Polarization of edge emission from III-nitride light emitting diodes of emission wavelength from 395 to 455 nm

Applied Physics Letters

Volumn 90, Issue 21, 2007, Pages

  Jia, Chuanyu ^a   Yu, Tongjun ^a   Mu, Sen ^a   Pan, Yaobo ^a   Yang, Zhijian ^a   Chen, Zhizhong ^a   Qin, Zhixin ^a   Zhang, Guoyi ^a  

^a PEKING UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTROLUMINESCENCE; LIGHT POLARIZATION; SEMICONDUCTING INDIUM COMPOUNDS; SEMICONDUCTOR QUANTUM WELLS; SPECTRUM ANALYSIS; ULTRAVIOLET RADIATION;

EDGE EMISSIONS; ELECTROLUMINESCENCE SPECTRUM; EMISSION WAVELENGTH; POLARIZATION RATIO;

LIGHT EMITTING DIODES;

EID: 34249741084     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2741607     Document Type: Article

References (19)

1. S. Chichibu, T. Azuhata, T. Sota, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 70, 2822 (1997).
2. F. A. Ponce, S. Srinivasan, A. Bell, L. Geng, R. Liu, M. Stevens, J. Cai, H. Omiya, H. Marui, and S. Tanaka, Phys. Status Solidi B 240, 273 (2003).
3. M. Takeguchi, M. R. McCartney, and D. J. Smith, Appl. Phys. Lett. 84, 2103 (2004).
4. K. Okamoto, A. Kaneta, Y. Kawakami, S. Fujita, J. Choi, M. Terazima, and T. Mukai, J. Appl. Phys. 98, 064503 (2005).
5. S. F. Chichibu, A. Udono, T. Onuma, B. A. Hasakell, A. Chakraborty, T. Koyama, P. T. Fini, S. Keller, S. P. Denbaars, J. S. Speck, U. K. Mishra, S. Nakamura, S. Yamaguchi, S. Kamiyama, H. Amano, I. Akasaki, J. Han, and T. Sota, Nat. Mater. 5, 810 (2006).
6. C. C. Chen, K. L. Hsieh, G. C. Chi, C. C. Chou, J. I. Chyi, and C. A. Chang, J. Appl. Phys. 89, 5465 (2001).
7. M. E. Aumer, S. F. LeBoeuf, B. F. Moody, and S. M. Bedair, Appl. Phys. Lett. 79, 3803 (2001).
8. Y. C. Yeo, T. C. Chong, M. F. Li, and W. J. Fan, IEEE J. Quantum Electron. 34, 526 (1998).
9. H. Saito, K. Nishi, S. Sugou, and Y. Sugimoto, Appl. Phys. Lett. 71, 590 (1997).
10. T. Kita, N. Tamura, O. Wada, M. Sugawara, Y. Nakata, H. Ebe, and Y. Arakawa, Appl. Phys. Lett. 88, 211106 (2006).
11. J. Shakya, K. Knabe, K. H. Kim, J. Li, J. Y. Lin, and H. X. Jiang, Appl. Phys. Lett. 86, 091107 (2005).
12. S. L. Chuang and C. S. Chang, Appl. Phys. Lett. 68, 1657 (1995).
13. K. G. Gan, C. K. Sun, S. P. DenBaars, and J. E. Bowers, Appl. Phys. Lett. 84, 4675 (2004).
14. T. Aoki, Y. Nishikawa, and M. K. Gonokami, Appl. Phys. Lett. 78, 1065 (2001).
15. T. Onuma, A. Chakraborty, B. A. Haskell, S. Keller, S. P. DenBaars, J. S. Speck, S. Nakamura, U. K. Mishra, T. Sota, and S. F. Chichibu, Appl. Phys. Lett. 86, 151918 (2005).
16. S. Pereira, M. R. Correia, E. Pereira, C. Trager-Cowan, F. Sweeney, K. P. O'Donnell, E. Alves, N. Franco, and A. D. Sequeira, Appl. Phys. Lett. 81, 1207 (2002).
17. N. N. Ledentsov, I. L. Krestnikov, M. Straburg, R. Engelhardt, S. Rodta, R. Heitz, U. W. Pohl, A. Hoffmann, and D. Bimberg, Thin Solid Films 367, 40 (2000).
18. P. Jayavel, H. Tanaka, T. Kita, and O. Wada, Appl. Phys. Lett. 84, 1820 (2004).
19. E. Kuokstis, J. W. Yang, G. Simin, M. Asif Khan, R. Gaska, and M. S. Shur, Appl. Phys. Lett. 80, 977 (2002).