Point contact current-voltage measurements on individual organic semiconductor grains by conducting probe atomic force microscopy

Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Volumn 18, Issue 2, 2000, Pages 632-635

  Kelley, Tommie W ^a   Frisbie, C Daniel ^a  

^a University of Minnesota ^*  (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CARRIER CONCENTRATION; CURRENT VOLTAGE CHARACTERISTICS; ELECTRIC CONDUCTIVITY OF SOLIDS; ELECTRIC CURRENT MEASUREMENT; ELECTRIC RESISTANCE; EVAPORATION; GOLD; POINT CONTACTS; SEMICONDUCTING FILMS; SULFUR COMPOUNDS; VOLTAGE MEASUREMENT;

CONDUCTING PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPY; SEXITHIOPHENE;

SEMICONDUCTING ORGANIC COMPOUNDS;

EID: 0034156294     PISSN: 10711023     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.591251     Document Type: Article

References (38)

1. Y.-Y. Lin, D .J. Gundlach, S. F. Nelson, and T. N. Jackson, IEEE Trans. Electron Devices 44, 1325 (1997); Z. Bao, A. J. Lovinger, and A. Dodabalapur, Adv. Mater. 9, 42 (1997); W. A. Schoonveld, R. W. Stok, J. W. Weijtmans, J. Vrijmoeth, J. Wildeman, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 74, 583 (1997); S. R. Forrest, Chem. Rev. 97, 1793 (1997); A. J. Salin, J. M. Marshall, and J. M. Maud, Philos. Mag. Lett. 75, 169 (1997); A. J. Lovinger and L. J. Rothberg, J. Mater. Res. 11, 1581 (1996); A. J. Lovinger, D. D. Davis, A. Dodabalapur, H. E. Katz, and L. Torsi, Macromolecules 29, 4952 (1996); C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996); E. R. Holland, D. Bloor, A. P. Monkham, A. Brown, D. De Leeuw, M. M. Bouman, and E. W. Meijer, ibid. 75, 7954 (1994); B. Servet, G. Horowitz, S. Ries, O. Lagorsse, P. Alnot, A. Yassar, F. Deloffre, P. Srivastava, R. Hajlaoui, P. Lang, and F. Garnier, Chem. Mater. 6, 1809 (1994); F. Garnier, A. Yassar, R. Hajlaoui, G. Horowitz, F. Deloffre, B. Servet, S. Ries, and P. Alnot, J. Am. Chem. Soc. 115, 8716 (1993).
2. Y.-Y. Lin, D .J. Gundlach, S. F. Nelson, and T. N. Jackson, IEEE Trans. Electron Devices 44, 1325 (1997); Z. Bao, A. J. Lovinger, and A. Dodabalapur, Adv. Mater. 9, 42 (1997); W. A. Schoonveld, R. W. Stok, J. W. Weijtmans, J. Vrijmoeth, J. Wildeman, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 74, 583 (1997); S. R. Forrest, Chem. Rev. 97, 1793 (1997); A. J. Salin, J. M. Marshall, and J. M. Maud, Philos. Mag. Lett. 75, 169 (1997); A. J. Lovinger and L. J. Rothberg, J. Mater. Res. 11, 1581 (1996); A. J. Lovinger, D. D. Davis, A. Dodabalapur, H. E. Katz, and L. Torsi, Macromolecules 29, 4952 (1996); C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996); E. R. Holland, D. Bloor, A. P. Monkham, A. Brown, D. De Leeuw, M. M. Bouman, and E. W. Meijer, ibid. 75, 7954 (1994); B. Servet, G. Horowitz, S. Ries, O. Lagorsse, P. Alnot, A. Yassar, F. Deloffre, P. Srivastava, R. Hajlaoui, P. Lang, and F. Garnier, Chem. Mater. 6, 1809 (1994); F. Garnier, A. Yassar, R. Hajlaoui, G. Horowitz, F. Deloffre, B. Servet, S. Ries, and P. Alnot, J. Am. Chem. Soc. 115, 8716 (1993).
