Soft X-ray absorption and emission spectroscopic investigation of carbon and carbon: Transition metal composite films

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 112, Issue 44, 2008, Pages 17161-17170

  Abrasonis, G ^a   Berndt, M ^a   Krause, M ^a   Kuepper, K ^a   Munnik, F ^a   Kolitsch, A ^a   Moller W ^a  

^a INSTITUTE OF ION BEAM PHYSICS AND MATERIALS RESEARCH   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION; ABSORPTION SPECTROSCOPY; ATOMIC PHYSICS; ATOMIC SPECTROSCOPY; ATOMS; CARBIDES; CARBON; COBALT; COMPOSITE FILMS; COPPER; ELECTROMAGNETIC WAVE ABSORPTION; ELECTROMAGNETIC WAVES; ELECTRONIC STATES; ELECTRONIC STRUCTURE; EMISSION SPECTROSCOPY; ENERGY ABSORPTION; GRAPHITE; GROWTH TEMPERATURE; ION BEAMS; ION BOMBARDMENT; METALLIC SOAPS; MOLECULAR SPECTROSCOPY; NANOCOMPOSITES; NANOSTRUCTURED MATERIALS; PHASE INTERFACES; STORAGE ALLOCATION (COMPUTER); TRANSITION METALS; X RAY ABSORPTION; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS; X RAY SPECTROSCOPY;

ATOMIC LEVELS; CARBON NETWORKS; CARBON STRUCTURES; CO DEPOSITIONS; COSPUTTERING; CRYSTALLINITY DEGREES; ELASTIC RECOIL DETECTION ANALYSIS; FILM COMPOSITIONS; INCLUSION PHASE; METAL INCORPORATIONS; METALLIC STATES; NANOCOMPOSITE FILMS; ROOM TEMPERATURES; SPECTROSCOPIC INVESTIGATIONS; STRUCTURAL INFORMATIONS; TEMPERATURE INCREASES; TEMPERATURE RANGES; UNOCCUPIED ELECTRONIC STATES; X-RAY DIFFRACTIONS;

CARBON FILMS;

EID: 56549096415     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp805209r     Document Type: Article

References (75)

