ALD functionalized nanoporous gold: Thermal stability, mechanical properties, and catalytic activity

Nano Letters

Volumn 11, Issue 8, 2011, Pages 3085-3090

  Biener, Monika M ^a   Biener, Juergen ^a   Wichmann, Andre ^b   Wittstock, Arne ^b   Baumann, Theodore F ^a   Bäumer, Marcus ^b   Hamza, Alex V ^a  

^a LAWRENCE LIVERMORE NATIONAL LABORATORY   (United States)

^b UNIVERSITY OF BREMEN   (Germany)

Author keywords

alumina; atomic layer deposition; catalysis; core shell structures; nanoindentation; Nanoporous gold; titania

Indexed keywords

ATOMIC LAYER; CORE SHELL STRUCTURE; FUNCTIONALIZED; FUNCTIONALIZED ELECTRODES; HIGH TEMPERATURE; LONG TERM STABILITY; NANO-POROUS; NANOPOROUS GOLD; NANOSCALE MORPHOLOGY; THICK OXIDE FILMS; TIO; TITANIA;

ATOMIC LAYER DEPOSITION; CATALYSIS; ENERGY HARVESTING; GOLD; GOLD COATINGS; GOLD DEPOSITS; HIGH TEMPERATURE APPLICATIONS; MECHANICAL PROPERTIES; NANOINDENTATION; NANOSTRUCTURED MATERIALS; OXIDE FILMS; THERMODYNAMIC STABILITY; TITANIUM DIOXIDE;

CATALYST ACTIVITY;

EID: 80051611750     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl200993g     Document Type: Article

References (53)

