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Volumn , Issue , 2008, Pages 1-4

Future memory technologies

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BUSINESS DEMANDS; FERROELECTRIC RAMS; FUTURE MEMORIES; NAND FLASHES; NEW APPLICATIONS; NOVEL DEVICES; PHASE CHANGE RAMS; POSSIBLE SOLUTIONS; SCALING LIMITATIONS; SEMICONDUCTOR MEMORIES; TECHNICAL CHALLENGES;

EID: 60649091541     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/ICSICT.2008.4735112     Document Type: Conference Paper
Times cited : (8)

References (30)
  • 3
    • 60649088331 scopus 로고    scopus 로고
    • Y. Park et al, IEDM, p.29 (2006).
    • (2006) IEDM , pp. 29
    • Park, Y.1
  • 5
    • 34547272066 scopus 로고    scopus 로고
    • Y. Shin et al, IEDM, p.327 (2005).
    • (2005) IEDM , pp. 327
    • Shin, Y.1
  • 10
    • 43549083848 scopus 로고    scopus 로고
    • C. W. Oh et al., IEDM, p.967 (2006).
    • (2006) IEDM , pp. 967
    • Oh, C.W.1
  • 11
  • 17
    • 34548813419 scopus 로고    scopus 로고
    • J. H. Oh et al., IEDM, p.49 (2006).
    • (2006) IEDM , pp. 49
    • Oh, J.H.1
  • 18
    • 27144465563 scopus 로고    scopus 로고
    • J. H. Park et al., IEDM, p.594 (2004).
    • (2004) IEDM , pp. 594
    • Park, J.H.1
  • 20
    • 60649091178 scopus 로고    scopus 로고
    • Y.-K. Choi et al., DRC, p.85 (2001).
    • Y.-K. Choi et al., DRC, p.85 (2001).
  • 21
    • 19944394010 scopus 로고    scopus 로고
    • B. Yu et al., IEDM, p.251 (2002).
    • (2002) IEDM , pp. 251
    • Yu, B.1
  • 23
    • 14844287991 scopus 로고    scopus 로고
    • M. Ieong et al., IEDM, p.441 (2001).
    • (2001) IEDM , pp. 441
    • Ieong, M.1
  • 24
    • 3042721855 scopus 로고    scopus 로고
    • S-Y Lee et al., IEEE Trans. on Nanotech, 2, p.253 (2003).
    • S-Y Lee et al., IEEE Trans. on Nanotech, 2, p.253 (2003).
  • 27
    • 33745443220 scopus 로고    scopus 로고
    • S. D. Suk et al., IEDM, p.735 (2005).
    • (2005) IEDM , pp. 735
    • Suk, S.D.1
  • 28
    • 34347256205 scopus 로고    scopus 로고
    • K. H. Yeo et al., IEDM, p. 539 (2006).
    • (2006) IEDM , pp. 539
    • Yeo, K.H.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.