메뉴 건너뛰기




Volumn 57, Issue 61, 2010, Pages 1811-1815

Optical, electrical, and structural properties of ultrathin Zirconium-oxide films

Author keywords

Annealing; Ellipsometry; High k; Tauc Lorentz

Indexed keywords


EID: 78650356453     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.3938/jkps.57.1811     Document Type: Article
Times cited : (6)

References (14)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.