Structural Defects Control the Energy Level Alignment at Organic/Organic Interfaces

Advanced Materials Interfaces

Volumn 1, Issue 5, 2014, Pages

  Yonezawa, Keiichirou ^a   Hinderhofer, Alexander ^a   Hosokai, Takuya ^b   Kato, Kengo ^a   Makino, Rintaro ^a   Schreiber, Frank ^c   Ueno, Nobuo ^a   Kera, Satoshi ^a  

^a CHIBA UNIVERSITY   (Japan)

^b IWATE UNIVERSITY   (Japan)

^c UNIVERSITY OF TÜBINGEN   (Germany)

Author keywords

electronic structures; energy level aliment; organic electronics; organic organic heterojunction; structural defect

Indexed keywords

DEFECT DENSITY; ELECTRONIC STRUCTURE; ELECTROSTATICS; FILM GROWTH; HETEROJUNCTIONS; INTERFACES (MATERIALS); PHOTOELECTROCHEMICAL CELLS; PHOTOVOLTAIC CELLS; REFLECTIVE COATINGS; ULTRAVIOLET PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; X RAY SCATTERING;

ELECTRON TRANSFER; ELECTROSTATIC POTENTIALS; ENERGY LEVEL ALIGNMENT; GROWTH CONDITIONS; ORGANIC ELECTRONICS; ORGANIC PHOTOVOLTAIC CELLS; PERFLUOROPENTACENES; STRUCTURAL DEFECT;

INTERFACE STATES;

EID: 84941230290     PISSN: None     EISSN: 21967350     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/admi.201400004     Document Type: Article

References (40)

