Reusable plasmonic substrates fabricated by interference lithography: A platform for systematic sensing studies

Journal of Raman Spectroscopy

Volumn 44, Issue 2, 2013, Pages 170-175

  Siegfried, Thomas ^a   Kind, Martin ^b   Terfort, Andreas ^b   Martin, Olivier J F ^c   Zharnikov, Michael ^d   Ballav, Nirmalya ^e   Sigg, Hans ^a  

^a PAUL SCHERRER INSTITUTE   (Switzerland)

^b GOETHE UNIVERSITY   (Germany)

^c EPFL   (Switzerland)

^d UNIVERSITY OF HEIDELBERG   (Germany)

^e INDIAN INSTITUTE OF SCIENCE EDUCATION AND RESEARCH   (India)

Author keywords

analytical tool; reproducibility, nanofabrication; reusability; surface enhanced Raman scattering

Indexed keywords

FABRICATION; RAMAN SCATTERING; REUSABILITY; SUBSTRATES; SURFACE SCATTERING;

ANALYTICAL TOOL; CHEMICAL ENHANCEMENTS; ENHANCED RAMAN SCATTERING; ENHANCEMENT FACTOR; PLASMONICS; RAMAN SCATTERING SUBSTRATE; REPRODUCIBILITIES; REPRODUCIBILITY, NANOFABRICATION; SURFACE ENHANCED RAMAN; SURFACE-ENHANCED RAMAN SCATTERING;

PLASMONICS;

EID: 84872943322     PISSN: 03770486     EISSN: 10974555     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/jrs.4163     Document Type: Article

References (36)

