Development of laser ionization mass nanoscope (LIMAS)

Surface and Interface Analysis

Volumn 44, Issue 6, 2012, Pages 635-640

  Ebata, Shingo ^a,b   Ishihara, Morio ^b   Uchino, Kiichiro ^c   Itose, Satoru ^d   Matsuya, Miyuki ^d   Kudo, Masato ^d   Bajo, Ken Ichi ^a   Yurimoto, Hisayoshi ^a  

^a HOKKAIDO UNIVERSITY   (Japan)

^b OSAKA UNIVERSITY   (Japan)

^c KYUSHU UNIVERSITY   (Japan)

^d JEOL LTD   (Japan)

Author keywords

gallium focused ion beam; laser post ionization; space samples; time of flight mass spectrometer

Indexed keywords

ABERRATION CORRECTION; BEAM-COLUMNS; LASER IONIZATION; LASER POSTIONIZATION; MASS RESOLUTION; MULTI-TURN; NANO-SIZED PARTICLES; NON-RESONANCES; SECONDARY NEUTRAL MASS SPECTROMETRY; SENSITIVE ANALYSIS; SPACE SAMPLES; SPUTTERED PARTICLES; TIME OF FLIGHT; TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS;

ION BEAMS; ION SOURCES; LIQUID METALS; MASS SPECTROMETERS; MASS SPECTROMETRY; METAL IONS;

IONIZATION;

EID: 84861587847     PISSN: 01422421     EISSN: 10969918     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/sia.4857     Document Type: Conference Paper

References (10)

1. A. Fujiwara, J. Kawaguchi, D. K. Yeomans, M. Abe, T. Mukai, T. Okada, J. Saito, H. Yano, M. Yoshikawa, D. J. Scheeres, O. Barnouin-Jha, A.F. Cheng, H. Demura, R.W. Gaskell, N. Hirata, H. Ikeda, T. Kominato, H. Miyamoto, A. M. Nakamura, R. Nakamura, S. Sasaki, K. Uesugi, Science 2006, 312, 1330.
2. D. Brownlee, P. Tsou, J. Aléon, C. M. O'D. Alexander, T. Araki, S. Bajt, G. A. Baratta, R. Bastien, P. Bland, P. Bleuet, J. Borg, J. P. Bradley, A. Brearley, F. Brenker, S. Brennan, J. C. Bridges, N. D. Browning, J. R. Brucato, E. Bullock, M. J. Burchell, H. Busemann, A. Butterworth, M. Chaussidon, A. Cheuvront, M. Chi, M. J. Cintala, B. C. Clark, S. J. Clemett, G. Cody, L. Colangeli, G. Cooper, P. Cordier, C. Daghlian, Z. Dai, L. D'Hendecourt, Z. Djouadi, G. Dominguez, T. Duxbury, J. P. Dworkin, D. S. Ebel, T. E. Economou, S. Fakra, S. A. J. Fairey, S. Fallon, G. Ferrini, T. Ferroir, H. Fleckenstein, C. Floss, G. Flynn, I. A. Franchi, M. Fries, Z. Gainsforth, J.-P. Gallien, M. Genge, M. K. Gilles, P. Gillet, J. Gilmour, D. P. Glavin, M. Gounelle, M. M. Grady, G. A. Graham, P. G. Grant, S. F. Green, F. Grossemy, L. Grossman, J. N. Grossman, Y. Guan, K. Hagiya, R. Harvey, P. Heck, G. F. Herzog, P. Hoppe, F. Hörz, J. Huth, I. D. Hutcheon, K. Ignatyev, H. Ishii, M. Ito, D. Jacob, C. Jacobsen, S. Jacobsen, S. Jones, D. Joswiak, A. Jurewicz, A. T. Kearsley, L. P. Keller, H. Khodja, A.L. D. Kilcoyne, J. Kissel, A. Krot, F. Langenhorst, A. Lanzirotti, L. Le, L. A. Leshin, J. Leitner, L. Lemelle, H. Leroux, M. C. Liu, K. Luening, I. Lyon, G. MacPherson, M. A. Marcus, K. Marhas, B. Marty, G. Matrajt, K. McKeegan, A. Meibom, V. Mennella, K. Messenger, S. Messenger, T. Mikouchi, S. Mostefaoui, T. Nakamura, T. Nakano, M. Newville, L. R. Nittler, I. Ohnishi, K. Ohsumi, K. Okudaira, D. A. Papanastassiou, R. Palma, M. E. Palumbo, R. O. Pepin, D. Perkins, M. Perronnet, P. Pianetta, W. Rao, F. J. M. Rietmeijer, F. Robert, D. Rost, A. Rotundi, R. Ryan, S. A. Sandford, C. S. Schwandt, T. H. See, D. Schlutter, J. Sheffield-Parker, A. Simionovici, S. Simon, I. Sitnitsky, C. J. Snead, M. K. Spencer, F. J. Stadermann, A. Steele, T. Stephan, R. Stroud, J. Susini, S. R. Sutton, Y. Suzuki, M. Taheri, S. Taylor, N. Teslich, K. Tomeoka, N. Tomioka, A. Toppani, J. M. Trigo-Rodríguez, D. Troadec, A. Tsuchiyama, A. J. Tuzzolino, T. Tyliszczak, K. Uesugi, M. Velbel, J. Vellenga, E. Vicenzi, L. Vincze, J. Warren, I. Weber, M. Weisberg, A. J. Westphal, S. Wirick, D. Wooden, B. Wopenka, P. Wozniakiewicz, I. Wright, H. Yabuta, H. Yano, E. D. Young, R. N. Zare, T. Zega, K. Ziegler, L. Zimmerman, E. Zinner, M. Zolensky, Science 2006, 314, 1711.
3. D. S. Burnettet, B. L. Barraclough, R. Bennett, M. Neugebauer, L. P. Oldham, C. N. Sasaki, D. Sevilla, N. Smith, E. Stansbery, D. Sweetnam, R. C. Wiens, Space Sci. Rev. 2003, 105, 509.
4. R. Mibuka, S. Hassaballa, K. Uchino, H. Yurimoto, R. Todokoro, K. Kumondai, M. Ishihara, Appl. Surf. Sci. 2008, 255, 1595.
5. M. Ishihara, S. Ebata, K. Kumondai, R. Mibuka, K. Uchino, H. Yurimoto, Surf. Interface Anal. 2010, 42, 1598.
6. S. Ebata, M. Ishihara, K. Kumondai, R. Mibuka, K. Uchino, H. Yurimoto, 2011, in prep.
7. C. Weißbäcker, H. Rose, J. Electron Microsc. 2001, 50, 383; 2002, 51, 45.
8. D. Okumura, M. Toyoda, M. Ishihara, I. Katakuse, Eur. J. Mass. Spectrom. 2005, 11, 261.
9. S. Uno, K. Honda, N. Nakamura, M. Matsuya, J. Zach, Optik 2005, 116, 438.
10. ISO/TS 24597, 2011, Methods of evaluating image sharpness.