3. Y.-Y. Lin, D .J. Gundlach, S. F. Nelson, and T. N. Jackson, IEEE Trans. Electron Devices 44, 1325 (1997); Z. Bao, A. J. Lovinger, and A. Dodabalapur, Adv. Mater. 9, 42 (1997); W. A. Schoonveld, R. W. Stok, J. W. Weijtmans, J. Vrijmoeth, J. Wildeman, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 74, 583 (1997); S. R. Forrest, Chem. Rev. 97, 1793 (1997); A. J. Salin, J. M. Marshall, and J. M. Maud, Philos. Mag. Lett. 75, 169 (1997); A. J. Lovinger and L. J. Rothberg, J. Mater. Res. 11, 1581 (1996); A. J. Lovinger, D. D. Davis, A. Dodabalapur, H. E. Katz, and L. Torsi, Macromolecules 29, 4952 (1996); C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996); E. R. Holland, D. Bloor, A. P. Monkham, A. Brown, D. De Leeuw, M. M. Bouman, and E. W. Meijer, ibid. 75, 7954 (1994); B. Servet, G. Horowitz, S. Ries, O. Lagorsse, P. Alnot, A. Yassar, F. Deloffre, P. Srivastava, R. Hajlaoui, P. Lang, and F. Garnier, Chem. Mater. 6, 1809 (1994); F. Garnier, A. Yassar, R. Hajlaoui, G. Horowitz, F. Deloffre, B. Servet, S. Ries, and P. Alnot, J. Am. Chem. Soc. 115, 8716 (1993).
4. Y.-Y. Lin, D .J. Gundlach, S. F. Nelson, and T. N. Jackson, IEEE Trans. Electron Devices 44, 1325 (1997); Z. Bao, A. J. Lovinger, and A. Dodabalapur, Adv. Mater. 9, 42 (1997); W. A. Schoonveld, R. W. Stok, J. W. Weijtmans, J. Vrijmoeth, J. Wildeman, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 74, 583 (1997); S. R. Forrest, Chem. Rev. 97, 1793 (1997); A. J. Salin, J. M. Marshall, and J. M. Maud, Philos. Mag. Lett. 75, 169 (1997); A. J. Lovinger and L. J. Rothberg, J. Mater. Res. 11, 1581 (1996); A. J. Lovinger, D. D. Davis, A. Dodabalapur, H. E. Katz, and L. Torsi, Macromolecules 29, 4952 (1996); C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996); E. R. Holland, D. Bloor, A. P. Monkham, A. Brown, D. De Leeuw, M. M. Bouman, and E. W. Meijer, ibid. 75, 7954 (1994); B. Servet, G. Horowitz, S. Ries, O. Lagorsse, P. Alnot, A. Yassar, F. Deloffre, P. Srivastava, R. Hajlaoui, P. Lang, and F. Garnier, Chem. Mater. 6, 1809 (1994); F. Garnier, A. Yassar, R. Hajlaoui, G. Horowitz, F. Deloffre, B. Servet, S. Ries, and P. Alnot, J. Am. Chem. Soc. 115, 8716 (1993).
