Patterning and Visualizing Self-Assembled Monolayers with Low-Energy Electrons

Nano Letters

Volumn 2, Issue 10, 2002, Pages 1161-1164

  Krupke, R ^a   Malik, S ^a   Weber, H B ^a   Hampe, O ^a   Kappes, M M ^a,b   V Lohneysen H ^a,b  

^a KARLSRUHE INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Germany)

^b UNIVERSITY OF KARLSRUHE   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000958340     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl025679e     Document Type: Article

References (20)

1. Ulman, A. An introduction to ultrahin organic films: from Langmuir-Blodgett to self-assembly; Academic Press: San Diego, 1991.
2. Sugimora, H.; Nakagiri, N. Langmuir 1995, 11, 3623.
3. Haller, I. J. Am. Chem. Soc. 1978, 100, 8050.
4. Liu, J.; Casavant, M. J.; Cox, M.; Walters, D. A.; Boul, P.; Lu, W.; Rimberg, A. J.; Smith, K. A.; Colbert, D. T.; Smalley, R. E. Chem. Phys. Lett. 1999, 303, 125.
5. Harnett, C. K.; Satyalakshmi, K. M.; Craighead, H. G.; Langmuir 2001, 17, 178.
6. Lercel, M. J.; Tiberio, R. C.; Chapman, P. F.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol. B 1993, 11, 2823.
7. Seshadri, K.; Froyd, K.; Parikh, A. N.; Allara, D. L.; Lercel, M. J.; Craighead, H. G. J. Phys. Chem. 1996, 100, 15900.
8. Müller, H. U.; Zharnikov, M.; Völkel, B.; Schertel, A.; Harder, P.; Grunze, M. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7949.
9. Weimann, T.; Geyer, W.; Hinze, P.; Stadler, V.; Eck, W.; Gölzhäuser, A.; Microelectron. Eng. 2001, 57, 903.
10. Hild, R.; David, C.; Müller, H. U.; Völkel, B.; Kayser, D. R.; Grunze, M.; Langmuir 1998, 14, 342.
11. Carr, D. W.; Lercel, M. J.; Whelan, C. S.; Craighead, H. G.; Seshadri, K.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Teclmol. A 1997, 15, 1446.
12. Eck, W.; Stadler, V.; Geyer, W.; Zharnikov, M.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. Adv. Mater. 2000, 12, 805.
13. Harnett, C. K.; Satyalakshmi, K. M.; Craighead, H. G. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 2466.
14. Chang, T. H. P.; Thomson, M. G. R.; Kratschmer, E.; Kim, H. S.; Yu, M. L.; Lee, K. Y.; Rishton, S. A.; Hussey, B. W.; Zolgharnain, S. J. Vac. Sci. Teclmol. B 1996, 14, 3774.
15. Williams, R.; Goodman, A. M. Appl. Phys. Lett. 1974, 25, 531.
16. Goldstein, J. I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis; Plenum Press: New York, 1981.
17. Kanaya, K.; Okayama, S. J. Phys. D: Appl. Phys. 1972, 5, 43.
18. Lercel, M. J.; Craighead, H. G.; Parikh, A. N.; Seshadri, K.; Allara, D. L. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 1504.
19. Petri, D. F. S.; Wenz, G.; Schunk, P.; Schimmel, T. Langmuir 1999, 15, 4520.
20. Sindorf, D. W.; Maciel, G. E. J. Phys. Chem. 1982, 86, 5208.