Suboxide interface in disproportionating a -SiO studied by x-ray Raman scattering

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 81, Issue 20, 2010, Pages

  Sakko, A ^a   Sternemann, C ^b   Sahle, Ch J ^b   Sternemann, H ^b   Feroughi, O M ^b   Conrad, H ^b,c   Djurabekova, F ^a   Hohl, A ^d   Seidler, G T ^e   Tolan, M ^b   Hamalainen K ^a  

^a UNIVERSITY OF HELSINKI   (Finland)

^b TU DORTMUND UNIVERSITY   (Germany)

^c DESY   (Germany)

^d DARMSTADT UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

^e UNIVERSITY OF WASHINGTON   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 77955734333     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.81.205317     Document Type: Article

References (55)

1. A. Zimina, S. Eisebitt, W. Eberhardt, J. Heitmann, and M. Zacharias, Appl. Phys. Lett. 88, 163103 (2006). 10.1063/1.2193810
2. V. Kapaklis, C. Politis, P. Poulopoulos, and P. Schweiss, Appl. Phys. Lett. 87, 123114 (2005). 10.1063/1.2043246
3. M. Mamiya, H. Takei, M. Kikuchi, and C. Uyeda, J. Cryst. Growth 229, 457 (2001). 10.1016/S0022-0248(01)01202-7
4. A. Hohl, T. Wieder, P. A. van Aken, T. E. Weirich, G. Denninger, M. Vidal, S. Oswald, C. Deneke, J. Mayer, and H. Fuess, J. Non-Cryst. Solids 320, 255 (2003). 10.1016/S0022-3093(03)00031-0
5. J. Heitmann, F. Müller, L. Yi, M. Zacharias, D. Kovalev, and F. Eichhorn, Phys. Rev. B 69, 195309 (2004). 10.1103/PhysRevB.69.195309
6. S. Boninelli, F. Iacona, G. Franzó, C. Bongiorno, C. Spinella, and F. Priolo, J. Phys.: Condens. Matter 19, 225003 (2007). 10.1088/0953-8984/19/ 22/225003
7. O. Jambois, H. Rinnert, X. Devaux, and M. Vergnat, J. Appl. Phys. 100, 123504 (2006). 10.1063/1.2402976
8. G. Ledoux, J. Gong, F. Huisken, O. Guillois, and C. Reynaud, Appl. Phys. Lett. 80, 4834 (2002). 10.1063/1.1485302
9. M. Luppi and S. Ossicini, Phys. Rev. B 71, 035340 (2005). 10.1103/PhysRevB.71.035340
10. D. König, J. Rudd, M. A. Green, and G. Conibeer, Phys. Rev. B 78, 035339 (2008). 10.1103/PhysRevB.78.035339
11. C. Sternemann, J. A. Soininen, M. Volmer, A. Hohl, G. Vanko, S. Streit, and M. Tolan, J. Phys. Chem. Solids 66, 2277 (2005). 10.1016/j.jpcs.2005.09.050
12. J. J. van Hapert, A. M. Vredenberg, E. E. van Faassen, N. Tomozeiu, W. M. Arnoldbik, and F. H. P. M. Habraken, Phys. Rev. B 69, 245202 (2004). 10.1103/PhysRevB.69.245202
13. J. Stöhr, NEXAFS Spectroscopy (Springer-Verlag, Berlin, 1992).
14. W. Schülke, Electron Dynamics by Inelastic X-Ray Scattering (Oxford University Press, Oxford, 2007).
15. J. A. Soininen, A. Mattila, J. J. Rehr, S. Galambosi, and K. Hämäläinen, J. Phys.: Condens. Matter 18, 7327 (2006). 10.1088/0953-8984/18/31/025
16. U. Bergmann, P. Glatzel, and S. P. Cramer, Microchem. J. 71, 221 (2002). 10.1016/S0026-265X(02)00014-0
