-
3
-
-
0027576098
-
-
Palmour, J. W.; Edmonda, J. A.; Konga, H. S.; Carter, C. H. Physica B 1993, 185, 461.
-
(1993)
Physica B
, vol.185
, pp. 461
-
-
Palmour, J.W.1
Edmonda, J.A.2
Konga, H.S.3
Carter, C.H.4
-
4
-
-
0030270183
-
-
Weitzel, C. E.; Palmour, J. W.; Carter, C. H.; Moore, K.; Nordquist, K. J.; Allen, S.; Thero, C.; Bhatnagar, M. IEEE Trans. Electron Devices 1996, 43, 1732.
-
(1996)
IEEE Trans. Electron Devices
, vol.43
, pp. 1732
-
-
Weitzel, C.E.1
Palmour, J.W.2
Carter, C.H.3
Moore, K.4
Nordquist, K.J.5
Allen, S.6
Thero, C.7
Bhatnagar, M.8
-
5
-
-
33747502586
-
-
Nishino, S.; Powell, J. A.; Hill, H. A. Appl. Phys. Lett. 1983, 42, 460-462.
-
(1983)
Appl. Phys. Lett
, vol.42
, pp. 460-462
-
-
Nishino, S.1
Powell, J.A.2
Hill, H.A.3
-
8
-
-
0023365266
-
-
Powell, J. A.; Matus, L. G.; Kuczmarsk, M. A. J. Electrochem. Soc. 1987, 134, 1558-1565.
-
(1987)
J. Electrochem. Soc
, vol.134
, pp. 1558-1565
-
-
Powell, J.A.1
Matus, L.G.2
Kuczmarsk, M.A.3
-
9
-
-
0029274717
-
-
Hwang, J. D.; Fang, Y. K.; Song, Y. U.; Yaung, D. N. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, 1447-1450.
-
(1995)
Jpn. J. Appl. Phys
, vol.34
, pp. 1447-1450
-
-
Hwang, J.D.1
Fang, Y.K.2
Song, Y.U.3
Yaung, D.N.4
-
10
-
-
0026239623
-
-
Ikoma, K.; Yamanaka, M.; Yamaguchi, H.; Shich, Y. J. Electrochem. Soc. 1987, 138, 3028.
-
(1987)
J. Electrochem. Soc
, vol.138
, pp. 3028
-
-
Ikoma, K.1
Yamanaka, M.2
Yamaguchi, H.3
Shich, Y.4
-
11
-
-
0036531088
-
-
Nagasawa, H.; Yagi, K.; Kawahara, T. J. Cryst. Growth 2002, 237-239, 1244-1249.
-
(2002)
J. Cryst. Growth
, vol.237-239
, pp. 1244-1249
-
-
Nagasawa, H.1
Yagi, K.2
Kawahara, T.3
-
13
-
-
0031073433
-
-
Scholz, R.; Gösele, U.; Niemann, E.; Wischmeyer, F. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 1997, 64, 115-125.
-
(1997)
Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process
, vol.64
, pp. 115-125
-
-
Scholz, R.1
Gösele, U.2
Niemann, E.3
Wischmeyer, F.4
-
16
-
-
38649140704
-
-
Gupta, A.; Sengupta, J.; Jacob, C. Thin Solid Films 2008, 516, 1669-1676.
-
(2008)
Thin Solid Films
, vol.516
, pp. 1669-1676
-
-
Gupta, A.1
Sengupta, J.2
Jacob, C.3
-
17
-
-
0019283390
-
-
Nishino, S.; Hazuki, Y.; Matsunami, H.; Tanaka, T. J. Electrochem. Soc. 1980, 127, 2674-2680.
-
(1980)
J. Electrochem. Soc
, vol.127
, pp. 2674-2680
-
-
Nishino, S.1
Hazuki, Y.2
Matsunami, H.3
Tanaka, T.4
-
19
-
-
33845590201
-
-
Nagasawa, H.; Yagi, K.; Kawahara, T.; Hatta, N. Chem. Vap. Deposition 2006, 12, 502-508.
-
(2006)
Chem. Vap. Deposition
, vol.12
, pp. 502-508
-
-
Nagasawa, H.1
Yagi, K.2
Kawahara, T.3
Hatta, N.4
-
20
-
-
36449003431
-
-
Zorman, C. A.; Fleischman, A. J.; Dewa, A. S.; Mehregany, M.; Jacob, C.; Nishino, S.; Pirouz, P. J. Appl. Phys. 1995, 78, 5136-5138.
-
(1995)
J. Appl. Phys
, vol.78
, pp. 5136-5138
-
-
Zorman, C.A.1
Fleischman, A.J.2
Dewa, A.S.3
Mehregany, M.4
Jacob, C.5
Nishino, S.6
Pirouz, P.7
-
21
-
-
0000571913
-
-
Li, J. P.; Steckl, A. J.; Golecki, I.; Reidinger, F.; Wang, L.; Ning, X. J.; Pirouz, P. Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 3135-3137.
-
(1993)
Appl. Phys. Lett
, vol.62
, pp. 3135-3137
-
-
Li, J.P.1
Steckl, A.J.2
Golecki, I.3
Reidinger, F.4
Wang, L.5
Ning, X.J.6
Pirouz, P.7
-
22
-
-
3242691456
-
-
Young, D. J.; Du, J.; Zorman, C. A.; Ko, W. H. IEEE Sens. J. 2004, 4, 464-470.
-
(2004)
IEEE Sens. J
, vol.4
, pp. 464-470
-
-
Young, D.J.1
Du, J.2
Zorman, C.A.3
Ko, W.H.4
|