Structural, electronic, and optical properties of GaInO3: A hybrid density functional study

Journal of Applied Physics

Volumn 115, Issue 4, 2014, Pages

  Wang, V ^a   Xiao, W ^b   Ma, D M ^a   Liu, R J ^a   Yang, C M ^a  

^a XI'AN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (China)

^b GENERAL RESEARCH INSTITUTE FOR NONFERROUS METALS   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CALCULATIONS; ELECTRON ENERGY LEVELS; ELECTRONIC STRUCTURE; ENERGY DISSIPATION;

ABSORPTION CO-EFFICIENT; ELECTRON ENERGY LOSS; EXTINCTION COEFFICIENTS; FIRST-PRINCIPLES CALCULATION; HYBRID DENSITY FUNCTIONAL; HYBRID FUNCTIONAL THEORY; OPTICAL REFLECTIVITY;

REFRACTIVE INDEX;

EID: 84907513101     PISSN: 00218979     EISSN: 10897550     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4863210     Document Type: Article

References (75)

1. E. Fortunato, P. Barquinha, and R. Martins, Adv. Mater. 24, 2945 (2012).
2. T. Minami, Semicond. Sci. Technol. 20, S35 (2005).
3. K. Ellmer, Nat. Photonics 6, 809 (2012).
4. H. Hosono, Nat. Chem. 4, 252 (2012).
5. G. Hautier, A. Miglio, G. Ceder, G.-M. Rignanese, and X. Gonze, Nat. Commun. 4, 2292 (2013).
6. A. N. Tiwari, G. Khrypunov, F. Kurdzesau, D. L. Bätzner, A. Romeo, and H. Zogg, Prog. Photovolt.: Res. Appl. 12, 33 (2004).
7. G. S. Chae, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 40, 1282 (2001).
8. A. Porch, D. V. Morgan, R. M. Perks, M. O. Jones, and P. P. Edwards, J. Appl. Phys. 95, 4734 (2004).
9. A. Porch, D. V. Morgan, R. M. Perks, M. O. Jones, and P. P. Edwards, J. Appl. Phys. 96, 4211 (2004).
10. I. Hamberg and C. G. Granqvist, J. Appl. Phys. 60, R123 (1986).
11. R. G. Gordon, MRS Bull. 25, 52 (2000).
12. D. S. Ginley and C. Bright, MRS Bull. 25, 15 (2000).
13. C. Granqvist and A. Hulta˚ker, Thin Solid Films 411, 1 (2002).
14. Z. Teukam, J. Chevallier, C. Saguy, R. Kalish, D. Ballutaud, M. Barbé, F. Jomard, A. Tromson-Carli, C. Cytermann, J. E. Butler et al., Nature Mater. 2, 482 (2003).
15. D. S. Ginley, Handbook of Transparent Conductors (Springer, 2010).
16. J. van de Groep, P. Spinelli, and A. Polman, Nano Lett. 12, 3138 (2012).
17. A. Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, K. Ohtani, S. F. Chichibu, S. Fuke, Y. Segawa et al., Nature Mater. 4, 42 (2005).
18. P. D. C. King and T. D. Veal, J. Phys.: Condens. Matter 23, 334214 (2011).
19. R. Kalish, Diamond Relat. Mater. 10, 1749 (2001).
20. S. Koizumi, K. Watanabe, M. Hasegawa, and H. Kanda, Science 292, 1899 (2001).
21. J. Isberg, J. Hammersberg, E. Johansson, T. Wikstrom, D. J. Twitchen, A. J. Whitehead, S. E. Coe, and G. A. Scarsbrook, Science 297, 1670 (2002).
22. J. Chevallier, Z. Teukam, C. Saguy, R. Kalish, C. Cytermann, F. Jomard, M. Barbé, T. Kociniewski, J. E. Butler, C. Baron, and A. Deneuville, Phys. Status Solidi A 201, 2444 (2004).
23. S. B. Zhang, S.-H. Wei, and A. Zunger, Phys. Rev. B 63, 075205 (2001).
24. S.-H. Wei, Comp. Mater. Sci. 30, 337 (2004).
25. Y. Yan and S.-H. Wei, Phys. Status Solidi B 245, 641 (2008).
26. J. Robertson and S. J. Clark, Phys. Rev. B 83, 075205 (2011).
27. R. J. Cava, J. M. Phillips, J. Kwo, G. A. Thomas, R. B. van Dover, S. A. Carter, J. J. Krajewski, J. W. F. Peck, J. H. Marshall, and D. H. Rapkine, Appl. Phys. Lett. 64, 2071 (1994).
28. T. Minami, S. Takata, T. Kakumu, and H. Sonohara, Thin Solid Films 270, 22 (1995).
29. T. Minami, S. Takata, and T. Kakumu, J. Vac. Sci. Technol., A 14, 1689 (1996).
30. T. Minami, J. Vac. Sci. Technol., A 17, 1765 (1999).
31. H. Hiramatsu, M. Orita, M. Hirano, K. Ueda, and H. Hosono, J. Appl. Phys. 91, 9177 (2002).
32. G. Hautier, C. C. Fischer, A. Jain, T. Mueller, and G. Ceder, Chem. Mater. 22, 3762 (2010).
