A nondestructive technique for determining the spring constant of atomic force microscope cantilevers

Review of Scientific Instruments

Volumn 72, Issue 5, 2001, Pages 2340-2343

  Gibson, Christopher T ^a   Weeks, Brandon L ^a   Lee, Jonathan R I ^a   Abell, Chris ^a   Payment, Trevor ^a  

^a UNIVERSITY OF CAMBRIDGE   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035337341     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1361080     Document Type: Article

References (30)

1. G. Binnig, C. F. Quate, and Ch. Gerber, Phys. Rev. Lett. 56, 930 (1986).
2. G. Meyer and N. M. Amer, Appl. Phys. Lett. 57, 2089 (1990).
3. S. N. Magonov, V. Elings, and M. H. Whangbo, Surf. Sci. 375, 385 (1997).
4. J. L. Hutter and J. Bechhoefer, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 2251 (1994).
5. T. Boland and B. D. Ratner, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 92, 5297 (1995).
6. T. Nishino, A. Nozawa, M. Kotera, and K. Nakamee, Rev. Sci. Instrum. 71, 2094 (2000).
7. L. Lingyan, Q. Yu, and S. Jiang, J. Phys. Chem. B 103, 8290 (1999).
8. R. McKendry, M. E. Theoclitou, T. Rayment, and C. Abell, Nature (London) 391, 566 (1998).
9. M. Carrion-Vazquez, A. F. Oberhauser, S. B. Fowler, P. E. Marszalek, S. E. Broedel, J. Clarke, and J. M. Fernandez, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 96, 3694 (1999).
10. M. Ludwig, M. Reif, L. Schmidt, H. Li, F. Oesterhelt, M. Gautel, and H. E. Gaub, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 68, 173 (1999).
11. T. A. Brunt, T. Rayment, S. J. O'Shea, and M. E. Welland, Langmuir 12, 5942 (1996).
12. P. I. Oden, G. Y. Chen, R. A. Steele, R. J. Warmack, and T. Thundat, Appl. Phys. Lett. 68, 3814 (1996).
13. J. P. Cleveland, S. Manne, D. Bocek, and P. K. Hansma, Rev. Sci. Instrum. 64, 403 (1993).
14. J. E. Sader, I. Larson, P. Mulvaney, and L. R. White, Rev. Sci. Instrum. 66, 3789 (1995).
15. J. E. Sader, J. W. M. Chon, and P. Mulvaney, Rev. Sci. Instrum. 70, 3967 (1999).
16. J. L. Hutter and J. Bechhoefer, Rev. Sci. Instrum. 64, 1868 (1993).
17. T. J. Senden and W. A. Ducker, Langmuir 10, 1003 (1994).
18. E. L. Florin, V. T. Moy, and E. M. Gaub, Science 264, 415 (1994).
19. A. Torii, M. Sasaki, K. Hane, and S. Okuma, Meas. Sci. Technol. 7, 179 (1996).
20. J. E. Sader, Rev. Sci. Iustrum. 66, 4583 (1995).
21. J. M. Neumiester and W. A. Ducker, Rev. Sci. Instrum. 65, 2527 (1994).
22. C. T. Gibson, G. S. Watson, and S. Myhra, Scanning 19, 564 (1997).
23. T. R. Albrecht, S. Akamine, T. E. Carver, and C. F. Quate, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 3386 (1990).
24. J. W. Hong, Z. G. Khim, A. S. Hou, and S. Park, Appl. Phys. Lett. 69, 2831 (1996).
25. S. Yamamato, H. Yamada, and H. Tokumoto, Rev. Sci. Instrum. 68, 4132 (1997).
26. W. Han, S. M. Lindsay, and T. Jing, Appl. Phys. Lett. 69, 4111 (1996).
27. The lock-in amplifier used was an EG and G model No. DSP 7265.
28. Thermomicroscopes, Sunnyvale, CA.
29. J. D. Holbery and V. L. Eden, J. Micromech. Microeng. 10, 85 (2000).
30. C. D. Frisbie, L. F. Rozsnyai, A. Noy, M. S. Wrighton, and C. M. Lieber, Science 265, 2071 (1994).