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Volumn 85, Issue 4, 2009, Pages

Dopant contrast in the helium ion microscope

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EID: 79051469479     PISSN: 02955075     EISSN: 12864854     Source Type: Journal    
DOI: 10.1209/0295-5075/85/46001     Document Type: Article
Times cited : (16)

References (12)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.