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Volumn 71, Issue 20, 1997, Pages 2978-2980

Ultrathin SiOxNy by rapid thermal heating of silicon in N2 at T=760-1050 °C

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EID: 0008385378     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.120235     Document Type: Article
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References (32)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.