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Volumn 33, Issue 5, 2008, Pages 455-457

Metrologies for the phase characterization of attosecond extreme ultraviolet optics

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ATTOSECOND SCIENCE; EXTREME ULTRAVIOLET (EUV) OPTICS; MULTILAYER OPTIC; PHOTON ENERGIES;

EID: 41149096449     PISSN: 01469592     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1364/OL.33.000455     Document Type: Article
Times cited : (39)

References (13)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.