Composition dependence of structural and optical properties for sol-gel derived (100)-oriented Ba1-x Srx Ti O3 thin films

Applied Physics Letters

Volumn 91, Issue 6, 2007, Pages

  Wang, G S ^a   Zhang, Y Y ^a   Mao, C L ^a   Dong, X L ^a   Chu, J H ^b  

^a SHANGHAI INSTITUTE OF CERAMICS   (China)

^b SHANGHAI INSTITUTE OF TECHNICAL PHYSICS   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ENERGY GAP; LATTICE CONSTANTS; PHASE BOUNDARIES; REFRACTIVE INDEX; SOL-GEL PROCESS; THIN FILMS; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

CUBE PHASE; MULTIPHASE MODELS; SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETER (SE) MEASUREMENT;

BARIUM COMPOUNDS;

EID: 34547829423     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2767986     Document Type: Article

References (23)

1. Y. Lin, Jang-Sik Lee, H. Wang, Y. Li, S. R. Foltyn, Q. X. Jia, G. E. Collis, A. K. Burrell, and T. M. McCleskey, Appl. Phys. Lett. 85, 5007 (2004).
2. T. R. Taylor, P. J. Hansen, B. Acikel, N. Pervez, and R. A. York, Appl. Phys. Lett. 80, 1978 (2002).
3. Y. Gim, T. Hudson, Y. Fan, C. Kwon, A. T. Findikoglu, B. J. Gibbons, B. H. Park, and Q. X. Jia, Appl. Phys. Lett. 77, 1200 (2000).
4. B. Nagaraj, T. Sawhney, S. Perusse, S. Aggarwal, V. S. Kaushik, S. Zafar, R. E. Jones, J.-H. Lee, V. Balu, and J. Lee, Appl. Phys. Lett. 74, 3194 (1999).
5. H. Lu, J. S. Pan, X. F. Chen, W. G. Zhu, and O. K. Tan, Appl. Phys. Lett. 88, 132907 (2006).
6. D. Bao, X. Yao, N. Wakiya, K. Shinozaki, and N. Mizutani, Appl. Phys. Lett. 79, 3767 (2001).
7. A. Li, C. Ge, P. Lu, and N. Ming, Appl. Phys. Lett. 68, 161 (1996).
8. X. J. Meng, J. G. Cheng, J. L. Sun, H. J. Ye, S. L. Guo, and J. H. Chu, J. Cryst. Growth 220, 100 (2000).
9. Ching-Chyuan Yang, Ming-Sen Chen, Tian-Jue Hong, Chii-Ming Wu, Jenn-Ming Wu, and Tai-Bor Wu, Appl. Phys. Lett. 66, 2643 (1995).
10. J.-G. Cheng, X.-J. Meng, Jun Tang, S.-L. Guo, and J.-H. Chu, J. Am. Ceram. Soc. 83, 1 (2000).
11. J.-G. Cheng, X.-J. Meng, J. Tang, S.-L. Guo, and J.-H. Chu, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 70, 411 (2000).
12. G. S. Wang, J. G. Cheng, X. J. Meng, J. Yu, Z. Q. Lai, J. Tang, S. L. Guo, and J. H. Chu, Appl. Phys. Lett. 78, 4172 (2001).
13. G. S. Wang, Q. Zhao, X. J. Meng, J. H. Chu, and D. Ŕmiens, J. Cryst. Growth 277, 450 (2005).
14. A. Lookman, R. M. Bowman, J. M. Gregg, J. Kut, S. Rios, M. Dawber, A. Ruediger, and J. F. Scott, J. Appl. Phys. 96, 555 (2004).
15. J.-G. Cheng, X.-J. Meng, B. Li, J. Tang, S. Guo, J.-H. Chu, M. Wang, H. Wang, and Z. Wang, Appl. Phys. Lett. 75, 2132 (1999).
16. Z. Hu, G. Wang, Z. Huang, and J. Chu, J. Appl. Phys. 93, 3811 (2003).
17. J. Yu, J. L. Sun, X. J. Meng, Z. M. Huang, J. H. Chu, D. Y. Tang, C. Y. Jin, G. Li, W. Y. Li, and Q. Liang, J. Appl. Phys. 90, 2699 (2001).
18. G. S. Wang, D. Remiens, C. Soyer, E. Dogheche, and E. Cattan, J. Cryst. Growth 284, 184 (2005).
19. J. H. Bahng, M. Lee, H. L. Park, I. W. Kim, J. H. Jeong, and K. J. Kim, Appl. Phys. Lett. 79, 1664 (2001).
20. R. Thielsch, K. Kaemmer, B. Holzapfel, and L. Schultz, Thin Solid Films 301, 203 (1997).
21. Z. Hu, G. Wang, Z. Huang, X. Meng, F. Shi, and J. Chu, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 42, 1400 (2003).
22. W. J. Leng, C. R. Yang, J. H. Zhang, H. W. Chen, H. Ji, C. L. Fu, and J. X. Liao, J. Appl. Phys. 99, 114904 (2006).
23. F. S. Turco-Sandroff, R. E. Nahory, M. J. S. P. Brazil, R. J. Martin, and H. L. Gilchrist, Appl. Phys. Lett. 58, 1611 (1991).