메뉴 건너뛰기




Volumn 59, Issue 21, 2011, Pages 458-460

Synchrotron X-ray reflectivity for characterization of the initial ALD growth of TaN

Author keywords

TaN ALD; X ray reflectivity

Indexed keywords


EID: 79961236470     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.3938/jkps.59.458     Document Type: Article
Times cited : (3)

References (17)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.