1. K. Kneipp, Y. Wang, H. Kneipp, L. T. Perelman, I. Itzkan, R. R. Dasari, M. S. Feld, Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 1667.
2. M. Rycenga, C. M. Cobley, J. Zeng, W. Li, C. H. Moran, Q. Zhang, D. Qin, Y. Xia, Chem. Rev. 2011, 111, 3669.
3. K. A. Willets, R. P. Van Duyne, in Annual Review of Physical Chemistry, Vol. 58, 2007, pp. 267.
4. Y. Zhu, R. A. Dluhy, Y. Zhao, Sensor Actuat B-Chem. 2011, 157, 42.
5. H. Wang, C. S. Levin, N. J. Halas, J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 14992.
6. H. Ko, S. Singamaneni, V. V. Tsukruk, Small 2008, 4, 1576.
7. M. Moskovits, J. Raman Spectrosc. 2005, 36, 485.
8. E. C. Le Ru, S. A. Meyer, C. Artur, P. G. Etchegoin, J. Grand, P. Lang, F. Maurel, Chem. Commun. 2011, 47, 3903-3905.
9. M. J. Natan, Faraday Discuss. 2006, 132, 321.
10. S. Sadate, Opt. Eng. 2010, 49, 106501.
11. X. Li, H. Hu, D. Li, Z. Shen, Q. Xiong, S. Li, H. J. Fan, ACS Appl. Mater. Interfaces 2012, 4, 2180.
12. S. M. Mahurin, J. John, M. J. Sepaniak, S. Dai, Appl. Spectrosc. 2011, 65, 417.
13. G. Sinha, L. E. Depero, I. Alessandri, ACS Appl. Mater. Interfaces 2011, 3, 2557.
14. U. S. Dinish, F. C. Yaw, A. Agarwal, M. Olivo, Biosens. Bioelectron. 2011, 26, 1987.
15. D. Cialla, A. März, R. Böhme, F. Theil, K. Weber, M. Schmitt, J. Popp, Anal. Bioanal. Chem. 2011, 403, 1.
16. H. Duan, H. Hu, K. Kumar, Z. Shen, J. K. W. Yang, ACS Nano 2011, 5, 7593.
17. B. Päivänranta, A. Langner, E. Kirk, C. David, Y. Ekinci, Nanotechnology 2011, 22, 375302.
18. H. J. Himmel, A. Terfort, C. Wöll, J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 12069.
19. B. Schüpbach, M. Bolte, M. Zharnikov, A. Terfort, Eur. J. Org. Chem. 2010, 16, 3041.
20. V. Auzelyte, C. Dais, P. Farquet, D. Grutzmacher, L. J. Heyderman, F. Luo, S. Olliges, C. Padeste, P. K. Sahoo, T. Thomson, A. Turchanin, C. David, H. H. Solak, J. Micro-Nanolith Mem. 2009, 8, 021204.
21. T. Siegfried, Y. Ekinci, H. H. Solak, O. J. F. Martin, H. Sigg, Appl. Phys. Lett. 2011, 99, 263302.
22. M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, G. E. Scuseria, M. A. Robb, J. R. Cheeseman, G. Scalmani, V. Barone, B. Mennucci, G. A. Petersson, H. Nakatsuji, M. Caricato, X. Li, H. P. Hratchian, A. F. Izmaylov, J. Bloino, G. Zheng, J. L. Sonnenberg, M. Hada, M. Ehara, K. Toyota, R. Fukuda, J. Hasegawa, M. Ishida, T. Nakajima, Y. Honda, O. Kitao, H. Nakai, T. Vreven, J. A. Montgomery, J. E. Peralta, F. Ogliaro, M. Bearpark, J. J. Heyd, E. Brothers, K. N. Kudin, V. N. Staroverov, R. Kobayashi, J. Normand, K. Raghavachari, A. Rendell, J. C. Burant, S. S. Iyengar, J. Tomasi, M. Cossi, N. Rega, J. M. Millam, M. Klene, J. E. Knox, J. B. Cross, V. Bakken, C. Adamo, J. Jaramillo, R. Gomperts, R. E. Stratmann, O. Yazyev, A. J. Austin, R. Cammi, C. Pomelli, J. W. Ochterski, R. L. Martin, K. Morokuma, V. G. Zakrzewski, G. A. Voth, P. Salvador, J. J. Dannenberg, S. Dapprich, A. D. Daniels, Ö. Farkas, J. B. Foresman, J. V. Ortiz, J. Cioslowski, D. J. Fox, in Gaussian 09, Revision A.02, Gaussian, Inc., Wallingford CT, Wallingford CT, 2009.
23. Z. Weihua, H. Fischer, T. Schmid, R. Zenobi, O. J. F. Martin, J. Phys. Chem. C 2009, 113, 14672.
24. M. Kind, C. Woll, Prog. Surf. Sci. 2009, 84, 230.
25. J. C. Love, L. A. Estroff, J. K. Kriebel, R. G. Nuzzo, G. M. Whitesides, Chem. Rev. 2005, 105, 1103.
26. F. Chesneau, B. Schupbach, K. Szelagowska-Kunstman, N. Ballav, P. Cyganik, A. Terfort, M. Zharnikov, Phys. Chem. Chem. Phys. 2010, 12, 12123.
27. A. Shaporenko, M. Brunnbauer, A. Terfort, M. Grunze, M. Zharnikov, J. Phys. Chem. B 2004, 108, 14462.
28. T. Winkler, N. Ballav, H. Thomas, M. Zharnikov, A. Terfort, Angew. Chem. Int. Ed. 2008, 47, 7238.
29. H. G. M. Edwards, A. F. Johnson, I. R. Lewis, D. J. Maitland, N. Webb, J. Mol. Struct. 1992, 268, 363.
30. E. C. Le Ru, M. Meyer, E. Blackie, P. G. Etchegoin, J. Raman Spectrosc. 2008, 39, 1127.
31. M. Moskovits, J. Chem. Phys. 1982, 77, 4408.
32. A. T. Zayak, Y. S. Hu, H. Choo, J. Bokor, S. Cabrini, P. J. Schuck, J. B. Neaton, Phys. Rev. Lett. 2011, 106, 083003.
33. D. Bhandari, S. M. Wells, A. Polemi, I. I. Kravchenko, K. L. Shuford, M. J. Sepaniak, J. Raman Spectrosc. 2008, 42, 1916.
34. R. L. Aggarwal, L. W. Farrar, E. D. Diebold, D. L. Polla, J. Raman Spectrosc. 2009, 40, 1331.
35. A. Barhoumi, D. Zhang, N. J. Halas, J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 14040.
36. S. M. Morton, L. Jensen, J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 4090.