17. H. Conrad, F. Lehmkühler, C. Sternemann, A. Sakko, D. Paschek, L. Simonelli, S. Huotari, O. Feroughi, M. Tolan, and K. Hämäläinen, Phys. Rev. Lett. 103, 218301 (2009). 10.1103/PhysRevLett.103.218301
18. J. S. Tse, D. M. Shaw, D. D. Klug, S. Patchkovskii, G. Vankó, G. Monaco, and M. Krisch, Phys. Rev. Lett. 100, 095502 (2008). 10.1103/PhysRevLett. 100.095502
19. M. Balasubramanian, C. S. Johnson, J. O. Cross, G. T. Seidler, T. T. Fister, E. A. Stern, C. Hamner, and S. O. Mariager, Appl. Phys. Lett. 91, 031904 (2007). 10.1063/1.2752755
20. K. Hämäläinen, S. Galambosi, J. A. Soininen, E. L. Shirley, J.-P. Rueff, and A. Shukla, Phys. Rev. B 65, 155111 (2002). 10.1103/PhysRevB.65.155111
21. W. L. Mao, H. K. Mao, Y. Meng, P. J. Eng, M. Y. Hu, P. Chow, Y. Q. Cai, J. F. Shu, and R. J. Hemley, Science 314, 636 (2006). 10.1126/science.1132884
22. T. Pylkkänen, V. M. Giordano, J.-C. Chervin, A. Sakko, M. Hakala, J. A. Soininen, K. Hämäläinen, G. Monaco, and S. Huotari, J. Phys. Chem. B 114, 3804 (2010). 10.1021/jp912208v
23. O. M. Feroughi, C. Sternemann, Ch. J. Sahle, M. A. Schroer, H. Sternemann, H. Conrad, A. Hohl, G. T. Seidler, J. Bradley, T. T. Fister, M. Balasubramanian, A. Sakko, K. Pirkkalainen, K. Hämäläinen, and M. Tolan, Appl. Phys. Lett. 96, 081912 (2010). 10.1063/1.3323106
24. T. T. Fister, G. T. Seidler, L. Wharton, A. R. Battle, T. B. Ellis, J. O. Cross, A. T. Macrander, W. T. Elam, T. A. Tyson, and Q. Quian, Rev. Sci. Instrum. 77, 063901 (2006). 10.1063/1.2204581
25. H. Sternemann, C. Sternemann, G. T. Seidler, T. T. Fister, A. Sakko, and M. Tolan, J. Synchrotron Radiat. 15, 162 (2008). 10.1107/S0909049508001696
26. 100 eV 120 eV d ω S SiO x (q, ω) = 00 eV 120 eV d ω S Si + SiO 2 (q, ω)
27. J. A. Soininen and E. L. Shirley, Phys. Rev. B 64, 165112 (2001). 10.1103/PhysRevB.64.165112
28. E. L. Shirley, Phys. Rev. Lett. 80, 794 (1998). 10.1103/PhysRevLett.80. 794
29. J. A. Soininen, K. Hämäläinen, W. A. Caliebe, C.-C. Kao, and E. L. Shirley, J. Phys.: Condens. Matter 13, 8039 (2001). 10.1088/0953-8984/13/35/311
30. J. A. Soininen, A. L. Ankudinov, and J. J. Rehr, Phys. Rev. B 72, 045136 (2005). 10.1103/PhysRevB.72.045136
31. A. Sakko, M. Hakala, J. A. Soininen, and K. Hämäläinen, Phys. Rev. B 76, 205115 (2007). 10.1103/PhysRevB.76.205115
32. C. Ceriani, A. Laio, E. Fois, A. Gamba, R. Martoňák, and M. Parrinello, Phys. Rev. B 70, 113403 (2004). 10.1103/PhysRevB.70.113403
33. M. Woodley and R. Catlow, Nature Mater. 7, 937 (2008). 10.1038/nmat2321
34. T. Watanabe, D. Yamasaki, K. K. Tatsumura, and I. Ohdomari, Appl. Surf. Sci. 234, 207 (2004). 10.1016/j.apsusc.2004.05.035
