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Volumn 72, Issue 7, 2001, Pages

Calibration of a Scanning Joule Expansion Microscope (SJEM)

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EID: 0009094307     PISSN: 09478396     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s003390100648     Document Type: Article
Times cited : (13)

References (15)
  • 12
    • 57649157103 scopus 로고    scopus 로고
    • www.di.com/Appnotes/Thermal/ThermalMain.html


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.