Time-resolved electroabsorption measurement of the electron velocity-field characteristic in GaN

Applied Physics Letters

Volumn 76, Issue 9, 2000, Pages 1155-1157

  Wraback, M ^a   Shen, H ^a   Carrano, J C ^b   Li, T ^c   Campbell, J C ^c   Schurman, M J ^d   Ferguson, I T ^d  

^a U S ARMY RESEARCH LABORATORY   (United States)

^b UNITED STATES MILITARY ACADEMY   (United States)

^c The University of Texas at Austin   (United States)

^d EMCORE CORPORATION   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000234219     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.125968     Document Type: Article

References (16)

1. J. Kolnik, I. H. Oǧuzman, K. F. Brennan, R. Wang, P. P. Ruden, and Y. Wang, J. Appl. Phys. 78, 1033 (1998).
2. U. V. Bhapkar and M. S. Shur, J. Appl. Phys. 82, 1649 (1997).
3. J. D. Albrecht, R. P. Wang, P. P. Ruden, M. Farahmand, and K. F. Brennan, J. Appl. Phys. 83, 4777 (1998).
4. B. E. Foutz, S. K. O'Leary, M. S. Shur, and L. F. Eastman, J. Appl. Phys. 85, 7727 (1999).
5. M. A. Khan, Q. Chen, M. S. Shur, B. T. Dermott, J. A. Higgins, J. Burm, W. J. Schaff, and L. F. Eastman, IEEE Electron Device Lett. 17, 584 (1996).
6. J. Burm, K. Chu, W. J. Schaff, L. F. Eastman, M. A. Khan, Q. Chen, J. W. Yang, and M. S. Shur, IEEE Electron Device Lett. 18, 141 (1997).
7. Y.-F. Wu, B. P. Keller, S. Keller, N. X. Nguyen, M. Le, C. Nguyen, T. J. Jenkins, L. T. Kehias, S. P. DenBaars, and U. K. Mishra, IEEE Electron Device Lett. 18, 438 (1997).
8. A. T. Ping, Q. Chen, J. W. Yang, M. A. Khan, and I. Adesida, IEEE Electron Device Lett. 19, 54 (1998).
9. J. C. Carrano, T. Li, C. J. Eiting, R. D. Dupuis, and J. C. Camphell, J. Electron. Mater. 28, 325 (1999).
10. J. C. Carrano, T. Li, D. L. Brown, P. A. Grudowski, C. J. Eiting, R. D. Dupuis, and J. C. Campbell, Appl. Phys. Lett. 73, 2405 (1998).
11. J. C. Carrano, T. Li, D. L. Brown, P. A. Grudowski, C. J. Eiting, R. D. Dupuis, and J. C. Campbell, Electron. Lett. 34, 1779 (1998).
12. C. V. Shank, R. L. Fork, B. I. Greene, F. K. Reinhart, and R. A. Logan, Appl. Phys. Lett. 38, 104 (1981).
13. E. A. Schiff, R. I. Devlen, H. T. Grahn, J. Taue, and S. Guha, Appl. Phys. Lett. 54, 1911 (1989).
14. T. Li, J. C. Carrano, J. C. Campbell, M. Schurman, and I. Ferguson, IEEE J. Quantum Electron. 35, 1203 (1999).
15. I. H. Oǧuzman, J. Kolnik, K. F. Brennan, R. Wang, T.-N. Fang, and P. P. Ruden, J. Appl. Phys. 80, 4429 (1996).
16. E. G. Brazel, M. A. Chin, V. Narayanamurti, D. Kapolnek, E. J. Tarsa, and S. P. DenBaars, Appl. Phys. Lett. 70, 330 (1997).