1. P. Peumans, A. Yakimov, S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 2003, 93, 3693.
2. N. Koch, Chem. Phys. Chem. 2007, 8, 1438.
3. J. Hwang, A. Wan, A. Kahn, Mater. Sci. Eng. R 2009, 64, 1.
4. S. Olthof, R. Meerheim, M. Schober, K. Leo, Phys. Rev. B 2009, 79, 245308.
5. C. J. Brabec, A. Cravino, D. Meissner, N. S. Sariciftci, T. Fromherz, M. T. Rispens, L. Sanchez, J. C. Hummelen, Adv. Funct. Mater. 2001, 11, 374.
6. S. E. Gledhill, B. Scott, B. A. Gregg, J. Mater. Res. 2005, 20, 3167.
7. A. Gadisa, M. Svensson, M. R. Andersson, O. Inganas, Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 1609.
8. A. C. Morteani, P. Sreearunothai, L. M. Herz, R. H. Friend, C. Silva, Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 247402.
9. H. Fukagawa, S. Kera, T. Kataoka, S. Hosoumi, Y. Watanabe, K. Kudo, N. Ueno, Adv. Mater. 2007, 19, 665.
10. H. Y. Mao, F. Bussolotti, D. C. Qi, R. Wang, S. Kera, N. Ueno, A. T. S. Wee, W. Chen, Org. Electron. 2011, 12, 534.
11. Z. L. Guan, J. B. Kim, Y. L. Loo, A. Kahn, J. Appl. Phys. 2011, 110, 043719.
12. T. Hosokai, H. Machda, S. Kera, A. Gerlach, F. Schreiber, N. Ueno, Phys. Rev. B 2011, 83, 195310.
13. S. Braun, W. R. Salaneck, M. Fahlman, Adv. Mater. 2009, 21, 1450.
14. H. Vazquez, W. Gao, F. Flores, A. Kahn, Phys. Rev. B 2005, 71, 041306.
15. M. Linares, D. Beljonne, J. Cornil, K. Lancaster, J. L. Brédas, S. Verlaak, A. Mityashin, P. Heremans, A. Fuchs, C. Lennartz, J. Ide, R. Mereau, P. Aurel, L. Ducasse, F. Castet, J. Phys. Chem. C 2010, 114, 3215.
16. J. Ivanco, Thin Solid Films 2012, 520, 3975.
17. S. Duhm, G. Heimel, I. Salzmann, H. Glowatzki, R. L. Johnson, A. Vollmer, J. P. Rabe, N. Koch, Nat. Mater. 2008, 7, 326.
18. S. Zhong, J. Q. Zhong, H. Y. Mao, J. L. Zhang, J. D. Linb, W. Chen, Chem. Chem. Phys. 2012, 14, 14127.
19. T. W. Ng, M. F. Lo, S. T. Lee, C. S. Lee, Org. Electron. 2012, 13, 1641.
20. J. Puigdollers, A. Marsal, S. Cheylan, C. Voz, R. Alcubilla, Org. Electron. 2010, 11, 1333.
21. A. Hinderhofer, T. Hosokai, K. Yonezawa, A. Gerlach, K. Kato, K. Broch, C. Frank, J. Novak, S. Kera, N. Ueno, F. Schreiber, Appl. Phys. Lett. 2012, 101, 033307.
22. A. Hinderhofer, T. Hosokai, C. Frank, J. Novak, A. Gerlach, F. Schreiber, J. Phys. Chem. C 2011, 115, 16155.
23. A. Hinderhofer, F. Schreiber, Chem. Phys. Chem. 2012, 13, 628.
24. M. A. Heinrich, J. Paum, A. K. Tripathi, W. Frey, M. L. Steigerwald, T. Siegrist, J. Phys. Chem. C 2007, 111, 18878.
25. A. C. Dürr, F. Schreiber, K. A. Ritley, V. Kruppa, J. Krug, H. Dosch, B. Struth, Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 016104.
26. S. Kowarik, A. Gerlach, S. Sellner, F. Schreiber, L. Cavalcanti, O. Konovalov, Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 125504.
27. S. Kowarik, A. Gerlach, S. Sellner, L. Cavalcanti, O. Konovalov, F. Schreiber, Appl. Phys. A 2009, 95, 233.
28. Y. L. Huang, W. Chen, H. Huang, D. C. Qi, S. Chen, X. Y. Gao, J. Paum, A. T. S. Wee, J. Phys. Chem. C 2009, 113, 9251.
29. J. Wagner, M. Gruber, A. Hinderhofer, A. Wilke, B. Bröker, J. Frisch, P. Amsalem, A. Vollmer, A. Opitz, N. Koch, F. Schreiber, W. Brütting, Adv. Funct. Mater. 2010, 20, 4295.
30. I. Salzmann, S. Duhm, G. Heimel, M. Oehzelt, R. Kniprath, R. L. Johnson, J. P. Rabe, N. Koch, J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 12870.
31. T. Sueyoshi, H. Kakuta, M. Ono, K. Sakamoto, S. Kera, N. Ueno, Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 093303.
32. F. Bussolotti, S. Kera, K. Kudo, A. Kahn, N. Ueno, Phys. Rev. Lett. 2013, 110, 267602.
33. R. Matsubara, N. Ohashi, M. Sakai, K. Kudo, M. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 2008, 200892, 242108.
34. A. Hinderhofer, A. Gerlach, K. Broch, T. Hosokai, K. Yonezawa, K. Kato, N. Ueno, F. Schreiber, J. Phys. Chem. C 2013, 117, 1053.
35. A. Wilke, J. Endres, U. Hörmann, J. Niederhausen, R. Schlesinger, J. Frisch, P. Amsalem, J. Wagner, M. Gruber, A. Opitz, A. Vollmer, W. Brütting, A. Kahn, N. Koch, Appl. Phys. Lett. 2012, 101, 233301.
36. R. Schuster, M. Knupfer, H. Berger, Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 037402.
37. A. Hinderhofer, U. Heinemeyer, A. Gerlach, S. Kowarik, R. M. J. Jacobs, Y. Sakamoto, T. Suzuki, F. Schreiber, J. Chem.Phys. 2007, 127, 194705.
38. Y. S. Huang, S. Westenhoff, I. Avilov, P. Sreearunothai, J. M. Hodgkiss, C. Deleener, R. H. Friend, D. Beljonne, Nat. Mater. 2008, 7, 483.
39. T. Hosokai, M. Horie, T. Aoki, S. Nagamatsu, S. Kera, K. K. Okudaira, N. Ueno, J. Phys. Chem. C 2008, 112, 4643.
40. M. Birkholz, Thin Film Analysis by X-Ray Scattering, Wiley-VCH, Weinheim, Germany, 2006.