1. Ajayan, P. M.; Schadler, L. S.; Braun, P. V. Nanocomposite Science and Technology; Wiley-VCH Verlag Gmbh & Co. KGaA: Weinheim, 2003.
2. Hultman, L.; Bareño, J.; Flink, A.; Söderberg, H.; Larsson, K.; Petrova, V.; Odén, M.; Greene, J. E.; Petrov, I. Phys. Rev. B. 2007, 75, 155437.
3. Terminello, L. J.; Shuh, D. K.; Himpsel, F. J.; Lapianosmith, D. A.; Stohr, J.; Bethune, D. S.; Meijer, G. Chem. Phys. Lett. 1991, 182, 491-496.
4. Blase, X.; Benedict, L. X.; Shirley, E. L.; Louie, S. G. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 1878-1881.
5. Hultman, L.; Neidhardt, J.; Hellgren, N.; Sjostrom, H.; Sundgren, J. MRS Bull. 2003, 28, 194-202.
6. Hayashi, T.; Hirono, S.; Tomita, M.; Umemura, S. Nature 1996, 381, 772-774.
7. Yu, M.; Liu, Y.; Moser, A.; Weller, D.; Sellmyer, D. J. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 3992-3994.
8. Wang, H.; Yang, F. J.; Hu, M. Z.; Zhou, B.; Gu, H. S.; Chiah, M. F.; Cheung, W. Y.; Wong, S. P. Physica B 2004, 351, 77-82.
9. Wang, H.; Chiah, M. F.; Cheung, W. Y.; Wong, S. P. Phys. Lett. A 2003, 316, 122-125.
10. Knotek, O.; Lugscheider, E.; Löffler, F.; Bosserhoff, B.; Schmitz, S. Mater. Sci. Eng. A-Struct. Mater. Prop. Microstruct. Process. 1996, 209, 394-398.
11. Voevodin, A. A.; Zabinski, J. S. J. Mater. Sci. 1998, 33, 319-327.
12. Meng, W. J.; Tittsworth, R. C.; Rehn, L. E. Thin Solid Films 2000, 377-378, 222-232.
13. Sedláková, K.; Lobotka, P.; Vávra, I.; Radnóczi, G. Carbon 2005, 43, 2192-2198.
14. Nie, X.; Jiang, J. C.; Tung, L. D.; Spinu, L.; Meletis, E. I. Thin Solid Films 2002, 415, 211-218.
15. Chen, J. G. Surf. Sci. Rep. 1997, 30, 5-152.
16. de Groot, F. Chem. Rev. 2001, 101, 1779-1808.
17. Stöhr, J. NEXAFS spectroscopy; Springer: New York, 1992.
18. Rosenberg, R. A.; Love, P. J.; Rehn, V. Phys. Rev. B. 1986, 33, 4034-4037.
19. Fischer, D. A.; Wentzcovitch, R. M.; Carr, R. G.; Continenza, A.; Freeman, A. J. Phys. Rev. B. 1991, 44, 1427-1429.
20. Ahuja, R.; Brühwiler, P. A.; Wills, J. M.; Johansson, B.; Martensson, N.; Eriksoon, O. Phys. Rev. B. 1996, 54, 14396-14404.
21. Wessely, O.; Eriksson, O.; Katsnelson, M. I. Phys. Rev. B. 2006, 73, 8.
22. Yuen, C. L.; Jan, J. C.; Chiou, J. W.; Pong, W. F.; Tsai, M. H.; Chang, Y. K.; Chen, Y. Y.; Lee, Y. F.; Tseng, P. K.; Wei, S. L.; Wen, G Y.; Chen, L. C.; Chen, K. H. Appl Phys. Lett. 2001, 79, 3179-3181.
23. Jaouen, M.; Tourillon, G.; Delafond, J.; Junqua, N.; Hug, G. Diamond Relat. Mater. 1995, 4, 200-206.
24. Diaz, J.; ers, S.; Cossy-Favre, A.; Samant, M.; Stöhr, J. J. Vac. Sei. Technol. A 1999, 17, 2737-2740.
25. Diaz, J.; Anders, S.; Zhou, X.; Moler, E. J.; Kellar, S. A.; Hussain, Z. Phys. Rev. B. 2001, 64, 125204.
26. Lenardi, C.; Piseri, P.; Briois, V.; Bottani, C. E.; Bassi, A. L.; Milani, P. J. Appl. Phys. 1999, 85, 7159-7167.
27. Imamura, M.; Shimada, H.; Matsubayashi, N.; Yumura, M.; Uchida, K.; Oshima, S.; Kuriki, Y.; Yoshimura, Y.; Sato, T.; Nishijima, A. Jpn. J. Appl. Phys 1994, 33, L1016-L1018.
