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Volumn 76, Issue 8, 2000, Pages 1018-1020

Atomic force microscope tip-surface behavior under continuous bias or pulsed voltages in noncontact mode

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EID: 0000518832     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.125925     Document Type: Article
Times cited : (11)

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    • 85037516044 scopus 로고    scopus 로고
    • 9 V/m
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.