5. Y.-Y. Lin, D .J. Gundlach, S. F. Nelson, and T. N. Jackson, IEEE Trans. Electron Devices 44, 1325 (1997); Z. Bao, A. J. Lovinger, and A. Dodabalapur, Adv. Mater. 9, 42 (1997); W. A. Schoonveld, R. W. Stok, J. W. Weijtmans, J. Vrijmoeth, J. Wildeman, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 74, 583 (1997); S. R. Forrest, Chem. Rev. 97, 1793 (1997); A. J. Salin, J. M. Marshall, and J. M. Maud, Philos. Mag. Lett. 75, 169 (1997); A. J. Lovinger and L. J. Rothberg, J. Mater. Res. 11, 1581 (1996); A. J. Lovinger, D. D. Davis, A. Dodabalapur, H. E. Katz, and L. Torsi, Macromolecules 29, 4952 (1996); C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996); E. R. Holland, D. Bloor, A. P. Monkham, A. Brown, D. De Leeuw, M. M. Bouman, and E. W. Meijer, ibid. 75, 7954 (1994); B. Servet, G. Horowitz, S. Ries, O. Lagorsse, P. Alnot, A. Yassar, F. Deloffre, P. Srivastava, R. Hajlaoui, P. Lang, and F. Garnier, Chem. Mater. 6, 1809 (1994); F. Garnier, A. Yassar, R. Hajlaoui, G. Horowitz, F. Deloffre, B. Servet, S. Ries, and P. Alnot, J. Am. Chem. Soc. 115, 8716 (1993).
6. Y.-Y. Lin, D .J. Gundlach, S. F. Nelson, and T. N. Jackson, IEEE Trans. Electron Devices 44, 1325 (1997); Z. Bao, A. J. Lovinger, and A. Dodabalapur, Adv. Mater. 9, 42 (1997); W. A. Schoonveld, R. W. Stok, J. W. Weijtmans, J. Vrijmoeth, J. Wildeman, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 74, 583 (1997); S. R. Forrest, Chem. Rev. 97, 1793 (1997); A. J. Salin, J. M. Marshall, and J. M. Maud, Philos. Mag. Lett. 75, 169 (1997); A. J. Lovinger and L. J. Rothberg, J. Mater. Res. 11, 1581 (1996); A. J. Lovinger, D. D. Davis, A. Dodabalapur, H. E. Katz, and L. Torsi, Macromolecules 29, 4952 (1996); C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996); E. R. Holland, D. Bloor, A. P. Monkham, A. Brown, D. De Leeuw, M. M. Bouman, and E. W. Meijer, ibid. 75, 7954 (1994); B. Servet, G. Horowitz, S. Ries, O. Lagorsse, P. Alnot, A. Yassar, F. Deloffre, P. Srivastava, R. Hajlaoui, P. Lang, and F. Garnier, Chem. Mater. 6, 1809 (1994); F. Garnier, A. Yassar, R. Hajlaoui, G. Horowitz, F. Deloffre, B. Servet, S. Ries, and P. Alnot, J. Am. Chem. Soc. 115, 8716 (1993).
7. Y.-Y. Lin, D .J. Gundlach, S. F. Nelson, and T. N. Jackson, IEEE Trans. Electron Devices 44, 1325 (1997); Z. Bao, A. J. Lovinger, and A. Dodabalapur, Adv. Mater. 9, 42 (1997); W. A. Schoonveld, R. W. Stok, J. W. Weijtmans, J. Vrijmoeth, J. Wildeman, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 74, 583 (1997); S. R. Forrest, Chem. Rev. 97, 1793 (1997); A. J. Salin, J. M. Marshall, and J. M. Maud, Philos. Mag. Lett. 75, 169 (1997); A. J. Lovinger and L. J. Rothberg, J. Mater. Res. 11, 1581 (1996); A. J. Lovinger, D. D. Davis, A. Dodabalapur, H. E. Katz, and L. Torsi, Macromolecules 29, 4952 (1996); C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996); E. R. Holland, D. Bloor, A. P. Monkham, A. Brown, D. De Leeuw, M. M. Bouman, and E. W. Meijer, ibid. 75, 7954 (1994); B. Servet, G. Horowitz, S. Ries, O. Lagorsse, P. Alnot, A. Yassar, F. Deloffre, P. Srivastava, R. Hajlaoui, P. Lang, and F. Garnier, Chem. Mater. 6, 1809 (1994); F. Garnier, A. Yassar, R. Hajlaoui, G. Horowitz, F. Deloffre, B. Servet, S. Ries, and P. Alnot, J. Am. Chem. Soc. 115, 8716 (1993).
