-
1
-
-
0032652792
-
-
Bachari, E. M.; Baud, G.; Amor, S. B.; Jacquet, M. Thin Solid Films 1999, 348, 165.
-
(1999)
Thin Solid Films
, vol.348
, pp. 165
-
-
Bachari, E.M.1
Baud, G.2
Amor, S.B.3
Jacquet, M.4
-
2
-
-
2342475765
-
-
Waag, A.; Gruber, Th.; Thonke, K.; Sauer, T.; Kling, R.; Kirchner, C.; Ress, H. J. Alloy. Compd. 2004, 371, 77.
-
(2004)
J. Alloy. Compd.
, vol.371
, pp. 77
-
-
Waag, A.1
Gruber, Th.2
Thonke, K.3
Sauer, T.4
Kling, R.5
Kirchner, C.6
Ress, H.7
-
3
-
-
0141642131
-
-
Zeng, K.; Zhu, F.; Hu, J.; Shen, L.; Zhang, K.; Gong, H. Thin Solid Films 2003, 443, 60.
-
(2003)
Thin Solid Films
, vol.443
, pp. 60
-
-
Zeng, K.1
Zhu, F.2
Hu, J.3
Shen, L.4
Zhang, K.5
Gong, H.6
-
5
-
-
26044480070
-
-
Wang, L.; Pu, Y.; Chen, Y. F.; Mo, C. L.; Fang, W. Q.; Xiong, C. B.; Dai, J. N.; Jiang, F. Y. J. Cryst. Growth 2004, 284, 459.
-
(2004)
Y. J. Cryst. Growth
, vol.284
, pp. 459
-
-
Wang, L.1
Pu, Y.2
Chen, Y.F.3
Mo, C.L.4
Fang, W.Q.5
Xiong, C.B.6
Dai, J.N.7
Jiang, F.8
-
6
-
-
0032685743
-
-
Haga, K.; Katahira, F.; Watanabe, H. Thin Solid Films 1999, 343, 145.
-
(1999)
Thin Solid Films
, vol.343
, pp. 145
-
-
Haga, K.1
Katahira, F.2
Watanabe, H.3
-
7
-
-
2342578721
-
-
Mycielski, A.; Kowalczyk, L.; Szadkowski, A.; Chwalisz, B.; Wysmolek, A.; Stepniewski, R.; Baranowski, J. M.; Petemski, M.; Witowski, A.; Jakiela, R.; Barcz, A.; Witkowska, B.; Kaliszek, W.; Jedrzejcak, A.; Suchocki, A.; Lusakowska E.; Kaminska, E. J. Alloy. Compd. 2004, 371, 150.
-
(2004)
J. Alloy. Compd.
, vol.371
, pp. 150
-
-
Mycielski, A.1
Kowalczyk, L.2
Szadkowski, A.3
Chwalisz, B.4
Wysmolek, A.5
Stepniewski, R.6
Baranowski, J.M.7
Petemski, M.8
Witowski, A.9
Jakiela, R.10
Barcz, A.11
Witkowska, B.12
Kaliszek, W.13
Jedrzejcak, A.14
Suchocki, A.15
Lusakowska, E.16
Kaminska, E.17
-
11
-
-
43949127067
-
-
Kim,Y. S.; Won, Y. S.; Weaver, H.; Omenetto, N.; Anderson, T. J. J. Phys. Chem. A 2008, 112, 4246.
-
(2008)
J. Phys. Chem. A
, vol.112
, pp. 4246
-
-
Kim, Y.S.1
Won, Y.S.2
Weaver, H.3
Omenetto, N.4
Anderson, T.J.5
-
12
-
-
48149101271
-
-
Won, Y. S.; Kim, Y. S.; Kryliouk, O.; Anderson, T. J. J. Cryst. Growth 2008, 310, 3735.
-
(2008)
J. Cryst. Growth
, vol.310
, pp. 3735
-
-
Won, Y.S.1
Kim, Y.S.2
Kryliouk, O.3
Anderson, T.J.4
-
13
-
-
0038626673
-
-
Revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford CT
-
Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03 Revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford CT, 2004.
-
(2004)
Gaussian 03
-
-
Frisch, M.J.1
Trucks, G.W.2
Schlegel, H.B.3
Scuseria, G.E.4
Robb, M.A.5
Cheeseman, J.R.6
Montgomery, J.A.7
Vreven, T.8
Kudin, K.N.9
Burant, J.C.10
Millam, J.M.11
Iyengar, S.S.12
Tomasi, J.13
Barone, V.14
Mennucci, B.15
Cossi, M.16
Scalmani, G.17
Rega, N.18
Petersson, G.A.19
Nakatsuji, H.20
Hada, M.21
Ehara, M.22
Toyota, K.23
Fukuda, R.24
Hasegawa, J.25
Ishida, M.26
Nakajima, T.27
Honda, Y.28
Kitao, O.29
Nakai, H.30
Klene, M.31
Li, X.32
Knox, J.E.33
Hratchian, H.P.34
Cross, J.B.35
Bakken, V.36
Adamo, C.37
Jaramillo, J.38
Gomperts, R.39
Stratmann, R.E.40
Yazyev, O.41
Austin, A.J.42
Cammi, R.43
Pomelli, C.44
Ochterski, J.W.45
Ayala, P.Y.46
Morokuma, K.47
Voth, G.A.48
Salvador, P.49
Dannenberg, J.J.50
Zakrzewski, V.G.51
Dapprich, S.52
Daniels, A.D.53
Strain, M.C.54
Farkas, O.55
Malick, D.K.56
Rabuck, A.D.57
Raghavachari, K.58
Foresman, J.B.59
Ortiz, J.V.60
Cui, Q.61
Baboul, A.G.62
Clifford, S.63
Cioslowski, J.64
Stefanov, B.B.65
Liu, G.66
Liashenko, A.67
Piskorz, P.68
Komaromi, I.69
Martin, R.L.70
Fox, D.J.71
Keith, T.72
Al-Laham, M.A.73
Peng, C.Y.74
Nanayakkara, A.75
Challacombe, M.76
Gill, P.M.W.77
Johnson, B.78
Chen, W.79
Wong, M.W.80
Gonzalez, C.81
Pople, J.A.82
more..
-
15
-
-
0347111100
-
-
Matxain, J. M.; Fowler, J. E.; Ugalde, J. M. Phys. Rev. A 2002, 62, 053201.
-
(2002)
Phys. Rev. A
, vol.62
, pp. 053201
-
-
Matxain, J.M.1
Fowler, J.E.2
Ugalde, J.M.3
-
16
-
-
0000883671
-
-
Behrman, E. C.; Foehrweiser, R. K.; Myers, J. R.; French, B. R.; Zandler, M. E. Phys. Rev. A 1994, 49, R1543.
-
(1994)
Phys. Rev. A
, vol.49
-
-
Behrman, E.C.1
Foehrweiser, R.K.2
Myers, J.R.3
French, B.R.4
Zandler, M.E.5
|