Ripples and layers in ultrathin MoS 2 membranes

Nano Letters

Volumn 11, Issue 12, 2011, Pages 5148-5153

  Brivio, Jacopo ^a   Alexander, Duncan T L ^a   Kis, Andras ^a  

^a EPFL   (Switzerland)

Author keywords

dichalcogenides; MoS 2; transmission electron microscopy; Two dimensional materials

Indexed keywords

CRYSTALLINE ORDER; DICHALCOGENIDES; DISTINCTIVE FEATURES; ELECTRICAL AND MECHANICAL PROPERTIES; ELECTRON-BEAM DIFFRACTION; FUNDAMENTAL RESEARCH; MOLYBDENUM DISULFIDE; MOS 2; NUMBER OF LAYERS; OPTICAL IDENTIFICATION; SINGLE LAYER; SURFACE-ROUGHENING; SYMMETRY-BREAKING; TRANSMISSION ELECTRON; TWO-DIMENSIONAL MATERIALS; TWO-DIMENSIONAL SYSTEMS; ULTRA-THIN;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CRYSTALLINE MATERIALS; ELECTRIC PROPERTIES; ELECTRONS; GRAPHENE; MECHANICAL PROPERTIES; MOLYBDENUM; MONOLAYERS; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; TWO DIMENSIONAL;

MOLYBDENUM COMPOUNDS;

EID: 83655192487     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl2022288     Document Type: Article

References (35)