8. Y.-Y. Lin, D .J. Gundlach, S. F. Nelson, and T. N. Jackson, IEEE Trans. Electron Devices 44, 1325 (1997); Z. Bao, A. J. Lovinger, and A. Dodabalapur, Adv. Mater. 9, 42 (1997); W. A. Schoonveld, R. W. Stok, J. W. Weijtmans, J. Vrijmoeth, J. Wildeman, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 74, 583 (1997); S. R. Forrest, Chem. Rev. 97, 1793 (1997); A. J. Salin, J. M. Marshall, and J. M. Maud, Philos. Mag. Lett. 75, 169 (1997); A. J. Lovinger and L. J. Rothberg, J. Mater. Res. 11, 1581 (1996); A. J. Lovinger, D. D. Davis, A. Dodabalapur, H. E. Katz, and L. Torsi, Macromolecules 29, 4952 (1996); C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996); E. R. Holland, D. Bloor, A. P. Monkham, A. Brown, D. De Leeuw, M. M. Bouman, and E. W. Meijer, ibid. 75, 7954 (1994); B. Servet, G. Horowitz, S. Ries, O. Lagorsse, P. Alnot, A. Yassar, F. Deloffre, P. Srivastava, R. Hajlaoui, P. Lang, and F. Garnier, Chem. Mater. 6, 1809 (1994); F. Garnier, A. Yassar, R. Hajlaoui, G. Horowitz, F. Deloffre, B. Servet, S. Ries, and P. Alnot, J. Am. Chem. Soc. 115, 8716 (1993).
9. Y.-Y. Lin, D .J. Gundlach, S. F. Nelson, and T. N. Jackson, IEEE Trans. Electron Devices 44, 1325 (1997); Z. Bao, A. J. Lovinger, and A. Dodabalapur, Adv. Mater. 9, 42 (1997); W. A. Schoonveld, R. W. Stok, J. W. Weijtmans, J. Vrijmoeth, J. Wildeman, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 74, 583 (1997); S. R. Forrest, Chem. Rev. 97, 1793 (1997); A. J. Salin, J. M. Marshall, and J. M. Maud, Philos. Mag. Lett. 75, 169 (1997); A. J. Lovinger and L. J. Rothberg, J. Mater. Res. 11, 1581 (1996); A. J. Lovinger, D. D. Davis, A. Dodabalapur, H. E. Katz, and L. Torsi, Macromolecules 29, 4952 (1996); C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996); E. R. Holland, D. Bloor, A. P. Monkham, A. Brown, D. De Leeuw, M. M. Bouman, and E. W. Meijer, ibid. 75, 7954 (1994); B. Servet, G. Horowitz, S. Ries, O. Lagorsse, P. Alnot, A. Yassar, F. Deloffre, P. Srivastava, R. Hajlaoui, P. Lang, and F. Garnier, Chem. Mater. 6, 1809 (1994); F. Garnier, A. Yassar, R. Hajlaoui, G. Horowitz, F. Deloffre, B. Servet, S. Ries, and P. Alnot, J. Am. Chem. Soc. 115, 8716 (1993).