28. Abbas, M.; Wu, Z. Y.; Zhong, J.; Ibrahim, K.; Fiori, A.; Orlanducci, S.; Sessa, V.; Terranova, M. L.; Davoli, I. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 3.
29. Muramatsu, Y.; Hirono, S.; Umemura, S.; Ueno, Y.; Hayashi, T.; Grush, M. M.; Gullikson, E. M.; Perera, R. C. C. Carbon 2001, 39, 1403-1407.
30. Muramatsu, Y.; Gullikson, E. M.; Perera, R. C. G Phys. Scr. 2005, T115, 501-503.
31. Bertoni, G.; Calmeis, L.; Altibelli, A.; Serin, V. Phys. Rev. B. 2004, 71, 075402.
32. Klinke II, D. J.; Wilke, S.; Broadbelt, L. J. J. Catal. 1998, 178, 540-554.
33. Carlisle, J. A.; Shirley, E. L.; Hudson, E. A.; Terminello, L. J.; Callcott, T. A.; Jia, J. J.; Ederer, D. L.; Perera, R. C. C.; Himpsel, F. J. Phys. Rev. Lett. 1995, 74, 1234-1237.
34. de Groot, F. M. F. J. Elect. Spectrosc. Relat. Phenom. 1994, 67, 529-622.
35. Sutherland, D. G. J.; Akatsu, H.; Copel, M.; Himpsel, F. J.; Callcott, T. A.; Carlisle, J. A.; Ederer, D. L.; Jia, J. J.; Jimenez, I.; Perera, R.; Shuh, D. K.; Terminello, L. J.; Tong, W. M. J. Appl. Phys. 1995, 78, 6761-6769.
36. Nordgren, E. J.; Butorin, S. M.; Duda, L. C.; Guo, J. H. In Handbook of Applied Solid State Spectroscopy; Vij, D. R., Ed.; Springer: New York, 2006; Chapter 14, pp 595-659.
37. Binary Alloy Phase Diagrams; Massalski, T. B., Ed.; ASM International: Metals Park, OH, 1990.
38. Abrasonis, G.; Krause, M.; Mücklich, A.; Sedlaková, K.; Radnóczi, G.; Kreissig, U.; Kolitsch, A.; Möller, W. Carbon 2007, 45, 2995-3006.
39. Oates, T.; Pigott, J.; Mckenzie, D. R.; Bilek, M. M. M. Rev. Sci. Instrum. 2003, 74, 4750-4754.
40. Jia, J. J.; Callcott, T. A.; Yurkas, J.; Ellis, A. W.; Himpsel, F. J.; Samant, M. G.; Stohr, J.; Ederer, D. L.; Carlisle, J. A.; Hudson, E. A.; Terminello, L. J.; Shuh, D. K.; Perera, R. C. C. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1394-1397.
41. Krause, M.; Berndt, M.; Abrasonis, G. unpublished.
42. Cabioc'h, T.; Naudon, A.; Jaouen, M.; Thiaudiere, D.; Babonneau, D. Philos. Mag.B 1999, 79, 501-516.
43. Konno, T. J.; Sinclair, R. Acta Metal. Mater. 1994, 42, 1231-1247.
44. Yu, M.; Liu, Y.; Sellmyer, D. J. Appl Phys. 1999, 85, 4319-4321.
45. Wang, H.; Wong, S. P.; Cheung, W. Y.; Ke, N.; Chiah, M. F.; Liu, H.; Zhang, X. X. J. Appl. Phys. 2000, 88, 2063-2067.
46. Wang, H.; Wong, S. P.; Cheung, W. Y.; Ke, N.; Wen, G. H.; Zhang, X. X.; Kwok, R. W. M. J. Appl. Phys. 2000, 88, 4919-4921.
47. Abrasonis, G.; Scheinost, A. C.; Zhou, S.; Torres, R.; Gago, R.; Jiménez, I.; Kuepper, K.; Potzger, K.; Krause, K.; Möller, W.; Bartkowski, S.; Neumann, M.; Gareev, R. R. J. Phys. Chem. 2008, 112, 12628-12637.
48. Fink, J.; Muller-Heinzerling, T.; Scheerer, B.; Speier, W.; HiIlebrecht, F. U.; Fuggle, J. C.; Zaanen, J.; Sawatzky, G. A. Phys. Rev. B. 1985, 32, 4899-4904.
49. Delaunay, J. J.; Hayashi, T.; Tomita, M.; Hirono, S. J. Appl. Phys. 1997, 82, 2200-2208.