33. A. Zakutayev, T. R. Paudel, P. F. Ndione, J. D. Perkins, S. Lany, A. Zunger, and D. S. Ginley, Phys. Rev. B 85, 085204 (2012).
34. H. Mizoguchi, T. Kamiya, S. Matsuishi, and H. Hosono, Nat. Commun. 2, 470 (2011).
35. T. Minami, in Oxide Semiconductors, Semiconductors and Semimetals, edited by S. J. P. Bengt G. Svensson, and C. Jagadish (Elsevier, 2013), Vol. 88, pp. 159-200.
36. J. M. Phillips, J. Kwo, G. A. Thomas, S. A. Carter, R. J. Cava, S. Y. Hou, J. J. Krajewski, J. H. Marshall, W. F. Peck, D. H. Rapkine, and R. B. van Dover, Appl. Phys. Lett. 65, 115 (1994).
37. T. Minami, Y. Takeda, T. Kakumu, S. Takata, and I. Fukuda, J. Vac. Sci. Technol., A 15, 958 (1997).
38. A. D. Becke, J. Chem. Phys. 98, 1372 (1993).
39. J. P. Perdew, M. Ernzerhof, and K. Burke, J. Chem. Phys. 105, 9982 (1996).
40. J. Heyd, G. E. Scuseria, and M. Ernzerhof, J. Chem. Phys. 118, 8207 (2003).
41. M. Marsman, J. Paier, A. Stroppa, and G. Kresse, J. Phys.: Condens. Matter 20, 064201 (2008).
42. J. Paier, M. Marsman, and G. Kresse, Phys. Rev. B 78, 121201 (2008).
43. P. E. Blöchl, Phys. Rev. B 50, 17953 (1994).
44. G. Kresse and D. Joubert, Phys. Rev. B 59, 1758 (1999).
45. G. Kresse and J. Furthmüller, Phys. Rev. B 54, 11169 (1996).
46. G. Kresse and J. Furthmüller, Comput. Mater. Sci. 6, 15 (1996).
47. J. P. Perdew, K. Burke, and M. Ernzerhof, Phys. Rev. Lett. 77, 3865 (1996).
48. A. V. Krukau, O. A. Vydrov, A. F. Izmaylov, and G. E. Scuseria, J. Chem. Phys. 125, 224106 (2006).
49. H. J. Monkhorst and J. D. Pack, Phys. Rev. B 13, 5188 (1976).
50. M. S. Hybertsen and S. G. Louie, Phys. Rev. B 34, 5390 (1986).
51. V. Wang, see http://vaspkit.sourceforge.net for "VASPKIT, a post-processing tool for ab-initio code VASP."
52. S. Geller, J. Chem. Phys. 33, 676 (1960).
53. K. Momma and F. Izumi, J. Appl. Crystallogr. 41, 653 (2008).
54. F. Birch, Phys. Rev. 71, 809 (1947).
55. J. Paier, M. Marsman, K. Hummer, G. Kresse, I. C. Gerber, and J. G. Angyan, J. Chem. Phys. 124, 154709 (2006).
56. S. Park, B. Lee, S. H. Jeon, and S. Han, Curr. Appl. Phys. 11, S337 (2011).
57. J. B. Varley, J. R. Weber, A. Janotti, and C. G. Van de Walle, Appl. Phys. Lett. 97, 142106 (2010).
58. H. He, R. Orlando, M. A. Blanco, R. Pandey, E. Amzallag, I. Baraille, and M. Rérat, Phys. Rev. B 74, 195123 (2006).
59. A. Togo, F. Oba, and I. Tanaka, Phys. Rev. B 78, 134106 (2008).
60. S. Baroni, S. de Gironcoli, A. Dal Corso, and P. Giannozzi, Rev. Mod. Phys. 73, 515 (2001).
61. G. Henkelman, A. Arnaldsson, and H. Jónsson, Comput. Mater. Sci. 36, 354 (2006).
62. A. D. Becke and K. E. Edgecombe, J. Chem. Phys. 92, 5397 (1990).
63. A. Savin, A. Becke, J. Flad, R. Nesper, H. Preuss, and H. Von Schnering, Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 30, 409 (1991).
64. A. Savin, O. Jepsen, J. Flad, O. K. Andersen, H. Preuss, and H. G. von Schnering, Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 31, 187 (1992).
65. B. Silvi and A. Savin, Nature 371, 683 (1994).
66. A. Savin, R. Nesper, S. Wengert, and T. F. Fässler, Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 36, 1808 (1997).
67. R. Dronskowski and P. E. Blöchl, J. Phys. Chem. 97, 8617 (1993).
68. V. L. Deringer, A. L. Tchougréeff, and R. Dronskowski, J. Phys. Chem. A 115, 5461 (2011).
69. S. Maintz, V. L. Deringer, A. L. Tchougréeff, and R. Dronskowski, J. Comput. Chem. 34, 2557 (2013).
70. H. Ehrenreich and M. H. Cohen, Phys. Rev. 115, 786 (1959).
71. J. S. Toll, Phys. Rev. 104, 1760 (1956).
72. A. M. Fox, Optical Properties of Solids (Oxford University Press, 2001), Vol. 3.
73. I. Souza, J. Íñiguez, and D. Vanderbilt, Phys. Rev. Lett. 89, 117602 (2002).
74. X. Wu, D. Vanderbilt, and D. R. Hamann, Phys. Rev. B 72, 035105 (2005).
75. J. Paier, R. Asahi, A. Nagoya, and G. Kresse, Phys. Rev. B 79, 115126 (2009).