35. J. Samela, K. Nordlund, V. N. Popok, and E. E. B. Campbell, Phys. Rev. B 77, 075309 (2008). 10.1103/PhysRevB.77.075309
36. F. Djurabekova and K. Nordlund, Phys. Rev. B 77, 115325 (2008). 10.1103/PhysRevB.77.115325
37. This choice of cutoff gave very similar results to using 4.5.
38. L. Triguero, L. G. M. Pettersson, and H. Agren, Phys. Rev. B 58, 8097 (1998). 10.1103/PhysRevB.58.8097
39. STOBE-DEMON version 3.0 (2009), K. Hermann, L. G. M. Pettersson, M. E. Casida, C. Daul, A. Goursot, A. Koester, E. Proynov, A. St-Amant, and D. R. Salahub. Contributing authors: V. Carravetta, H. Duarte, C. Friedrich, N. Godbout, J. Guan, C. Jamorski, M. Leboeuf, M. Leetmaa, M. Nyberg, S. Patchkovskii, L. Pedocchi, F. Sim, L. Triguero, and A. Vela.
40. J. C. Slater, Adv. Quantum Chem. 6, 1 (1972). 10.1016/S0065-3276(08) 60541-9
41. B. Hammer, L. B. Hansen, and J. K. Nørskov, Phys. Rev. B 59, 7413 (1999). 10.1103/PhysRevB.59.7413
42. J. P. Perdew, K. Burke, and M. Ernzerhof, Phys. Rev. Lett. 77, 3865 (1996). 10.1103/PhysRevLett.77.3865
43. S. Huzinaga, L. Seijo, Z. Barandiarán, and M. Klobukowski, J. Chem. Phys. 86, 2132 (1987). 10.1063/1.452111
44. L. G. M. Pettersson, U. Wahlgren, and O. Gropen, J. Chem. Phys. 86, 2176 (1987). 10.1063/1.452115
45. C. Sternemann, J. A. Soininen, S. Huotari, G. Vankó, M. Volmer, R. A. Secco, J. S. Tse, and M. Tolan, Phys. Rev. B 72, 035104 (2005). 10.1103/PhysRevB.72.035104
46. S. Albrecht, L. Reining, R. Del Sole, and G. Onida, Phys. Rev. Lett. 80, 4510 (1998). 10.1103/PhysRevLett.80.4510
47. The effect of using, e.g., energy range 105-115 eV (instead of 100-120 eV) in the fitting procedure, described in Sec., is much smaller than the error bars in Fig..
48. M. P. Prange, J. J. Rehr, G. Rivas, J. J. Kas, and John W. Lawson, Phys. Rev. B 80, 155110 (2009). 10.1103/PhysRevB.80.155110
49. H. R. Philipp, J. Phys. Chem. Solids 32, 1935 (1971). 10.1016/S0022-3697(71)80159-2
50. H. R. Philipp, J. Non-Cryst. Solids 8-10, 627 (1972). 10.1016/0022-3093(72)90202-5
51. F. G. Bell and L. Ley, Phys. Rev. B 37, 8383 (1988). 10.1103/PhysRevB.37. 8383
52. J. H. Oh, H. W. Yeom, Y. Hagimoto, K. Ono, M. Oshima, N. Hirashita, M. Nywa, A. Toriumi, and A. Kakizaki, Phys. Rev. B 63, 205310 (2001). 10.1103/PhysRevB.63.205310
53. C. Tarrio and S. E. Schnatterly, J. Opt. Soc. Am. B 10, 952 (1993). 10.1364/JOSAB.10.000952
54. A. Schacht, C. Sternemann, A. Hohl, H. Sternemann, Ch. J. Sahle, M. Paulus, and M. Tolan, J. Non-Cryst. Solids 355, 1285 (2009). 10.1016/j.jnoncrysol.2009.04.040
55. Ch. J. Sahle, C. Sternemann, H. Conrad, A. Herdt, O. M. Feroughi, M. Tolan, A. Hohl, R. Wagner, D. Lützenkirchen-Hecht, R. Frahm, A. Sakko, and K. Hämäläinen, Appl. Phys. Lett. 95, 021910 (2009). 10.1063/1.3183581