Writing silica structures in liquid with scanning transmission electron microscopy

Small

Volumn 11, Issue 5, 2015, Pages 585-590

  Van De Put, Marcel W P ^a   Carcouët, Camille C M C ^a   Bomans, Paul H H ^a   Friedrich, Heiner ^a   De Jonge, Niels ^b   Sommerdijk, Nico A J M ^a  

^a EINDHOVEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

^b INM LEIBNIZ INSTITUTE FOR NEW MATERIALS   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELECTRONS; HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; LIQUIDS; SILICA NANOPARTICLES; SILICON NITRIDE; SURFACE ROUGHNESS; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

ELECTRON BEAM IRRADIATION; ELECTRON EXPOSURE; LATERAL POSITIONS; SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; SILICA STRUCTURES; SILICON NITRIDE (SIN); SIN MEMBRANES; SUBMICROMETERS;

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY;

EID: 85027952729     PISSN: 16136810     EISSN: 16136829     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/smll.201400913     Document Type: Article

References (40)

1. a) F. Nudelman, G. de With, N. Sommerdijk, Soft Matter 2011, 7, 17-24
2. b) H. Friedrich, P. M. Frederik, G. de With, N. Sommerdijk, Angew. Chem. Int. Edit. 2010, 49, 7850.
3. a) Y. Sun, Mater. Today 2012, 15, 140-147
4. b) S. H. Shin, S. Chung, B. Sanii, L R. Comolli, C. R. Bertozzi, J. J. De Yoreo, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 2012, 109, 12968
5. c) P. Besenius, G. Portale, P. H. H. Bomans, H. M. Janssen, A. R. A. Palmans, E. W Meijer, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 2010, 107, 17888.
6. a) N. de Jonge, F. M. Ross, Nat. Nanotechnol. 2011, 6, 695
7. b) N. D. Browning, M. A. Bonds, G. H. Campbell, J. E. Evans, T. LaGrange, K. L. Jungjohann, D. J. Masiel, J. McKeown, S. Mehraeen, B. W. Reed, M. Santala, Curr. Opin. Solid St. M. 2012, 16, 23.
8. M. J. Williamson, R. M. Tromp, P. M. Vereecken, R. Hull, F. M. Ross, Nat. Mater. 2003, 2, 532.
9. H. M. Zheng, S. A. Claridge, A. M. Minor, A. P. Alivisatos, U. Dahmen, Nano Lett. 2009, 9, 2460.
10. a) H. M. Zheng, R. K. Smith, Y. W. Jun, C. Kisielowski, U. Dahmen, A. P. Aivisatos, Science 2009, 324, 1309
11. b) T. Kraus, N. de Jonge, Langmuir 2013, 29, 8427.
12. H. K. L. Reimer, Transmission Electron Microscopy, 5th Ed., Springer, Münster, 2008.
13. N. de Jonge, N. Poirier-Demers, H. Demers, D. B. Peckys, D. Drouin, Ultramicroscopy 2010, 110, 1114.
14. N. de Jonge, D. B. Peckys, G. J. Kremers, D. W. Piston, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 2009, 106, 2159.
15. a) J. E. Evans, K. L. Jungjohann, N. D. Browning, I. Arslan, Nano Lett. 2011, 11, 2809
16. b) T. J. Woehl, K. L. Jungjohann, J. E. Evans, I. Arslan, W. D. Ristenpart, N. D. Browning, Ultramicroscopy 2013, 127, 53
17. c) K. W. Noh, Y. Liu, L. Sun, S. J. Dillon, Ultramicroscopy 2012, 116, 34.
18. a) E. R. White, S. B. Singer, V. Augustyn, W. A. Hubbard, M. Mecklenburg, B. Dunn, B. C. Regan, ACS Nano 2012, 6, 6308
19. b) T. J. Woehl, J. E. Evans, L. Arslan, W. D. Ristenpart, N. D. Browning, ACS Nano 2012, 6, 8599
20. c) J. M. Yuk, J. Park, P. Ercius, K. Kim, D. J. Hellebusch, M. F. Crommie, J. Y. Lee, A. Zettl, A. P. Alivisatos, Science 2012, 336, 61
21. d) D. S. Li, M. H. Nielsen, J. R. I. Lee, C. Frandsen, J. F. Banfield, J. J. De Yoreo, Science 2012, 336, 1014
22. e) H. G. Liao, L. K. Cui, S. Whitelam, H. M. Zheng, Science 2012, 336, 1011
23. f) H.-G. Liao, H. Zheng, J. Am. Chem. Soc. 2013, 135, 5038
24. g) U. M. Mirsaidov, H. Zheng, D. Bhattacharya, Y. Casana, P. Matsudaira, Proc. Natl. Acad. Sci. USA 2012, 109, 7187.
25. a) F. A. Plamper, A. P. Gelissen, J. Timper, A. Wolf, A. B. Zezin, W. Richtering, H. Tenhu, U. Simon, J. Mayer, O. V. Borisov, D. V. Pergushov, Macromol. Rapid Comm. 2013, 34, 855
26. b) U. Mansfeld, S. Hoeppener, U. S. Schubert, Adv. Mater. 2013, 25, 761
27. c) B. L. Gilmore, S. P. Showalter, M. J. Dukes, J. R. Tanner, A. C. Demmert, S. M. McDonald, D. F. Kelly, Lab. Chip 2013, 13, 216
28. d) U. M. Mirsaidov, H. Zheng, Y. Casana, P. Matsudaira, Biophys. J. 2012, 102, L15.
29. T. Yokoi, J. Wakabayashi, Y. Otsuka, W. Fan, M. Iwama, R. Watanabe, K. Aramaki, A. Shimojima, T. Tatsumi, T. Okubo, Chem. Mater. 2009, 21, 3719.
30. C. C. M. C. Carcouet, M. W. P. v. d. Put, B. Mezari, P. C. M. M. Magusin, J. Laven, P. H. H. Bomans, H. Friedrich, A. C. C. Esteves, N. A. J. M. Sommerdijk, R. A. T. M. v. Benthem, G. d. With, Nano Lett. 2014, 14, 1433.
31. E. A. Ring, D. B. Peckys, M. J. Dukes, J. P. Baudoin, N. de Jonge, J. Microsc. 2011, 243, 273.
32. K. L. Klein, I. M. Anderson, N. de Jonge, J. Microsc. 2011, 242, 117.
33. L. Reimer, H. Kohl, Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation, Springer, New York, 2008.
34. D. L. Harame, L. J. Bousse, J. D. Shott, J. D. Meindl, IEEE T. Electron. Dev. 1987, 34, 1700.
35. a) J. D. Fowlkes, S. J. Randolph, P. D. Rack, J. Vac. Sci. Technol. B 2005, 23, 2825
36. b) J. D. Wnuk, S. G. Rosenberg, J. M. Gorham, W. F. van Dorp, C. W. Hagen, D. H. Fairbrother, Surf. Sci. 2011, 605, 257
37. c) Y. Liu, X. Chen, K. W. Noh, S. J. Dillon, Nanotechnology 2012, 23, 38.
38. A. Perentes, P. Hoffmann, Chem. Vapor Depos. 2007, 13, 176.
39. a) G. Buscarino, S. Agnello, F. M. Gelardi, R. Boscaino, Phys. Rev. B 2009, 80
40. b) H. Fan, C. Hartshorn, T. Buchheit, D. Tallant, R. Assink, R. Simpson, D. J. Kissel, D. J. Lacks, S. Torquato, C. J. Brinker, Nat. Mater. 2007, 6, 418.