Point-contact current-imaging atomic force microscopy: Measurement of contact resistance between single-walled carbon nanotubes in a bundle

Applied Physics Letters

Volumn 82, Issue 12, 2003, Pages 1944-1946

  Otsuka, Yoichi ^a   Naitoh, Yasuhisa ^a   Matsumoto, Takuya ^a   Kawai, Tomoji ^a  

^a OSAKA UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELECTRIC CONDUCTANCE; ELECTRIC CURRENTS; ELECTRIC RESISTANCE; ELECTRONIC EQUIPMENT; POINT CONTACTS;

CONTACT RESISTANCE;

CARBON NANOTUBES;

EID: 0037464232     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1563308     Document Type: Article

References (18)

1. P. J. de Pablo, C. G. Navarro, J. Colchero, P. A. Serena, J. G. Herrero, and A. M. Baro, Phys. Rev. Lett. 88, 036804 (2002).
2. A. Fujiwara, R. Iijima, K. Ishii, H. Suematsu, H. Kataura, Y. Maniwa, S. Suzuki, and Y. Achiba, Appl. Phys. Lett. 80, 1993 (2002).
3. P. J. de Pablo, M. T. Martǐnez, J. Colchero, J. G. Herrero, W. K. Maser, A. M. Benito, E. Muňoz, and A. M. Baro, Adv. Mater. 12, 573 (2000).
4. P. J. de Pablo, F. M. Herrero, J. Colchero, J. G. Herrero, P. Herrero, A. M. Baró, P. Ordejón, J. M. Soler, and E. Artacho, Phys. Rev. Lett. 85, 4992 (2000).
5. T. W. Kelly and C. D. Frisbie, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 632 (2000); X. D. Cui, A. Primak, X. Zarate, J. Tomfohr, O. F. Sankey, A. L. Moore, T. A. Moore, D. Gust, G. Harris, and S. M. Lindsay, Science 294, 571 (2001).
6. T. W. Kelly and C. D. Frisbie, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 632 (2000); X. D. Cui, A. Primak, X. Zarate, J. Tomfohr, O. F. Sankey, A. L. Moore, T. A. Moore, D. Gust, G. Harris, and S. M. Lindsay, Science 294, 571 (2001).
7. A. Bietsch, M. A. Schneider, M. E. Welland, and B. Michel, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 1160 (2000); A. Bietsch and B. Michel, Appl. Phys. Lett. 80, 3346 (2002).
8. A. Bietsch, M. A. Schneider, M. E. Welland, and B. Michel, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 1160 (2000); A. Bietsch and B. Michel, Appl. Phys. Lett. 80, 3346 (2002).
9. Y. Otsuka, Y. Naitoh, T. Matsumoto, and T. Kawai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 41, L742, (2002).
10. S. J. Tans, M. H. Devoret, H. Dai, A. Thess, R. E. Smalley, L. J. Geerligs, and C. Dekker, Nature (London) 386, 474 (1997); M. Bockrath, D. H. Cobden, P. L. McEuen, N. G. Chopra, A. Zettl, A. Thess, and R. E. Smalley, Science 275, 1922 (1997); V. Derycke, R. Martel, J. Appenzeller, and Ph. Avouris, Nano Lett. 1, 453 (2001); A. Bachtold, P. Hadley, T. Nakanishi, and C. Dekker, Science 294, 1317 (2001); J. Kong, C. Zhou, A. Morpurgo, H. T. Soh, C. F. Quate, C. Marcus, and H. Dai, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. A69, 305 (1999).
