Effects of ionic side groups attached to polydimethylsiloxanes on lubrication of silicon oxide surfaces

Langmuir

Volumn 25, Issue 17, 2009, Pages 9814-9823

  Hsiao, Erik ^a   Kim, Don ^b   Kim, Seong H ^a  

^a The Pennsylvania State University   (United States)

^b Pukyong National University   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BOUNDARY FILMS; CATIONIC GROUPS; CATIONIC POLYMERS; CONTROL SAMPLES; DIMETHYLSILOXANE; HIGH LOAD; IONIC INTERACTION; LAYER THICKNESS; LOW MOLECULAR WEIGHT; LUBRICANT FILMS; LUBRICANT MOLECULES; LUBRICATION EFFECT; MACRO SCALE; MOBILE LAYERS; MOLE PERCENT; NANO SCALE; QUATERNARY AMMONIUM; SCANNING POLARIZATION FORCE MICROSCOPY; SILICON OXIDE SURFACES; SUBSTRATE SURFACE; SYNERGISTIC EFFECT; TOPOGRAPHIC FEATURES; TRIBOLOGICAL TESTS; TRIMETHYLAMINE; WATER CONTACT ANGLE;

AMINES; AMMONIUM COMPOUNDS; CONTACT ANGLE; IONIZATION OF LIQUIDS; LUBRICATION; MOLECULES; MULTILAYERS; POLYDIMETHYLSILOXANE; POLYMER FILMS; POLYMERS; SILICON OXIDES; SILICONES; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

MULTILAYER FILMS;

EID: 69949186317     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la900921m     Document Type: Article

References (43)

1. Kim, S. H.; Asay, D. B.; Dugger, M. T. Nano Today 2007, 2, 22.
2. Komvopoulos, K. Wear 1996, 200, 305.
3. Ashurst, W. R.; Yau, C.; Carraro, C.; Maboudian, R.; Dugger, M. T. J. Microelectromech. Syst. 2001, 10, 41.
4. Jun, Y.; Zhu, X. Y. J. Adhes. Sci. Technol. 2003, 17, 593.
5. Romig, A. D.; Dugger, M. T.; McWhorter, P. J. Acta Mater. 2003, 51, 5837.
6. Salmeron, M. Tribol. Lett. 2001, 10, 69.
7. Linford, M. R.; Fenter, P.; Eisenberger, P. M.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 3145.
8. Eapen, K. C.; Patton, S. T.; Smallwood, S. A.; Nainaparampil, J. J. Surf. Coat. Technol. 2005, 197, 270.
9. Smallwood, S. A.; Eapen, K. C.; Patton, S. T.; Zabinski, J. S. Wear 2006, 260, 1179.
10. Kasai, P. H. J. Info. Stor. Proc. Syst. 1999, 7, 23.
11. Ma, X.; Gui, J.; Smoliar, L.; Grannen, K.; Marchon, B.; Bauer, C. L.; Jhon, M. S. Phys. Rev. E 1999, 59, 722.
12. Waltman, R. J.; Khurshudov, A.; Tyndall, G. W. Tribol. Lett. 2002, 12, 163.
13. Xu, L.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M.; Tang, H. A.; Gui, J.; Marchon, B. J. Chem. Phys. 2000, 112, 2952.
14. Waltman, R. J.; Tyndall, G. W.; Wang, G. J.; Deng, H. Tribol. Lett. 2004, 16, 215.
15. Waltman, R. J.; Zhang, H.; Khurshudov, A.; Pocker, D.; Karplus, M. A.; York, B.; Xiao, Q. F.; Zadoori, H.; Thiele, J. U.; Tyndall, G. W. Tribol. Lett. 2002, 12, UNSP 1023.
16. Bowles, A. P.; Hsia, Y. T.; Jones, P. M.; Schneider, J. W.; White, L. R. Langmuir 2006, 22, 11436.
17. Eapen, K. C.; Patton, S. T.; Zabinski, J. S. Tribol. Lett. 2002, 12, 35.
18. Choi, J. H.; Kawaguchi, M.; Kato, T. Tribol. Lett. 2003, 15, 353.
19. Eapen, K. C.; Patton, S. T.; Smallwood, S. A.; Phillips, B. S.; Zabinski, J. S. J. Microelectromech. Syst. 2005, 14, 954.
20. Nainaparampil, J. J.; Eapen, K. C.; Zabinski, J. S. J. Vac. Sci. Technol., B 2004, 22, 2337.
21. Satyanarayana, N.; Sinha, S. K. J. Phys. D: Appl. Phys. 2005, 35, 3512.
22. Fox, M. F.; Priest, M. Proc. - Inst. Mech. Eng. 2008, 222, 291.
23. Liu, W. M.; Ye, C. F.; Gong, Q. Y.; Wang, H. Z.; Wang, P. Tribol. Lett. 2002, 13, 81.
24. Phillips, B. S.; John, G.; Zabinski, J. S. Tribol. Lett. 2007, 26, 85.
25. Ye, C. F.; Liu, W. M.; Chen, Y. X.; Yu, L. G. Chem. Commun. 2001, 2244.
26. Liu, W.; Ye, C.; Chen, Y.; Ou, Z.; Sun, D. C. Tribol. Int. 2002, 35, 503.
27. Ye, C. F.; Liu, W. M.; Chen, Y. X.; Ou, Z. W. Wear 2002, 253, 579.
28. Asay, D. B.; Dugger, M. T.; Kim, S. H. Tribol. Lett. 2008, 29, 61.
29. Asay, D. B.; Dugger, M. T.; Ohlhausen, J. A.; Kim, S. H. Langmuir 2008, 24, 155.
30. Strawhecker, K.; Asay, D. B.; McKinney, J.; Kim, S. H. Tribol. Lett. 2005, 19, 17.
31. Sabourault, N.; Mignani, G.; Wagner, A.; Mioskowski, C. Org. Lett. 2002, 4, 2117.
32. Asay, D. B.; Kim, S. H. Rev. Sci. Instrum., in press.
33. Sader, J. E.; Chon, J. W. M.; Mulvaney, P. Rev. Sci. Instrum. 1999, 70, 3967.
34. Hu, J.; Xiao, X. D.; Salmeron, M. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 476.
35. Claesson, P. M.; Dedinaite, A.; Rojas, O. J. Adv. Colloid Interface Sci. 2003, 104, 53.
36. Hoogeveen, N. G.; Stuart, M. A. G.; Fleer, G. J.; Bohmer, M. R. Langmuir 1996, 12, 3675.
37. Chen, Z.; Shen, Y. R.; Somorjai, G. A. Annu. Rev. Phys. Chem. 2002, 53, 437.
38. Thomas, R. C.; Tangyunyong, P.; Houston, J. E.; Michalske, T. A.; Crooks, R. M. J. Phys. Chem. 1994, 98, 4493.
39. Mate, C. M. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 3323.
40. Mate, C. M.; Lorenz, M. R.; Novotny, V. J. J. Chem. Phys. 1989, 90, 7550.
41. Derjaguin, B. V.; Muller, V. M.; Toporov, Y. P. J. Colloid Interface Sci. 1975, 53, 314.
42. Grierson, D. S.; Flater, E. E.; Carpick, R. W. J. Adhes. Sci. Technol. 2005, 19, 291.
43. Johnson, K. L.; Kendall, K.; Roberts, A. D. Proc. R. Soc. London, Ser. A 1971, 324, 301.