FTIR spectroscopy of buried interfaces in molecular junctions

Journal of the American Chemical Society

Volumn 126, Issue 41, 2004, Pages 13224-13225

  Jun, Yongseok ^a   Zhu, X Y ^a  

^a UNIVERSITY OF MINNESOTA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ARTICLE; CONFORMATION; ELECTRIC POTENTIAL; FILM; INFRARED SPECTROSCOPY; MOLECULAR INTERACTION; SURFACE PROPERTY; THICKNESS; VIBRATION;

EID: 6044264986     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja046431p     Document Type: Article

References (24)

1. Nitzan, A.; Ratner, M. A. Science 2003, 300, 1384-1389.
2. Service, R. F. Science 2003, 302, 556-558.
3. Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550-1552.
4. Donhauser, Z. J.; Mantooth, B. A.; Kelly, K. F.; Bumm, L. A.; Monnell, J. D.; Stapleton, J. J.; Price, D. W., Jr.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 2001, 292, 2303-2307.
5. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Science 2001, 294, 571-574.
6. Fan, F. R. F.; Lai, R. Y.; Cornil, J.; Karzazi, Y.; Brédas, J.-L.; Cai, L.; Cheng, L.; Yao, Y.; Price, D. W., Jr.; Dirk, S. M.; Tour, J. M.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 2568-2573.
7. Collier, C. P.; Wong, E. W.; Belohradsky, M.; Raymo, F. M.; Stoddart, J. F.; Kuekes, P. J.; Williams, R. S.; Heath, J. R. Science 1999, 285, 391-394.
8. Collier, C. P.; Mattersteig, G.; Wong, E. W.; Luo, Y.; Beverly, K.; Sampaio, J.; Raymo, F. M.; Stoddart, J. F.; Heath, J. R. Science 2000, 289, 1172-1175.
9. Stewart, D. R.; Ohlberg, D. A. A.; Beck, P. A.; Chen, Y.; Williams, R. S.; Jeppesen, J. O.; Nielsen, K. A.; Stoddart, J. F. Nano Lett. 2004, 4, 133-136.
10. Lau, C. N.; Stewart, D. R.; Williams, R. S.; Bockrath, M. Nano Lett. 2004, 4, 569-572.
11. De Boer, B.; Frank, M. M.; Chabal, Y. J.; Jiang, W.; Garfunkel, E.; Bao, Z. Langmuir 2004, 20, 1539-1542.
12. Walker, A. V.; Tighe, T. M.; Cabarcos, O. M.; Reinard, M. D.; Haynie, B. C.; Uppili, S.; Winograd, N.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 3954-3963.
13. Wang, W.; Lee, T.; Kretzschmar, I.; Reed, M. A. Nano Lett. 2004, 4, 643-646.
14. Kushmerick, J. G.; Lazorcik, J.; Patterson, C. H.; Shashidhar, R.; Seferos, D. S.; Bazan, G. C. Nano Lett. 2004, 4, 639-642.
15. Sagiv, J. J. Am. Chem. Soc. 1980, 102, 92-98.
16. Parikh, A. N.; Allara, D. L.; Azouz, I. B.; Rondelez, F. J. Phys. Chem. 1994, 98, 7577-7590.
17. (a) Evans, S. D.; Ulman, A.; Goppert-Berarducci, K. E.; Gerenser, L. J. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 5866-5868.
18. (b) Freeman, T. L.; Ulman, A. Langmuir 1995, 11, 4411-4417.
19. Maoz, R.; Sagiv, J.; Degenhardt, D.; Mohwald, H.; Quint, P. Supramolecular Science 1995, 2, 9-24.
20. Weaver, J. F.; Carlsson, A. F.; Madix, R. J. Surf. Sci. Rep. 2003, 50, 107-199.
21. Fisher, G. L.; Walker, A. V.; Hooper, A. E.; Tighe, T. B.; Bahnck, K. B.; Skriba, H. T.; Reinard, M. D.; Haynie, B. C.; Opila, R. L.; Winograd, N.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 5528-5541.
22. Goutev, N.; Futamata, M. Appl. Spectrosc. 2003, 57, 506-513 and references therein.
23. Arnold, R.; Azzam, W.; Terfort, A.; Wöll, C. Langmuir 2002, 18, 3980-3992.
24. Loo, Y. L.; Willett, R. L.; Baldwin, K. W.; Rogers, J. A. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 7654-7655.