1. Wittstock, A.; Zielasek, V.; Biener, J.; Friend, C. M.; Baumer, M. Science 2010, 327, 319-322
2. Dongqing, H.; Tingting, X.; Jixin, S.; Xiaohong, X.; Yi, D. ChemCatChem 2010, 2, 383-386
3. Ding, Y.; Chen, M. W. MRS Bull. 2009, 34, 569-576
4. Jia, J.; Cao, L.; Wang, Z. Langmuir 2008, 24, 5932-5936
5. Xu, C. X.; Su, J. X.; Xu, X. H.; Liu, P. P.; Zhao, H. J.; Tian, F.; Ding, Y. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 42-43
6. Zielasek, V.; Jurgens, B.; Schulz, C.; Biener, J.; Biener, M. M.; Hamza, A. V.; Bäumer, M. Angew. Chem., Int. Ed. 2006, 45, 8241-8244
7. Lang, X. Y.; Guo, H.; Chen, L. Y.; Kudo, A.; Yu, J. S.; Zhang, W.; Inoue, A.; Chen, M. W. J. Phys. Chem. C. 2010, 114, 2600-2603
8. Lang, X. Y.; Guan, P. F.; Zhang, L.; Fujita, T.; Chen, M. W. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 073701
9. Lang, X. Y.; Chen, L. Y.; Guan, P. F.; Fujita, T.; Chen, M. W. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 213109
10. Biener, J.; Nyce, G. W.; Hodge, A. M.; Biener, M. M.; Hamza, A. V.; Maier, S. A. Adv. Mater. 2008, 20, 1211-1217
11. Dixon, M. C.; Daniel, T. A.; Hieda, M.; Smilgies, D. M.; Chan, M. H. W.; Allara, D. L. Langmuir 2007, 23, 2414-2422
12. Kucheyev, S. O.; Hayes, J. R.; Biener, J.; Huser, T.; Talley, C. E.; Hamza, A. V. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 053102
13. Biener, J.; Wittstock, A.; Zepeda-Ruiz, L. A.; Biener, M. M.; Zielasek, V.; Kramer, D.; Viswanath, R. N.; Weissmuller, J.; Bäumer, M.; Hamza, A. V. Nat. Mater. 2009, 8, 47-51
14. Kramer, D.; Viswanath, R. N.; Weissmueller, J. Nano Lett. 2004, 4, 793-796
15. Weissmüller, J.; Viswanath, R. N.; Kramer, D.; Zimmer, P.; Wuerschum, R.; Gleiter, H. Science 2003, 300, 312-315
16. Erlebacher, J.; Aziz, M. J.; Karma, A.; Dimitrov, N.; Sieradzki, K. Nature 2001, 410, 450-453
17. Erlebacher, J.; Sieradzki, K. Scr. Mater. 2003, 49, 991-996
18. Li, R.; Sieradzki, K. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 1168-1171
19. Kertis, F.; Snyder, J.; Govada, L.; Khurshid, S.; Chayen, N.; Erlebacher, J. JOM 2010, 62, 50-56
20. Biener, J.; Hodge, A. M.; Hayes, J. R.; Volkert, C. A.; Zepeda-Ruiz, L. A.; Hamza, A. V.; Abraham, F. F. Nano Lett. 2006, 6, 2379-2382
21. Snyder, J.; Asanithi, P.; Dalton, A. B.; Erlebacher, J. Adv. Mater. 2008, 20, 4883-+
22. Xu, C. X.; Wang, R. Y.; Chen, M. W.; Zhang, Y.; Ding, Y. Phys. Chem. Chem. Phys. 2010, 12, 239-246
23. Biener, J.; Wittstock, A.; Biener, M. M.; Nowitzki, T.; Hamza, A. V.; Baeumer, M. Langmuir 2010, 26, 13736-13740
24. Ge, X. B.; Yan, X. L.; Wang, R. Y.; Tian, F.; Ding, Y. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 7379-7384
25. Bond, G. C.; Thompson, D. T. Gold Bull. 2000, 33, 41-51
26. Baumann, T. F.; Biener, J.; Wang, Y. M. M.; Kucheyev, S. O.; Nelson, E. J.; Satcher, J. H.; Elam, J. W.; Pellin, M. J.; Hamza, A. V. Chem. Mater. 2006, 18, 6106-6108
27. Biener, J.; Baumann, T. F.; Wang, Y. M.; Nelson, E. J.; Kucheyev, S. O.; Hamza, A. V.; Kemell, M.; Ritala, M.; Leskela, M. Nanotechnology 2007, 18, 055303
28. George, S. M. Chem. Rev. 2010, 110, 111-131
29. Lee, D.; Wei, X.; Chen, X.; Zhao, M.; Jun, S. C.; Hone, J.; Herbert, E. G.; Oliver, W. C.; Kysar, J. W. Scr. Mater. 2007, 56, 437-440
30. Qian, L. H.; Shen, W.; Das, B.; Shen, B.; Qin, G. W. W. Chem. Phys. Lett. 2009, 479, 259-263
31. Qian, L. H.; Shen, W.; Shen, B.; Qin, G. W. W.; Das, B. Nanotechnology. 2010, 21, 305705
32. Jakschik, S.; Schroeder, U.; Hecht, T.; Gutsche, M.; Seidl, H.; Bartha, J. W. Thin Solid Films 2003, 425, 216-220
33. Katamreddy, R.; Inman, R.; Jursich, G.; Soulet, A.; Nicholls, A.; Takoudis, C. Thin Solid Films 2007, 515, 6931-6937
34. Standridge, S. D.; Schatz, G. C.; Hupp, J. T. Langmuir 2009, 25, 2596-2600
35. Linsebigler, A. L.; Lu, G. Q.; Yates, J. T. Chem. Rev. 1995, 95, 735-758
36. Jia, C. C.; Yin, H. M.; Ma, H. Y.; Wang, R. Y.; Ge, X. B.; Zhou, A. Q.; Xu, X. H.; Ding, Y. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 16138-16143
37. Cheah, S. K.; Perre, E.; Rooth, M.; Fondell, M.; Hårsta, A.; Nyholm, L.; Boman, M.; Gustafsson, T.; Lu, J.; Simon, P.; Edström, K. Nano Lett. 2009, 9, 3230-3233
38. Hodge, A. M.; Biener, J.; Hayes, J. R.; Bythrow, P. M.; Volkert, C. A.; Hamza, A. V. Acta Mater. 2007, 55, 1343-1349
39. Aarik, J.; Aidla, A.; Mändar, H.; Uustare, T. Appl. Surf. Sci. 2001, 172, 148-158
40. Groner, M. D.; Fabreguette, F. H.; Elam, J. W.; George, S. M. Chem. Mater. 2004, 16, 639-645
41. Oliver, W. C.; Pharr, G. M. J. Mater. Res. 1992, 7, 1564-1583
42. Kramer, D.; Viswanath, R. N.; Weissmüller, J. Nano Lett. 2004, 4, 793-796
43. Liu, X. W.; Hu, J.; Pan, B. C. Physica E 2008, 40, 3042-3048
44. Gibson, L. J.; Ashby, M. F. Cellular Solids: Structure and Properties, 2 nd. ed.; Cambridge University Press: Cambridge, U.K., 1997.
45. Biener, J.; Hodge, A. M.; Hamza, A. V.; Hsiung, L. M.; Satcher, J. H. J. Appl. Phys. 2005, 97, 024301
46. Hodge, A. M.; Doucette, R. T.; Biener, M. M.; Biener, J.; Cervantes, O.; Hamza, A. V. J. Mater. Res. 2009, 24, 1600-1606
47. Kiely, J. D.; Houston, J. E. Phys. Rev. B 1998, 57, 12588-12594
48. 3/ZnO dielectric films grown at low temperature for RF MEMS. In Micromachining and Microfabrication Process Technology X; Proceedings of SPIE, Bellinghan, Washington, Maher, M. A.; Stewart, H. D., Eds.; 2005; Vol. 5715, pp 159-166. (Pubitemid 40954754)
49. Tripp, M. K.; Stampfer, C.; Miller, D. C.; Helbling, T.; Hermann, C. F.; Hierold, C.; Gall, K.; George, S. M.; Bright, V. M. Sens. Actuators, A 2006, 130, 419-429
50. Yin, S.; Inoue, Y.; Uchida, S.; Fujishiro, Y.; Sato, T. J. Mater. Res. 1998, 13, 844-847
51. Biener, J.; Farfan-Arribas, E.; Biener, M.; Friend, C. M.; Madix, R. J. J. Chem. Phys. 2005, 123, 094705
52. Diebold, U. Surf. Sci. Rep. 2003, 48, 53-229
53. Whitney, A. V.; Elam, J. W.; Stair, P. C.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 16827-16832