10. Y.-Y. Lin, D .J. Gundlach, S. F. Nelson, and T. N. Jackson, IEEE Trans. Electron Devices 44, 1325 (1997); Z. Bao, A. J. Lovinger, and A. Dodabalapur, Adv. Mater. 9, 42 (1997); W. A. Schoonveld, R. W. Stok, J. W. Weijtmans, J. Vrijmoeth, J. Wildeman, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 74, 583 (1997); S. R. Forrest, Chem. Rev. 97, 1793 (1997); A. J. Salin, J. M. Marshall, and J. M. Maud, Philos. Mag. Lett. 75, 169 (1997); A. J. Lovinger and L. J. Rothberg, J. Mater. Res. 11, 1581 (1996); A. J. Lovinger, D. D. Davis, A. Dodabalapur, H. E. Katz, and L. Torsi, Macromolecules 29, 4952 (1996); C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996); E. R. Holland, D. Bloor, A. P. Monkham, A. Brown, D. De Leeuw, M. M. Bouman, and E. W. Meijer, ibid. 75, 7954 (1994); B. Servet, G. Horowitz, S. Ries, O. Lagorsse, P. Alnot, A. Yassar, F. Deloffre, P. Srivastava, R. Hajlaoui, P. Lang, and F. Garnier, Chem. Mater. 6, 1809 (1994); F. Garnier, A. Yassar, R. Hajlaoui, G. Horowitz, F. Deloffre, B. Servet, S. Ries, and P. Alnot, J. Am. Chem. Soc. 115, 8716 (1993).
11. Y.-Y. Lin, D .J. Gundlach, S. F. Nelson, and T. N. Jackson, IEEE Trans. Electron Devices 44, 1325 (1997); Z. Bao, A. J. Lovinger, and A. Dodabalapur, Adv. Mater. 9, 42 (1997); W. A. Schoonveld, R. W. Stok, J. W. Weijtmans, J. Vrijmoeth, J. Wildeman, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 74, 583 (1997); S. R. Forrest, Chem. Rev. 97, 1793 (1997); A. J. Salin, J. M. Marshall, and J. M. Maud, Philos. Mag. Lett. 75, 169 (1997); A. J. Lovinger and L. J. Rothberg, J. Mater. Res. 11, 1581 (1996); A. J. Lovinger, D. D. Davis, A. Dodabalapur, H. E. Katz, and L. Torsi, Macromolecules 29, 4952 (1996); C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996); E. R. Holland, D. Bloor, A. P. Monkham, A. Brown, D. De Leeuw, M. M. Bouman, and E. W. Meijer, ibid. 75, 7954 (1994); B. Servet, G. Horowitz, S. Ries, O. Lagorsse, P. Alnot, A. Yassar, F. Deloffre, P. Srivastava, R. Hajlaoui, P. Lang, and F. Garnier, Chem. Mater. 6, 1809 (1994); F. Garnier, A. Yassar, R. Hajlaoui, G. Horowitz, F. Deloffre, B. Servet, S. Ries, and P. Alnot, J. Am. Chem. Soc. 115, 8716 (1993).
12. J. H. Schon and B. Batlogg, Appl. Phys. Lett. 74, 260 (1999).
13. H. Dai, E. W. Wong, and C.M. Lieber, Science 272, 523 (1996); D. Klein and P. McEuen, Appl. Phys. Lett. 66, 2478 (1995).
14. H. Dai, E. W. Wong, and C.M. Lieber, Science 272, 523 (1996); D. Klein and P. McEuen, Appl. Phys. Lett. 66, 2478 (1995).
15. B. Alperson, S. Cohen, I. Rubinstein, and G. Hodes, Phys. Rev. B 52, R17017 (1995).
16. P. De Wolf, J. Snauwaert, L. Hellemans, T. Clarysse, W. Vandervorst, M. D'Olieslaeger, and D. Quaeyhaegens, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 1699 (1995); J. Heddleson, S. Weinzierl, R. Hillard, P. Rai-Choudhury, and R. Mazur, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 317 (1994).
17. P. De Wolf, J. Snauwaert, L. Hellemans, T. Clarysse, W. Vandervorst, M. D'Olieslaeger, and D. Quaeyhaegens, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 1699 (1995); J. Heddleson, S. Weinzierl, R. Hillard, P. Rai-Choudhury, and R. Mazur, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 317 (1994).
