Evidence of chemical functionalized molecules adsorbed on the interface region of epitaxial graphene: Interface roughness and modification of the electronic properties

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 115, Issue 38, 2011, Pages 18736-18739

  Lee, Hangil ^a   Yang, Sena ^a   Choi, Junghun ^b   Park, Youngchan ^a   Kim, Sehun ^b  

^a Sookmyung Women's University   (South Korea)

^b Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CORE LEVEL PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY; CORE-LEVEL SPECTRA; EPITAXIAL GRAPHENE; FUNCTIONALIZED; GRAPHENE LAYERS; INTERFACE REGIONS; INTERFACE ROUGHNESS; LEED PATTERNS; N-TYPE DOPANTS; ORGANIC FREE RADICALS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY (STM); SECONDARY ELECTRONS; STM IMAGES; SURFACE CHANGES;

ADSORPTION; BINDING ENERGY; CHEMICAL MODIFICATION; ELECTRONIC PROPERTIES; EPITAXIAL GROWTH; FREE RADICALS; GRAPHENE; LOW ENERGY ELECTRON DIFFRACTION; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SURFACE PROPERTIES;

SURFACE ROUGHNESS;

EID: 80053079449     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp205840v     Document Type: Article

References (41)

1. Geim, A. K.; Novoselov, K. S. Nat. Mater. 2007, 6, 183-191
2. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Katsnelson, M. I.; Grigorieva, I. V.; Dubonos, S. V.; Firsov, A. A. Nature 2005, 438, 197-200
3. Zhang, Y.; Tan, Y.-W.; Stormer, H. L.; Kim, P. Nature 2005, 438, 201-204
4. Burghard, M.; Klauk, H.; Kern, K. Adv. Mater. 2009, 21, 2586-2600
5. Ohta, T.; Bostwick, A.; Seyller, T.; Horn, K.; Rotenberg, E. Science 2006, 313, 951-954
6. Gierz, I.; Riedl, C.; Starke, U.; Ast, C. R.; Kern, K. Nano Lett. 2008, 8, 4603-4607
7. Bekyarova, E.; Itkis, M. E.; Ramesh, P.; Berger, C.; Sprinkle, M.; de Heer, W. A.; Haddon, R. C. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 1336-1337
8. Zhou, S. Y.; Siegel, D. A.; Fedorov, A. V.; Lanzara, A. Phys. Rev. Lett. 2008, 101, 086402
9. Chen, W.; Chen, S.; Qi, D. C.; Gao, X. Y.; Wee, A. T. S. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 10418-10422
10. Berger, C.; Song, Z.; Li, X.; Wu, X.; Brown, N.; Naud, C.; Mayou, D.; Li, T.; Hass, J.; Marchenkov, A. N.; Conrad, E. H.; First, P. N.; de Heer, W. A. Science 2006, 312, 1191-1196
11. Choi, J.; Lee, H.; Kim, K.-J.; Kim, B.; Kim, S. J. Phys. Chem. Lett. 2010, 1, 505-509
12. Park, S.; Yang, S.; Kim, K.-J.; No, K.-H.; Lee, H. Bull. Korean Chem. Soc. 2010, 31, 2809-2812
13. Li, X. L.; Wang, X. R.; Zhang, L.; Lee, S. W.; Dai, H. J. Science 2008, 100, 206803
14. Stoller, M. D.; Park, S. J.; Zhu, Y. W.; An, J. H.; Ruoff, R. S. Nano Lett. 2008, 8, 3498-3502
15. Hulicova, D.; Kodama, M.; Hatori, H. Chem. Mater. 2006, 18, 2318-2326
16. Zhou, H.; Dang, H.; Yi, J.-H.; Nanci, A.; Rochefort, A.; Wuest, J. D. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 13774
17. Delamar, M.; Hitmi, R.; Pinson, J.; Saveant, J. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 5883
18. Duplock, E. J.; Scheffler, M.; Lindan, P. J. D. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 225502
19. Pedersen, T. G.; Flindt, C.; Pedersen, J.; Mortensen, N. A.; Jauho, A.-P.; Pedersen, K. Phys. Rev. Lett. 2008, 100, 136804
20. Son, Y.; Cohen, M.; Louie, S. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 1
21. Zhou, S. Y.; Siegel, D. A.; Fedorov, A. V.; El Gabaly, F.; Schmid, A. K.; Castro Neto, A. H.; Lee, D.-H.; Lanzara, A. Nat. Mater. 2008, 7, 259
22. Rotenberg, E.; Bostwick, A.; Ohta, T.; McChesney, J. L.; Seyller, T.; Horn, K. Nat. Mater. 2008, 7, 258
23. Krasheninnikov, A. V.; Banhart, F. Nat. Mater. 2007, 6, 723
24. Elemans, J. A. A. W.; Lei, S.; De Feyter, S. Angew. Chem., Int. Ed. 2009, 48, 7298
25. Yang, Y.; Wang, C. Chem. Soc. Rev. 2009, 38, 2576
26. Barth, J. V. Annu. Rev. Phys. Chem. 2007, 58, 375
27. Wan, L.-J. Acc. Chem. Res. 2006, 39, 334
28. Otero, R.; Rosei, F.; Besenbacher, F. Annu. Rev. Phys. Chem. 2006, 57, 497
29. Moresco, F. Phys. Rep. 2004, 399, 175
30. Choi, J.; Kim, K.-J.; Kim, B.; Lee, H.; Kim, S. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 9433-9435
31. Schreier, F. J. Quant. Spectrosc. Radiat. Transfer 1992, 48, 743-762
32. Lauffer, P.; Emtsev, K. V.; Graupner, R.; Seyller, Th.; Ley, L.; Reshanov, S. A.; Weber, H. B. Phys. Rev. B 2008, 77, 155426
33. Brar, V. W.; Zhang, Y.; Yayon, Y.; Ohta, T.; McChesney, J. L.; Bostwick, A.; Rotenberg, E.; Horn, K.; Crommie, M. F. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 122102
34. Kim, K.-J.; Lee, H.; Choi, J.; Lee, H.-K.; Kang, T.-H.; Kim, B.; Kim, S. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20, 225017
35. Tasis, D.; Tagmatarchis, N.; Bianco, A.; Prato, M. Chem. Rev. 2006, 106, 1105-1136
36. Holzinger, M.; Abraham, J.; Whelan, P.; Graupner, R.; Ley, L.; Hennrich, F.; Kappes, M.; Hirsch, A. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 8566
37. Cahen, D.; Kahn, A. Adv. Mater. 2003, 15, 271-277
38. Hibino, H.; Kageshima, H.; Kotsugi, M.; Maeda, F.; Guo, F.-Z.; Watanabe, Y. Phys. Rev. B 2009, 79, 125437
39. Alloway, D. M.; Hofmann, M.; Smith, D. L.; Gruhn, N. E.; Graham, A. L.; Colorado, R., Jr.; Wysocki, V. H.; Lee, T. R.; Lee, P. A.; Armstrong, N. R. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 11690-11699
40. Leenaerts, O.; Partoens, B.; Peeters, F. M. Phys. Rev. B 2008, 77, 125416
41. Novak, I.; Harrison, L. J.; Kovac, B.; Pratt, L. M. J. Org. Chem. 2004, 69, 7628-7634