Surface-enhanced Raman scattering from silver-plated porous silicon

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 108, Issue 31, 2004, Pages 11654-11659

  Lin, Haohao ^a   Mock, Jack ^a   Smith, David ^a   Gao, Ting ^a   Sailor, Michael J ^a  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COUNTER ELECTRODES; DOUBLE-DISTILLATION; PRETREATMENT; TEMPLATES;

COLLOIDS; NANOSTRUCTURED MATERIALS; OXIDATION; POROUS MATERIALS; RAMAN SCATTERING; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SENSITIVITY ANALYSIS; SOLUTIONS;

SILICON;

EID: 4143075699     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp049008b     Document Type: Article

References (43)

1. Fleischmann, M.; Hendra, P. J.; McQuillan, A. J. Chem. Phys. Lett. 1974, 26, 163.
2. Jeanmaire, D. L.; Van Duyne, R. P. J. Electroanal. Chem. 1977, 84, 1.
3. Albrecht, M. G.; Creighton, J. A. J. Am. Chem. Soc. 1977, 99, 5215.
4. Nie, S.; Emory, S. R. Science 1997, 275, 1102.
5. Kneipp, K.; Kneipp, H.; Kartha, V. B.; Manoharan, R.; Deinum, O.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. Phys. Rev. E 1998, 57, R6281.
6. Kneipp, K.; Wang, Y.; Kneipp, H.; Perelman, L. T.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 1667.
7. Kneipp, K.; Kneipp, H.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. S. J. Phys.: Condens, Matter 2002, 14, R597.
8. Kneipp, K.; Kneipp, H.; Manoharan, R.; Hanlon, E. B.; Itzkan, I.; Dasari, R. R.; Feld, M. Appl. Spectrosc. 1998, 52, 1493.
9. Cao, Y. C.; Jin, R.; Mirkin, C. A. Science 2002, 297, 1536.
10. Mulvaney, S. P.; Musick, M. D.; Keating, C. D.; Natan, M. J. Langmuir 2003, 19, 4784.
11. Michaels, A. M.; Jiang, J.; Brus, L. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 11965.
12. Chen, S.-P.; Hosten, C. M.; Vivoni, A.; Birke, R. L.; Lombardi, J. R. Langmuir 2002, 18, 9888.
13. Haynes, C. L.; McFarland, A. D.; Smith, M. T.; Hulteen, J. C.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 1898.
14. Haynes, C. L.; Van Duyne, R. P. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 5599.
15. Vo-Dinh, T. Trends Anal. Chem. 1998, 17, 557.
16. Chan, S.; Kwon, S.; Koo, T.-W.; Lee, L. P.; Berlin, A. A. Adv. Mater. 2003, 15, 1595.
17. Maruyama, Y.; Ishikawa, M.; Futamata, M. Chem. Lett. 2001, 8, 834.
18. Hérino, R. Pore Size Distribution in Porous Silicon. In Properties of Porous Silicon; Canham, L., Ed.; Short Run Press Ltd.: London, 1997; Vol. 18, p 89.
19. Andsager, D.; Hillard, J.; Hetrick, J. M.; AbuHassan, L. H.; Pilsch, M.; Nayfeh, M. H. J. Appl. Phys. 1993, 74, 4783.
20. Andsager, D.; Hilliard, J.; Nayfeh, M. H. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 1141.
21. Coulthard, I.; Jiang, D.-T.; Lorimer, J. W.; Sham, T. K.; Feng, X.-H. Langmuir 1993, 9, 3441.
22. Tsuboi, T.; Sakka, T.; Ogata, Y. H. J. Appl. Phys. 1998, 83, 4501.
23. Harraz, F. A.; Tsuboi, T.; Sasano, J.; Sakka, T.; Ogata, Y. H. J. Electrochem. Soc. 2002, 149, C456.
24. Coulthard, I.; Sammynaiken, R.; Naftel, S. J.; Zhang, P.; Sham, T. K. Phys. Status Solidi A 2000, 182, 157.
25. Oskam, G.; Long, J. G.; Natarajan, A.; Searson, P. C. J. Phys. D: Appl. Phys. 1998, 31, 1927.
26. Janshoff, A.; Dancil, K.-P. S.; Steinern, C.; Greiner, D. P.; Lin, V. S.-Y.; Gurtner, C.; Motesharei, K.; Sailor, M. J.; Ghadiri, M. R. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 12108.
27. Zhu, J.; Liu, S.; Palchik, O.; Koltypin, Y.; Gedanken, A. Langmuir 2000, 16, 6396.
28. Wang, X.; Naka, K.; Itoh, H.; Park, S.; Chujo, Y. Chem. Commun. 2002, 1300.
29. Xiao, J.; Xie, Y.; Tang, R.; Chen, M.; Tian, X. Adv. Mater. 2001, 13, 1887.
30. Zhou, Y.; Yu, S. H.; Wang, C. Y.; Li, X. G.; Zhu, Y. R.; Chen, Z. Y. Adv. Mater. 1999, 11, 850.
31. Safonov, V. P.; Shalaev, V. M.; Markel, V. A.; Danilova, Y. E.; Lepeshkin, N. N.; Kim, W.; Rautian, S. G.; Armstrong, R. L. Phys. Rev. Lett. 1998, 80, 1102.
32. Podolskiy, V. A.; Shalaev, V. M. Laser Phys. 2001, 11, 26.
33. Markel, V. A.; Shalaev, V. M.; Zhang, P.; Huynh, W.; Tay, L.; Haslett, T. L.; Moskovits, M. Phys. Rev. B 1999, 59, 10903.
34. Xu, H.; Aizpurua, J.; Kall, M.; Apell, P. Phys. Rev. E 2000, 62, 4318.
35. Bosnick, K. A.; Jiang, J.; Brus, L. E. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 8096.
36. Hildebrandt, P.; Stockburger, M. J. Phys. Chem. 1984, 88, 5935.
37. Canham, L. T. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 1046.
38. Li, Y.-S.; Cheng, J.; Wang, Y. Spectrochim. Acta A 2000, 56, 2067.
39. Michaels, A. M.; Nirmal, M.; Brus, L. E. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 9932.
40. Hildebrandt, P.; Keller, S.; Hoffmann, A.; Vanhecke, F.; Schrader, B. J. Roman Spectrosc. 1993, 24, 791.
41. Grochala, W.; Kudelski, A.; Bukowska, J. J. Raman Spectrosc. 1998, 29, 681.
42. Takahashi, M.; Furukawa, H.; Fujita, M.; Ito, M. J. Phys. Chem. 1987, 91, 5940.
43. Giese, B.; McNaughton, D. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 101.