18. A. Olbrich, B. Ebersberger, and C. Boit, Appl. Phys. Lett. 73, 3114 (1998).
19. F. Houze, R. Meyer, O. Schneegans, and L. Boyer, Appl. Phys. Lett. 69, 1975 (1996).
20. M. J. Loiacono, E. L. Granstrom, and C. Frisbie, J. Phys. Chem. 102, 1679 (1998).
21. T. W. Kelley, E. L. Granstrom, and C. D. Frisbie, Adv. Mater. 11, 261 (1999).
22. J. H. Schon, Ch. Kloc, R. A. Laudise, and B. Batlogg, Phys. Rev. B 58, 12952 (1998); L. Torsi, A. Dodabalapur, L. J. Rothberb, A. W. P. Fung, and H. E. Katz, ibid. 57, 2271 (1998); Ch. Kloc, P. G. Simpkins, T. Siegrist, and R. A. Laudise, J. Cryst. Growth 182, 416 (1997); F. Garnier, R. Hajlaoui, A. Yassar, and P. Srivastava, Science 265, 1684 (1994); G. Horowitz, D. Fichou, X. Peng, and P. Delannoy, J. Phys. (France) 51, 1489 (1990); H. Fujimoto, U. Nagashima, H. Inokuchi, K. Seki, Y. Cao, H. Nakahara, J. Nakayama, M. Hoshino, and K. Fukuda, J. Chem. Phys. 92, 4077 (1990).
23. J. H. Schon, Ch. Kloc, R. A. Laudise, and B. Batlogg, Phys. Rev. B 58, 12952 (1998); L. Torsi, A. Dodabalapur, L. J. Rothberb, A. W. P. Fung, and H. E. Katz, ibid. 57, 2271 (1998); Ch. Kloc, P. G. Simpkins, T. Siegrist, and R. A. Laudise, J. Cryst. Growth 182, 416 (1997); F. Garnier, R. Hajlaoui, A. Yassar, and P. Srivastava, Science 265, 1684 (1994); G. Horowitz, D. Fichou, X. Peng, and P. Delannoy, J. Phys. (France) 51, 1489 (1990); H. Fujimoto, U. Nagashima, H. Inokuchi, K. Seki, Y. Cao, H. Nakahara, J. Nakayama, M. Hoshino, and K. Fukuda, J. Chem. Phys. 92, 4077 (1990).
24. J. H. Schon, Ch. Kloc, R. A. Laudise, and B. Batlogg, Phys. Rev. B 58, 12952 (1998); L. Torsi, A. Dodabalapur, L. J. Rothberb, A. W. P. Fung, and H. E. Katz, ibid. 57, 2271 (1998); Ch. Kloc, P. G. Simpkins, T. Siegrist, and R. A. Laudise, J. Cryst. Growth 182, 416 (1997); F. Garnier, R. Hajlaoui, A. Yassar, and P. Srivastava, Science 265, 1684 (1994); G. Horowitz, D. Fichou, X. Peng, and P. Delannoy, J. Phys. (France) 51, 1489 (1990); H. Fujimoto, U. Nagashima, H. Inokuchi, K. Seki, Y. Cao, H. Nakahara, J. Nakayama, M. Hoshino, and K. Fukuda, J. Chem. Phys. 92, 4077 (1990).
25. J. H. Schon, Ch. Kloc, R. A. Laudise, and B. Batlogg, Phys. Rev. B 58, 12952 (1998); L. Torsi, A. Dodabalapur, L. J. Rothberb, A. W. P. Fung, and H. E. Katz, ibid. 57, 2271 (1998); Ch. Kloc, P. G. Simpkins, T. Siegrist, and R. A. Laudise, J. Cryst. Growth 182, 416 (1997); F. Garnier, R. Hajlaoui, A. Yassar, and P. Srivastava, Science 265, 1684 (1994); G. Horowitz, D. Fichou, X. Peng, and P. Delannoy, J. Phys. (France) 51, 1489 (1990); H. Fujimoto, U. Nagashima, H. Inokuchi, K. Seki, Y. Cao, H. Nakahara, J. Nakayama, M. Hoshino, and K. Fukuda, J. Chem. Phys. 92, 4077 (1990).