1. Peierls, R. E. Ann. Inst. Henri Poincare 1935, 5, 177
2. Lifshitz, E. M.; Pitaevskii, L. P. Statistical Physics Part I; Pergamon: Oxford, U.K., 1980;, Chpts 137 and 138.
3. Mermin, N. D. Phys. Rev. 1968, 176 (1) 250
4. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov, A. A. Science 2004, 306 (5696) 666-669
5. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Katsnelson, M. I.; Grigorieva, I. V.; Dubonos, S. V.; Firsov, A. A. Nature 2005, 438 (7065) 197-200
6. Meyer, J. C.; Geim, A. K.; Katsnelson, M. I.; Novoselov, K. S.; Booth, T. J.; Roth, S. Nature 2007, 446 (7131) 60-63
7. Fasolino, A.; Los, J. H.; Katsnelson, M. I. Nat. Mater. 2007, 6 (11) 858-861
8. Pacile, D.; Meyer, J. C.; Girit, C. O.; Zettl, A. Appl. Phys. Lett. 2008, 92 (13) 133107-3
9. Meyer, J. C.; Chuvilin, A.; Algara-Siller, G.; Biskupek, J.; Kaiser, U. Nano Lett. 2009, 9 (7) 2683-2689
10. Joensen, P.; Frindt, R. F.; Morrison, S. R. Mater. Res. Bull. 1986, 21 (4) 457-461
11. Divigalpitiya, W. M. R.; Morrison, S. R.; Frindt, R. F. Thin Solid Films 1990, 186 (1) 177-192
12. Ramakrishna Matte, H. S. S.; Gomathi, A.; Manna, A. K.; Late, D. J.; Datta, R.; Pati, S. K.; Rao, C. N. R. Angew. Chem. 2010, 122 (24) 4153-4156
13. Novoselov, K. S.; Jiang, D.; Schedin, F.; Booth, T. J.; Khotkevich, V. V.; Morozov, S. V.; Geim, A. K. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102 (30) 10451-10453
14. Coleman, J. N.; Lotya, M.; O'Neill, A.; Bergin, S. D.; King, P. J.; Khan, U.; Young, K.; Gaucher, A.; De, S.; Smith, R. J.; Shvets, I. V.; Arora, S. K.; Stanton, G.; Kim, H.-Y.; Lee, K.; Kim, G. T.; Duesberg, G. S.; Hallam, T.; Boland, J. J.; Wang, J. J.; Donegan, J. F.; Grunlan, J. C.; Moriarty, G.; Shmeliov, A.; Nicholls, R. J.; Perkins, J. M.; Grieveson, E. M.; Theuwissen, K.; McComb, D. W.; Nellist, P. D.; Nicolosi, V. Science 2011, 331 (6017) 568-571
15. Lebegue, S.; Eriksson, O. Phys. Rev. B 2009, 79 (11) 115409
16. Splendiani, A.; Sun, L.; Zhang, Y.; Li, T.; Kim, J.; Chim, C.-Y.; Galli, G.; Wang, F. Nano Lett. 2010, 10, 1271-1275
17. Mak, K. F.; Lee, C.; Hone, J.; Shan, J.; Heinz, T. F. Phys. Rev. Lett. 2010, 105 (13) 136805
18. Kuc, A.; Zibouche, N.; Heine, T. Condens. Matter 2011, 1104, 3670
19. Radisavljevic, B.; Radenovic, A.; Brivio, J.; Giacometti, V.; Kis, A. Nat. Nanotechnol. 2011, 6 (3) 147-150
20. Kisielowski, C.; Ramasse, Q.; Hansen, L.; Brorson, M.; Carlsson, A.; Molenbroek, A.; Topsøe, H.; Helveg, S. Angew. Chem., Int. Ed. 2010, 49 (15) 2708-2710
21. Jiao, L.; Xian, X.; Wu, Z.; Zhang, J.; Liu, Z. Nano Lett. 2008, 9 (1) 205-209
22. Dean, C. R.; Young, A. F.; Meric, I.; Lee, C.; Wang, L.; Sorgenfrei, S.; Watanabe, K.; T.; Kim, P.; Shepard, K. L.; Hone, J. Nat. Nanotechnol. 2010, 5 (10) 722-726
23. Novoselov, K. S.; Jiang, D.; Schedin, F.; Booth, T. J.; Khotkevich, V. V.; Morozov, S. V.; Geim, A. K. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102 (30) 10451-10453
24. Benameur, M. M. Nanotechnology 2011, 22 (12) 125706
25. Kis, A.; Csanyi, G.; Salvetat, J.-P.; Lee, T.-N.; Couteau, E.; Kulik, A. J.; Benoit, W.; Brugger, J.; Forró, L. Nat. Mater. 2004, 3, 153-7
26. Yuzvinsky, T. D.; Mickelson, W.; Aloni, S.; Konsek, S. L.; Fennimore, A. M.; Begtrup, G. E.; Kis, A.; Regan, B. C.; Zettl, A. Appl. Phys. Lett. 2005, 87 (8) 083103
27. Yuzvinsky, T. D.; Mickelson, W.; Aloni, S.; Begtrup, G. E.; Kis, A.; Zettl, A. Nano Lett. 2006, 6, 2718-2722
28. Wypych, F.; Solenthaler, C.; Prins, R.; Weber, T. J. Solid State Chem. 1999, 144, 430-436
29. Gordon, R. A.; Yang, D.; Crozier, E. D.; Jiang, D. T.; Frindt, R. F. Phys. Rev. B 2002, 65 (12) 125407
30. Bissessur, R.; Kanatzidis, M. G.; Schindler, J. L.; Kannewurf, C. R. J. Chem. Soc., Chem. Commun. 1993, 20, 1582-1585
31. Pashley, D. W.; Presland, A. E. B. Proc. Eur. Reg. Conf. Electron Microscopy, Delft 1960, 1, 417-422
32. Kamiya, Y.; Ando, K.; Nonoyama, M.; Uyeda, R. J. Phys. Soc. Jpn. 1960, 15, 2025.
33. Hörl, E. M. J. Appl. Phys. 1965, 36 (1) 253-261
34. Isshiki, T.; Nishio, K.; Saijo, H.; Shiojiri, M.; Yabuuchi, Y.; Takahashi, N. Microsc. Res. Tech. 1993, 25 (4) 325-334
35. Stadelmann, P. A. Ultramicroscopy 1987, 21 (2) 131-145