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Volumn 90, Issue 5, 2001, Pages 2303-2309

Atomic scale simulation of defect production in irradiated 3C-SiC

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EID: 0039436823     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1389523     Document Type: Article
Times cited : (223)

References (46)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.