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Volumn 49, Issue 4, 2006, Pages 1477-1481

Hot carrier effect in low-temperature poly-Si TFTs with sputtered gate SiO2 films

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Hot carrier; Low temperature poly Si; SOI; Sputtered oxide; Thin film transistor

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EID: 33751035827     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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References (13)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.