50. Sham, T. K.; Hiraya, A.; Watanabe, M. Phys. Rev. B. 1997, 55, 7585-7592.
51. Guo, J. H. Soft-x-ray spectroscopy study of nanoscale materials; Paper LBNL-58896, Lawrence Berkeley National Laboratory: Berkeley, CA, 2005.
52. Chen, J. G.; Kim, C. M.; Frühberger, B.; DeVries, B. D.; Touvelle, M. S. Surf. Sci. 1994, 321, 145-155.
53. Kapoor, R.; Oyama, S. T.; Frühberger, B.; DeVries, B. D.; Chen, J. G. Catal. Lett. 1995, 34, 179-189.
54. Bart, F.; Jollet, F.; Duraud, J. P.; Douillard, L. Phys. Status Solidi B-Basic Solid State Phys. 1993, 176, 163-176.
55. Robertson, J. Mater. Sci. Eng. R-Rep. 2002, 37, 129-281.
56. Nilsson, A.; Wassdahl, N.; Weinelt, M.; Karis, O.; Wiell, T.; Bennich, P.; Hasselstrom, J.; Fohlisch, A.; Stohr, J.; Samant, M. Appl. Phys. A-Mater. Sci. Process. 1997, 65, 147-154.
57. Karis, O.; Hasselstrom, J.; Wassdahl, N.; Weinelt, M.; Nilsson, A.; Nyberg, M.; Pettersson, L. G. M.; Stohr, J.; Samant, M. G. J. Chem. Phys. 2000, 112, 8146-8155.
58. Hasselstrom, J.; Karis, O.; Weinelt, M.; Wassdahl, N.; Nilsson, A.; Nyberg, M.; Pettersson, L. G. M.; Samant, M. G.; Stohr, J. Surf. Sci. 1998, 407, 221-236.
59. Skytt, P.; Glans, P.; Mancini, D. C.; Guo, J.-H.; Wassdahl, N.; Nordgren, J.; Ma, Y. Phys. Rev. B. 1994, 50, 10457-10461.
60. Atzmon, M.; Kessler, D. A.; Srolovitz, D. J. J. Appl. Phys. 1992, 72, 442-446.
61. Adams, C. D.; Srolovitz, D. J.; Atzmon, M. J. Appl. Phys. 1993, 74, 1707-1715.
62. Babonneau, D.; Briatico, J.; Petroff, F.; Cabioc'h, T.; Naudon, A. J. Appl. Phys. 2000, 87, 3432-3443.
63. Fukutani, K.; Tanji, K.; Saito, T.; Den, T. J. Appl. Phys. 2005, 98, 033507.
64. Babonneau, D.; Cabioc'h, T.; Denanot, M. F.; Naudon, A. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 800-802.
65. Mamezaki, O.; Adachi, H.; Tomita, S.; Fujii, M.; Hayashi, S. Jpn. J. Appl. Phys 2000, 39, 6680-6683.
66. Kovacs, G. J.; Koos, A.; Bertoni, G.; Safran, G.; Geszti, O.; Serin, V.; Colliex, C.; Radnoczi, G. J. Appl. Phys. 2005, 98, 5.
67. Lamber, R.; Jaeger, N.; Schulzekloff, G. Surf. Sci. 1988, 197, 402-414.
68. Gamo, Y.; Nagashima, A.; Wakabayashi, M.; Terai, M.; Oshima, C. Surf. Sci. 1997, 374, 61-64.
69. Beernink, G.; Gunia, M.; Dötz, F.; Öström, H.; Weiss, K.; Müllen, K.; Wöll, C. ChemPhysChem 2001, 2, 317-320.
70. Kawanowa, H.; Ozawa, H.; Yazaki, T.; Gotoh, Y.; Souda, R. Jpn. J. Appl. Phys 2002, 41, 6149-6152.
71. Nagashima, A.; Tejima, N.; Oshima, C. Phys. Rev. B. 1994, 50, 17487-17495.
72. Nagashima, A.; Nuka, K.; Satoh, K.; Itoh, H.; Ichinokawa, T.; Oshima, C. Surf. Sci. 1993, 287/88, 609-613.
73. Nagashima, A.; Itoh, H.; Ichinokawa, T.; Oshima, C. Phys. Rev. B. 1994, 50, 4756-4763.
74. Babonneau, D.; Pailloux, F.; Eymery, J. P.; Denanot, M. F.; Guerin, P.; Fonda, E.; Lyon, O. Phys. Rev. B. 2005, 71, 13.
75. Uhlmann, S.; Frauenheim, T.; Lifshitz, Y. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 641-644.