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Volumn 101, Issue 19, 2012, Pages

Sub-bandgap spectral photo-response analysis of Ti supersaturated Si

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DEEP-LEVELS; HIGH DOSE; INSULATOR METAL TRANSITION; PHOTORESPONSES; RECOMBINATION CENTERS;

EID: 84869062206     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4766171     Document Type: Article
Times cited : (42)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.