 (1995).
29. H. Qiang, F. H. Pollak, C. M. Sotomayor Torres, W. Leitch, A. H. Kean, M. Stroscio, G. J. Iafrate, and K. W, Kim, Appl. Phys. Lett. 61, 1411 (1992).
30. L. Malikova, W. Krystek, F. H. Pollak, N. Dai, A. Cavus, and M. C. Tamargo, Phys. Rev. B 54, 1819 (1996).