Stacked low-growth-rate InAs quantum dots studied at the atomic level by cross-sectional scanning tunneling microscopy

Applied Physics Letters

Volumn 82, Issue 21, 2003, Pages 3758-3760

  Bruls, D M ^a   Koenraad, P M ^a   Salemink, H W M ^a   Wolter, J H ^a   Hopkinson, M ^b   Skolnick, M S ^b  

^a EINDHOVEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

^b UNIVERSITY OF SHEFFIELD   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DEFORMATION; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SELF ASSEMBLY; SEMICONDUCTING INDIUM GALLIUM ARSENIDE; SEMICONDUCTOR GROWTH; STACKING FAULTS; SURFACES;

SPACER LAYERS;

SEMICONDUCTOR QUANTUM DOTS;

EID: 0038305979     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1578709     Document Type: Article

References (18)

1. P. W. Fry, I. E. Itskevich, D. J. Mowbray, M. S. Skolnick, J. J. Finley, J. A. Barker, E. P. O'Reilly, L. R. Wilson, I. A. Larkin, P. A. Maksym, M. Hopkinson, M. Al-Khafaji, J. P. R. David, A. G. Cullis, G. Hill, and J. C. Clark, Phys. Rev. Lett. 84, 733 (2000).
2. A. Rosenauer, W. Oberst, D. Litvinov, D. Gerthsen, A. Förster, and R. Schmidt, Phys, Rev. B 61, 8276 (2000).
3. J. A. Barker and E. P. O'Reilly, Phys. Rev. B 61, 13840 (2000).
4. P. B. Joyce, T. J. Krzyzewski, G. R. Bell, B. A. Joyce, and T. S. Jones, Phys. Rev. B 58, 15981 (1998).
5. I. Kegel, T. H. Metzger, A. Lorke, J. Peisl, J. Stangl, G. Bauer, J. M. Garcia, and P. M. Petroff, Phys. Rev. Lett. 85, 1694 (2000).
6. D. Zhi, H. Davock, R. Murray, C. Roberts, T. S. Jones, D. W. Pashley, P. J. Goodhew, and B. A. Joyce, J. Appl. Phys. 89, 2079 (2001).
7. T. Walther, A. G. Cullis, D. J. Norris, and M. Hopkinson, Phys. Rev. Lett. 86, 2381 (2001).
8. A. G. Cullis, D. J. Dorris, T. Walther, M. A. Migliorato, and M. Hopkinson, Phys. Rev. B 66, 081305(R) (2002).
9. J. P. McCaffrey, M. D. Robertson, S. Fafard, Z. R. Wasilewski, E. M. Griswold, and L. D. Madsen, J. Appl. Phys. 88, 2272 (2000).
10. Q. Xie, A. A. Madhukar, P. Chen, and N. P. Kobayashi, Phys. Rev. Lett. 75, 2542 (1995).
11. H. Eisele, O. Flebbe, T. Kalka, C. Preinesberger, F. Heinrichsdorff, A. Krost, D. Bimberg, and M. Dähne-Prietsch, Appl. Phys. Lett. 75, 106 (1999).
12. N. N. Ledentsov, V. A. Schukin, M. Grundman, N. Kirstaedter, J. Böhrer, O. Schmidt, D. Bimberg, V. M. Utsinov, A. Yu. Egorov, A. E. Zhukov, P. S. Kop'ev, S. V. Zaitsev, N. Yu. Gordeev, Zh. I. Alferov, A. I. Borovkov, A. O. Kosogov, S. S. Ruvimov, P. Werner, U. Gösele, and J. Heydenreich, Phys. Rev. B 54, 8743 (1996).
13. B. Legrand, J. P. Nys, B. Grandidier, D. Stivenard, A. Lamaître, J. M. Gérard, and V. Thierry-Mieg, Appl. Phys. Lett. 74, 2608 (1999).
14. J. Tersof, C. Teichert, and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 76, 1675 (1996).
15. O. G. Schmidt, N. Kirstaedter, N. N. Ledentsov, M.-H. Mao, D. Bimberg, V. M. Ustinov, A. Y. Egorov, A. E. Zhukov, M. V. Maximov, P. S. Kop'ev, and Z. I. Alferov, Electron. Lett. 32, 1302 (1996).
16. G. J. de Raad, P. M. Koenraad, and J. H. Wolter, J. Vac. Sci. Technol. B 17, 1946 (1999).
17. D. M. Bruls, J. W. A. M. Vugs, P. M. Koenraad, M. Hopkinson, M. S. Skolnick, Fei Long, and S. P. A. Gill, Appl. Phys. Lett. 81, 1708 (2002).
18. D. M. Bruls, J. W. A. M. Vugs, P. M. Koenraad, M. S. Skolnick et al., Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 72 [Suppl.], S205 (2001).