Orientation and bonding of thiophene and 2,2′-bithiophene on Ag(111): a combined near edge extended X-ray absorption fine structure and Xα scattered-wave study

Surface Science

Volumn 452, Issue 1-3, 2000, Pages 20-32

  Vaterlein P ^a   Schmelzer, M ^a   Taborski, J ^a   Krause, T ^a   Viczian, F ^a   Baßler M ^a   Fink, R ^a   Umbach, E ^a   Wurth, W ^b  

^a UNIVERSITY OF WÜRZBURG   (Germany)

^b TECHNICAL UNIVERSITY OF MUNICH   (Germany)

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ADSORPTION; AROMATIC COMPOUNDS; MONOLAYERS; POLYMERIZATION; SILVER; SPECTROSCOPY; TEMPERATURE PROGRAMMED DESORPTION; X RAY ANALYSIS;

BITHIOPHENE; NEAR EDGE EXTENDED X RAY ABSORPTION FINE STRUCTURE; THERMAL DESORPTION SPECTROSCOPY; THIOPHENE;

SURFACE STRUCTURE;

EID: 0037848452     PISSN: 00396028     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0039-6028(00)00292-2     Document Type: Article

References (48)

1. Garnier F., Hajlaoui R., Yassar A., Srivastava P. Science. 265:1994;1684.
2. Garnier F., Horowitz G., Peng X., Fichou D. Adv. Mater. 2:1990;592.
3. Geiger F., Stoldt M., Bäuerle P., Schweizer H., Umbach E. Adv. Mater. 5:1993;922.
4. Stoldt M., Bäuerle P., Schweizer H., Umbach E. Mol. Cryst. Liqu. Cryst. 240:1994;127.
5. Neureiter H., Gebauer W., Väterlein C., Sokowlowski M., Bäuerle P., Umbach E. Synth. Met. 67:1994;173.
6. Väterlein C., Ziegler B., Gebauer W., Neureiter H., Stoldt M., Weaver M.S., Bäuerle P., Sokolowski M., Bradley D.D.C., Umbach E. Synth. Met. 76:1996;133.
7. Li R., Bäuerle P., Umbach E. Surf. Sci. 331-333:1995;100.
8. Gebauer W., Väterlein C., Soukopp A., Sokolowski M., Umbach E. Thin Solid Films. 284-285:1996;576.
9. Gebauer W., Bäßler M., Soukopp A., Väterlein C., Fink R., Sokolowski M., Umbach E. Synth. Met. 83:1996;227.
10. Soukopp A., Seidel C., Li R., Bäßler M., Sokolowski M., Umbach E. Thin Solid Films. 284-285:1996;343.
11. Soukopp A., Glöckler K., Bäuerle P., Sokolowski M., Umbach E. Adv. Mater. 8:1996;902.
12. Seidel C., Soukopp A., Li R., Bäuerle P., Umbach E. Surf. Sci. 374:1997;17.
13. Soukopp A., Glöckler K., Kraft P., Schmitt S., Sokolowski M., Umbach E., Mena-Osteritz E., Bäuerle P., Hädicke E. Phys. Rev. B. 58:1998;13 882.
14. Gebauer W., Bäßler M., Fink R., Sokolowski M., Umbach E. Chem. Phys. Lett. 266:1997;177.
15. Umbach E., Gebauer W., Soukopp A., Bäßler M., Sokolowski M. J. Lumin. 76-77:1998;641.
16. Umbach E., Sokolowski M., Fink R. Appl. Phys. A. 63:1996;565.
17. Stöhr J., Outka D.A. Phys. Rev. B. 36:1987;7891.
18. Stöhr J. Gomer R. NEXAFS Spectroscopy. Springer Series in Surface Science. vol. 25:1992;Springer, Berlin.
19. Slater J.C. Adv. Quantum Chem. 6:1972;1.
20. Johnson K.H. Adv. Quantum Chem. 7:1973;143.
21. Slater J.C. Phys. Rev. 81:1951;385.
22. Horsley J.A., Stöhr J., Köstner R.J. J. Chem. Phys. 83:1985;3146.
23. Horsley J.A., Stöhr J., Hitchcock A.P., Newbury D.C., Johnson A.L., Sette F. J. Chem. Phys. 83:1985;6099.
24. Hitchcock A., Horsley J.A., Stöhr J. J. Chem. Phys. 85:1986;4835.
25. Lang J.F., Masel R.I. J. Vac. Sci. Technol. A. 5:1986;1104.
26. Lang J.F., Masel R.I. Surf. Sci. 183:1987;44.
27. Netzer F.P., Bertel E., Goldmann A. Surf. Sci. 201:1988;257.
28. Cocco R.A., Tatarchuck B.J. Surf. Sci. 218:1989;127.
29. Heise W.H., Tatarchuck B.J. Surf. Sci. 207:1989;297.
30. Gellmann A.J., Farias M.H., Salmeron M., Somorjai G.A. Surf. Sci. 136:1984;217.
31. Kelly D.G., Salmeron M., Somorjai G.A. Surf. Sci. 175:1986;465.
32. Sexton B.A. Surf. Sci. 163:1985;99.
33. Imanishi A., Yokohama T., Ohta T., Yagi S., Kitajima Y. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 80:1996;151.
34. Baumgartner K.M., Volmer-Uebing M., Taborski J., Bäuerle P., Umbach E. Ber. Bunsenges. Phys. Chem. 95:1991;1488.
35. Frank E.R., Chen X.X., Halmers R.J. Surf. Sci. 334:1995;L709.
36. Chen X., Frank E.R., Halmers R.J. J. Vac. Sci. Technol. B. 14:1996;1136.
37. Umbach E., Hussain Z. Phys. Rev. Lett. 52:1984;457.
38. Bak B., Christensen D., Rastrup-Andersen J., Tannenbaum E. J. Chem. Phys. 25:1956;892.
39. Visser G.J., Heeres G.J., Wolters J., Vos A. Acta Crystallogr. Sect. B. 24:1968;467.
40. Koller G., Netzer F.P., Ramsey M.G. Surf. Sci. 421:1999;353.
41. Väterlein P., Dietz H., Taborski J., Wurth W., Umbach E. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 78:1996;351.
42. Väterlein P., Fink R., Umbach E., Wurth W. J. Chem. Phys. 108:1998;3313.
43. Ramsey M.G., Koller G., Kardinal I., Netzer F.P. Surf. Sci. 352-354:1996;354.
44. Gelius U., Allan C.J., Johansson G., Siegbahn H., Allison D.A., Siegbahn K. Phys. Scr. 3:1971;237.
45. Ramsey M.G., Netzer F.P., Steimüller D., Steinmüller-Nethl D., Lloyd D.R. J. Chem. Phys. 97:1992;4489.
46. von Niessen W., Kraemer W.P., Cederbaum L.S. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 8:1976;179.
47. Väterlein P., Weiß M., Wüstenhagen V., Umbach E. Appl. Surf. Sci. 70:(71):1993;278.
48. M. Bäßler, Ph.D. Thesis, Universität Würzburg, 1997.