Degradation of AlGaN during high-temperature annealing monitored by ultraviolet Raman scattering

Applied Physics Letters

Volumn 74, Issue 4, 1999, Pages 549-551

  Kuball, M ^a   Demangeot, F ^b   Frandon, J ^b   Renucci, M A ^b   Sands, H ^c   Batchelder, D N ^c   Clur, S ^b   Briot, O ^b  

^a UNIVERSITY OF BRISTOL   (United Kingdom)

^b CNRS   (France)

^c UNIVERSITY OF LEEDS   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001290944     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.123141     Document Type: Article

References (15)

1. S. Nakamura, M. Senoh, S. Nagahama, N. Iwasa, T. Yamada, T. Matsushita, H. Kiyoku, Y. Sugimoto, T. Kozaki, H. Umemoto, M. Sano, and K. Chocho, Appl. Phys. Lett. 72, 211 (1998); Y.-K. Song, M. Kuhall, A. V. Nurmikko, G. E. Bulman, K. Doverspike, S. T. Shappard, T. W. Weeks, M. Leonard, H. S. Kong, H. Dieringer, and J. Edmonds, ibid. 72, 1418 (1998).
2. S. Nakamura, M. Senoh, S. Nagahama, N. Iwasa, T. Yamada, T. Matsushita, H. Kiyoku, Y. Sugimoto, T. Kozaki, H. Umemoto, M. Sano, and K. Chocho, Appl. Phys. Lett. 72, 211 (1998); Y.-K. Song, M. Kuhall, A. V. Nurmikko, G. E. Bulman, K. Doverspike, S. T. Shappard, T. W. Weeks, M. Leonard, H. S. Kong, H. Dieringer, and J. Edmonds, ibid. 72, 1418 (1998).
3. S. Yoshida and J. Suzuki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 37, L482 (1998).
4. M. Kubal, F. Demangcot, J. Frandon, M. A. Renucci, J. Massies, N. Grandjean, R. L. Aulombard, and O. Briot. Appl. Phys. Lett. 73, 960 (1998).
5. J. C. Zolper, M. Hagerott Crawford, A. J. Howard, J. Ramer, and S. D. Hersee, Appl. Phys. Lett. 68. 200 (1996).
6. J. Hong, J. W. Lee, J. D. MacKenzie, S. M. Donovan, C. R. Abernathy, S. J. Pearton, and J. C. Zolper. Semicond. Sci. Technol. 12, 1310 (1997).
7. H. H. Tan, J. S. Williams, J. Zou, D. J. H. Cockayne, S. J. Pearton, J. C. Zolper, and R. A. Stall, Appl. Phys. Lett. 72, 1190 (1998).
8. X. A. Cao, C. R. Abernathy, R. K. Singh, S. J. Pearton, M. Fu, V. Sekhar, J. C. Zolper, D. J. Rieger, J. Han, T. J. Drummond, R. J. Shul, and R. G. Wilson, Appl. Phys. Lett. 73, 229 (1998).
9. F. Demangeot, J. Frandon, M. A. Renucci, H. Sands, D. N. Batchelder, S. Clur, and O. Briot. MRS Internet J. Nitride Semicond. Res. (to be published).
10. D. Brunner, H. Angerer, E. Bustarret, F. Freudenberg, R. Höpler, R. Dimitrov, O. Ambacher. and M. Stutzmann, J. Appl. Phys. 82, 5090 (1997).
11. M. Cardona, in Light Scattering in Solids II, edited by M. Cardona and G. Güntherodt (Springer, Heidelberg, 1982). pp. 19-178.
12. D. Behr, R. Niebuhi, J. Wagner, K.-H. Bachem, and U. Kaufmann, Appl. Phys. Lett. 70, 363 (1997).
13. F. Demangeot, J. Groenen, J. Frandon, M. A. Renucci, O. Briot, S. Clur, and R. L. Aulombard. Appl. Phys. Lett. 12, 2674 (1998).
14. A. Cros, H. Angerer, O. Ambacher, M. Stutzmann, R. Höpler, and T. Metzger, Solid State Commun. 104, 35 (1997).
15. F. Demangeot, J. Frandon, M. A. Renucci, O. Briot, B. Gil, and R.-L. Aulombard, MRS Internet J. Nitride Semicond. Res. 1, 23 (1996).