26. J. H. Schon, Ch. Kloc, R. A. Laudise, and B. Batlogg, Phys. Rev. B 58, 12952 (1998); L. Torsi, A. Dodabalapur, L. J. Rothberb, A. W. P. Fung, and H. E. Katz, ibid. 57, 2271 (1998); Ch. Kloc, P. G. Simpkins, T. Siegrist, and R. A. Laudise, J. Cryst. Growth 182, 416 (1997); F. Garnier, R. Hajlaoui, A. Yassar, and P. Srivastava, Science 265, 1684 (1994); G. Horowitz, D. Fichou, X. Peng, and P. Delannoy, J. Phys. (France) 51, 1489 (1990); H. Fujimoto, U. Nagashima, H. Inokuchi, K. Seki, Y. Cao, H. Nakahara, J. Nakayama, M. Hoshino, and K. Fukuda, J. Chem. Phys. 92, 4077 (1990).
27. J. H. Schon, Ch. Kloc, R. A. Laudise, and B. Batlogg, Phys. Rev. B 58, 12952 (1998); L. Torsi, A. Dodabalapur, L. J. Rothberb, A. W. P. Fung, and H. E. Katz, ibid. 57, 2271 (1998); Ch. Kloc, P. G. Simpkins, T. Siegrist, and R. A. Laudise, J. Cryst. Growth 182, 416 (1997); F. Garnier, R. Hajlaoui, A. Yassar, and P. Srivastava, Science 265, 1684 (1994); G. Horowitz, D. Fichou, X. Peng, and P. Delannoy, J. Phys. (France) 51, 1489 (1990); H. Fujimoto, U. Nagashima, H. Inokuchi, K. Seki, Y. Cao, H. Nakahara, J. Nakayama, M. Hoshino, and K. Fukuda, J. Chem. Phys. 92, 4077 (1990).
28. H. E. Katz, A. Dodabalapur, L. Torsi, A. J. Lovinger, and R. Ruel, Proc. Am. Chem. Soc. Div. Polym. Mater. Sci. Eng. 72, 467 (1995).
29. 6T crystallizes from the vapor phase with a monoclinic unit cell (a =44.708 Å, b=7.851 Å, c=6.029 Å and β=90.76°). G. Horowitz, B. Bachet, A. Yassar, P. Lang, F. Demanze, J.-L. Fave, and F. Garnier, Chem. Mater. 7, 1337 (1995).
30. The red light from the diode laser used to maintain feedback in the AFM produced no measurable contribution to the I-V characteristics.
31. H.K. Henish, Semiconductor Contacts: An Approach to Ideas and Models (Clarendon, Oxford, 1984).
32. J. H. Schon, Ch. Kloc, R. A. Laudise, and B. Batlogg, Appl. Phys. Lett. 73, 3574 (1998).
33. 3.
34. Y. Y. Lin, D. J. Gundlach, and T. N. Jackson, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 413, 413 (1996).
35. e [J. H. Schon, Ch. Kloc, and B. Batlogg, Proceedings of the EMRS (in press)].
36. C. Kendrick and S. Semancik, J. Vac. Sci. Technol. A 16, 3068 (1998).
37. A. Rajagopal, C. I. Wu, and A. Kahn, J. Appl. Phys. 83, 2649 (1998); Y. Hirose, C. I. Wu, V. Aristov, P. Soukiassian, and A. Kahn, Appl. Surf. Sci. 113/114, 291 (1997).
38. A. Rajagopal, C. I. Wu, and A. Kahn, J. Appl. Phys. 83, 2649 (1998); Y. Hirose, C. I. Wu, V. Aristov, P. Soukiassian, and A. Kahn, Appl. Surf. Sci. 113/114, 291 (1997).