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Volumn 283-287, Issue PART II, 2000, Pages 794-798

Molecular dynamics simulation of defect production in irradiated β-SiC

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EID: 0000328573     PISSN: 00223115     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0022-3115(00)00263-4     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.