11. S. J. Tans, M. H. Devoret, H. Dai, A. Thess, R. E. Smalley, L. J. Geerligs, and C. Dekker, Nature (London) 386, 474 (1997); M. Bockrath, D. H. Cobden, P. L. McEuen, N. G. Chopra, A. Zettl, A. Thess, and R. E. Smalley, Science 275, 1922 (1997); V. Derycke, R. Martel, J. Appenzeller, and Ph. Avouris, Nano Lett. 1, 453 (2001); A. Bachtold, P. Hadley, T. Nakanishi, and C. Dekker, Science 294, 1317 (2001); J. Kong, C. Zhou, A. Morpurgo, H. T. Soh, C. F. Quate, C. Marcus, and H. Dai, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. A69, 305 (1999).
12. S. J. Tans, M. H. Devoret, H. Dai, A. Thess, R. E. Smalley, L. J. Geerligs, and C. Dekker, Nature (London) 386, 474 (1997); M. Bockrath, D. H. Cobden, P. L. McEuen, N. G. Chopra, A. Zettl, A. Thess, and R. E. Smalley, Science 275, 1922 (1997); V. Derycke, R. Martel, J. Appenzeller, and Ph. Avouris, Nano Lett. 1, 453 (2001); A. Bachtold, P. Hadley, T. Nakanishi, and C. Dekker, Science 294, 1317 (2001); J. Kong, C. Zhou, A. Morpurgo, H. T. Soh, C. F. Quate, C. Marcus, and H. Dai, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. A69, 305 (1999).
13. S. J. Tans, M. H. Devoret, H. Dai, A. Thess, R. E. Smalley, L. J. Geerligs, and C. Dekker, Nature (London) 386, 474 (1997); M. Bockrath, D. H. Cobden, P. L. McEuen, N. G. Chopra, A. Zettl, A. Thess, and R. E. Smalley, Science 275, 1922 (1997); V. Derycke, R. Martel, J. Appenzeller, and Ph. Avouris, Nano Lett. 1, 453 (2001); A. Bachtold, P. Hadley, T. Nakanishi, and C. Dekker, Science 294, 1317 (2001); J. Kong, C. Zhou, A. Morpurgo, H. T. Soh, C. F. Quate, C. Marcus, and H. Dai, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. A69, 305 (1999).
14. S. J. Tans, M. H. Devoret, H. Dai, A. Thess, R. E. Smalley, L. J. Geerligs, and C. Dekker, Nature (London) 386, 474 (1997); M. Bockrath, D. H. Cobden, P. L. McEuen, N. G. Chopra, A. Zettl, A. Thess, and R. E. Smalley, Science 275, 1922 (1997); V. Derycke, R. Martel, J. Appenzeller, and Ph. Avouris, Nano Lett. 1, 453 (2001); A. Bachtold, P. Hadley, T. Nakanishi, and C. Dekker, Science 294, 1317 (2001); J. Kong, C. Zhou, A. Morpurgo, H. T. Soh, C. F. Quate, C. Marcus, and H. Dai, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. A69, 305 (1999).
15. J. Liu, M. J. Casavant, M. Cox, D. A. Walters, P. Boul, W. Liu, A. J. Rimberg, K. A. Smith, D. T. Colbert, and R. E. Smalley, Chem. Phys. Lett. 303, 125 (1999).
16. A. Bachtold, M. S. Fuhrer, S. Plyasunov, M. Forero, E. H. Anderson, A. Zettl, and P. L. McEuen, Phys. Rev. Lett, 84, 6082 (2000); P. J. de Pablo, C. G. Navarro, A. Gli, J. Colchero, M. T. Martinez, A. M. Benito, W. K. Maser, J. G. Herrero, and A. M. Baro, Appl. Phys. Lett. 79, 2979 (2001).
17. A. Bachtold, M. S. Fuhrer, S. Plyasunov, M. Forero, E. H. Anderson, A. Zettl, and P. L. McEuen, Phys. Rev. Lett, 84, 6082 (2000); P. J. de Pablo, C. G. Navarro, A. Gli, J. Colchero, M. T. Martinez, A. M. Benito, W. K. Maser, J. G. Herrero, and A. M. Baro, Appl. Phys. Lett. 79, 2979 (2001).
18. T. Rueckes, K. Kim, E. Joselevich, G. Y. Tseng, C. L. Cheung, and C. M. Lieber, Science 289, 94 (2000).