Chemical nature of N-ions incorporated into epitaxial ZnO films

Physica Status Solidi (B) Basic Research

Volumn 248, Issue 2, 2011, Pages 327-333

  Hoffmann, Patrick ^a   Pettenkofer, Christian ^a  

^a HAHN MEITNER INSTITUT   (Germany)

Author keywords

Doping; II VI semiconductors; Photoelectron spectroscopy; X ray spectroscopy

Indexed keywords

EID: 79251522539     PISSN: 03701972     EISSN: 15213951     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssb.201046263     Document Type: Article

References (23)

1. D. C. Look, B. Claflin, Ya. I. Alivov, and S. J. Park, Phys. Status Solidi A 201, 2203 (2004);.
2. C. G. Van de Walle, Phys. Rev. Lett. 85, 1012 (2000).
3. Ü. Özgür, Ya. I. Alivov. C. Liu, A. Teke, M. A. Reshchikov, S. Doǧan, V. Avrutin, S.-J. Cho, and H. Morkoç, J. Appl. Phys. 98, 041301 (2005).
4. G. Brauer, W. Anwand, W. Skorupa, J. Kuriplach, O. Melikhova, C. Moisson, H. von Wenckstern, H. Schmidt, M. Lorenz, and M. Grundmann, Phys. Rev. B 74, 045208 (2006).
5. Z. Y. Xiao, Y. C. Liu, B. H. Li, J. Y. Zhang, D. X. Zhao, Y. M. Lu, D. Z. Shen, and X. W. Fan, Semicond. Sci. Technol. 21, 1522 (2006).
6. M. Futsuhara, K. Yoshioka, and O. Takai, Thin Solid Films 322, 274 (1998).
7. M. Petravic, P. N. K. Deenapanray, V. A. Coleman, C. Jagadish, K.-J. Kim, B. Kim, K. Koike, S. Sasa, M. Inoue, and M. Yano, Surf. Sci. 600, L81 (2006).
8. M. Petravic, Q. Gao, D. Llewellyn, P. N. K. Deenapanray, D. Macdonald, and C. Crotti, Chem. Phys. Lett. 425, 262 (2006).
9. C. R. Gorla, N. W. Emanetoglu, S. Liang, W. E. Mayo, Y. Lu, M. Wraback, and H. Shen, J. Appl. Phys. 85, 2595 (1999).
10. C. L. Perkins, S. H. Lee, X. N. Li, S. E. Asher, and T. J. Coutts, J. Appl. Phys. 97, 034907 (2005).
11. C. W. Zou, X. D. Yan, J. Han, R. Q. Chen, W. Gao, and J. Metson, Appl. Phys. Lett. 94, 171903 (2009).
12. J.-D. Hecht, F. Frost, D. Hirsch, H. Neumann, A. Schindler, A. B. Preobrajenski, and T. Chassé, J. Appl. Phys. 90, 6066 (2001).
13. J. F. Moulder, W. F. Stickle, P. E. Sobol, and K. D. Bomben, in: Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy, edited by J. Chastain and R. C. King, Jr. ( Physical Electronics, Eden Prairie, MN, 1995).
14. R. Feifel, M. Andersson, G. Öhrwall, S. L. Sorensen, M. N. Piancastelli, M. Tchaplyguine, O. Björneholm, L. Karlsson, and S. Svensson, Chem. Phys. Lett. 383, 222 (2004).
15. N. D. Shinn and K. L. Tsang, J. Vac. Sci. Technol. A 9, 1558 (1991).
16. J. C. Fuggle and D. Menzel, Surf. Sci. 79, 1 (1979).
17. S. Tanuma, C. J. Powell, and D. R. Penn, Surf. Interface Anal. 17, 911 (1991).
18. G. Remmers, M. Domke, A. Puschmann, T. Mandel, and G. Kaindl, Chem. Phys. Lett. 214, 241 (1993).
19. P. Zhu, T. Shimada, H. Kondoh, I. Nakai, M. Nagasaka, and T. Ohta, Surf. Sci. 565, 232 (2004).
20. R. W. Mayer, M. Hävecker, A. Knop-Gericke, and R. Schlögl, Catal. Lett. 74, 115 (2001).
21. P. Hoffmann, R. P. Mikalo, and D. Schmeißer, J. Non-Cryst. Solids 303, 6 (2002).
22. A. Bozanic, Z. Majlinger, M. Petravic, Q. Gao, D. Llewellyn, C. Crotti, and Y.-W. Yang, J. Vac. Sci. Technol. A26, 592 (2008).
23. S. Andres, C. Pettenkofer, F. Speck, and T. Seyller, J. Appl. Phys. 103, 103720 (2008).