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Volumn 67, Issue 12, 1996, Pages 4268-4274

Localized thermal analysis using a miniaturized resistive probe

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EID: 0001312465     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1147525     Document Type: Article
Times cited : (166)

References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.